[發(fā)明專利]使用雙能計(jì)算機(jī)斷層造影的多材料分解無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200910246611.3 | 申請(qǐng)日: | 2009-11-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101810490A | 公開(公告)日: | 2010-08-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | P·R·門唐卡;P·E·利卡托;R·博蒂卡;B·W·湯森 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 通用電氣公司 |
| 主分類號(hào): | A61B6/03 | 分類號(hào): | A61B6/03 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 王岳;蔣駿 |
| 地址: | 美國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 使用 計(jì)算機(jī) 斷層 造影 材料 分解 | ||
1.一種用于獲取多材料分解圖像的方法,所述方法包括步驟:
從成像對(duì)象的雙能計(jì)算機(jī)斷層造影掃描獲取圖像對(duì)(62);
選擇用于所述圖像對(duì)的多材料分解的材料基礎(chǔ)(64);
對(duì)所述材料基礎(chǔ)應(yīng)用物理化學(xué)模型(66);以及
使用所述物理化學(xué)模型所施加的至少一個(gè)約束執(zhí)行多材料分解(76)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其中所述圖像對(duì)包括材料-密度圖像對(duì)和能量圖像對(duì)之一。
3.如權(quán)利要求1或2所述的方法,進(jìn)一步包括根據(jù)所述圖像對(duì)中的每個(gè)體素的線性衰減曲線導(dǎo)出質(zhì)量衰減曲線的步驟(68)。
4.如權(quán)利要求3所述的方法,其中所述導(dǎo)出步驟包括與至少一個(gè)加權(quán)系數(shù)相乘,所述加權(quán)系數(shù)具有位于0和1之間的值。
5.如權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的方法,其中所述材料基礎(chǔ)包括在所述圖像對(duì)中發(fā)現(xiàn)的至少三種材料成分。
6.如權(quán)利要求1所述的方法,其中所述物理化學(xué)模型包括理想溶液,所述理想溶液在給定溫度和壓力下具有與物理化學(xué)混合中的成分材料在相同溫度和壓力下的體積相同的體積。
7.如權(quán)利要求1所述的方法,其中所述獲取圖像對(duì)的步驟包括步驟:
以第一能譜對(duì)所述對(duì)象進(jìn)行第一計(jì)算機(jī)斷層造影掃描;以及
以第二能譜對(duì)所述對(duì)象進(jìn)行第二計(jì)算機(jī)斷層造影掃描。
8.如權(quán)利要求1所述的方法,進(jìn)一步包括步驟:將所掃描的對(duì)象分解為兩種基礎(chǔ)材料以基于所述兩種基礎(chǔ)材料導(dǎo)出線性衰減曲線。
9.如權(quán)利要求1或2所述的方法,進(jìn)一步包括基于所掃描對(duì)象的材料構(gòu)成的特征的先驗(yàn)知識(shí)選擇調(diào)整函數(shù)(74)以提供約束的步驟。
10.如權(quán)利要求9所述的方法,其中所述調(diào)整函數(shù)(74)包括相關(guān)解剖結(jié)構(gòu)的材料構(gòu)成的共同特征的先驗(yàn)知識(shí)的函數(shù)。
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