[發明專利]梳狀贗像檢測裝置和梳狀贗像檢測方法

有效

• 申請號: 200910208090.2
• 申請日: 2009-10-27
• 公開（公告）號: CN101729841A
• 公開（公告）日: 2010-06-09
• 發明（設計）人: 松岡秀樹;浜野崇
• 申請（專利權）人: 富士通株式會社
• 主分類號: H04N7/01
• 分類號: H04N7/01;H04N5/44
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 李輝

1.一種梳狀贗像檢測裝置，該梳狀贗像檢測裝置包括：

特征值計算單元，其根據輸入圖像來計算特征值；

膠片模式檢測單元，其利用該特征值來檢測膠片模式；

像素差計算單元，其利用作為膠片模式檢測結果的2:3下拉次序檢 測信息和輸入圖像組合信息，來計算場間像素差；

亮度變化確定單元，其基于該像素差計算單元的計算結果來確定亮 度變化；

梳狀贗像候選檢測單元，其基于該亮度變化確定單元的確定結果， 針對每一行來檢測梳狀贗像候選；以及

梳狀贗像確定單元，其基于該梳狀贗像候選檢測單元的檢測結果， 針對每個圖像來確定是否出現了梳狀贗像。

2.根據權利要求1所述的梳狀贗像檢測裝置，其中，

所述像素差計算單元利用所述2:3下拉次序檢測信息和所述輸入圖 像組合信息，以像素為單位來計算相關輸入圖像之間的亮度絕對差；并 且

所述梳狀贗像候選檢測單元基于所述亮度絕對差超過閾值的連續像 素的組合，來檢測所述梳狀贗像候選。

3.根據權利要求2所述的梳狀贗像檢測裝置，其中，當單行上有預 定數量或更多個所述連續像素的組合時，所述梳狀贗像候選檢測單元確 定所述行為梳狀贗像候選行。

4.根據權利要求3所述的梳狀贗像檢測裝置，其中，當預定數量或 更多個行被確定為所述梳狀贗像候選行時，所述梳狀贗像確定單元確定 在所述輸入圖像中出現了梳狀贗像。

5.根據權利要求1至4中任一個所述的梳狀贗像檢測裝置，其中， 所述膠片模式檢測單元利用所述梳狀贗像的確定結果來檢測所述膠片模 式。

6.一種檢測梳狀贗像的方法，該方法包括以下步驟：

計算步驟，利用與連續輸入圖像有關的2:3下拉次序檢測信息和與 這些連續輸入圖像有關的組合信息，來計算相關輸入圖像之間的像素差；

檢測步驟，基于所述計算的結果，針對輸入圖像的每一行來檢測梳 狀贗像候選；以及

確定步驟，基于所述檢測的結果，針對每個輸入圖像來確定是否出 現了所述梳狀贗像。

7.根據權利要求6所述的方法，其中，

所述計算步驟包括利用所述2:3下拉次序檢測信息和所述組合信 息，以像素為單位來計算亮度的絕對差，并且

所述檢測步驟包括基于所述亮度的絕對差超過閾值的連續像素的組 合，來檢測所述梳狀贗像候選。

8.根據權利要求7所述的方法，其中，所述檢測步驟包括：當單行 上有預定數量或更多個所述連續像素的組合時，將所述行確定為梳狀贗 像候選行。

9.根據權利要求8所述的方法，其中，所述確定步驟包括：當預定 數量或更多個行被確定為所述梳狀贗像候選行時，確定在所述輸入圖像 中出現了梳狀贗像。

10.一種膠片模式檢測裝置，該膠片模式檢測裝置包括：

特征值計算單元，其根據輸入圖像來計算特征值；

膠片模式檢測單元，其利用該特征值來檢測膠片模式；

像素差計算單元，其利用作為膠片模式檢測結果的2:3下拉次序檢 測信息和輸入圖像組合信息，來計算場間像素差；

亮度變化確定單元，其基于該像素差計算單元的計算結果來確定亮 度變化；

梳狀贗像候選檢測單元，其基于該亮度變化確定單元的確定結果， 針對每一行來檢測梳狀贗像候選；以及

梳狀贗像確定單元，其基于該梳狀贗像候選檢測單元的檢測結果， 針對每個圖像來確定是否出現了梳狀贗像。

11.根據權利要求10所述的膠片模式檢測裝置，其中，所述膠片模 式檢測單元利用所述梳狀贗像的確定結果來檢測所述膠片模式。