[發明專利]LDMOS及其制造方法有效
| 申請號: | 200910201890.1 | 申請日: | 2009-12-03 |
| 公開(公告)號: | CN102088022A | 公開(公告)日: | 2011-06-08 |
| 發明(設計)人: | 張帥;董科 | 申請(專利權)人: | 上海華虹NEC電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/088 | 分類號: | H01L27/088;H01L29/78;H01L29/06;H01L21/8234;H01L21/336;H01L21/761 |
| 代理公司: | 上海浦一知識產權代理有限公司 31211 | 代理人: | 周赤 |
| 地址: | 201206 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | ldmos 及其 制造 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種LDMOS(laterally?diffused?MOS,橫向擴散MOS晶體管)器件。
背景技術
請參閱圖1,這是現有的LDMOS的剖面示意圖。在p型襯底10上具有n型埋層11,再往上則是n阱12。n阱12的深度通常大于2μm,也稱為深n阱。n阱12中有多個隔離區13,這些隔離區13將n阱12中的n阱171和p阱172相互隔離。n阱171中具有n型重摻雜區181,作為LDMOS器件的漏極。p阱172中具有n型重摻雜區182和p型重摻雜區183,兩者相連作為LDMOS器件的源極。n阱12之上具有柵氧化層13,再往上為柵極14,作為LDMOS器件的柵極。柵氧化層13和柵極14兩側具有側墻15。柵極14的下方包括隔離區13、n阱12和p阱172三個部分。
上述LDMOS的漂移區由n阱12和n阱171共同組成。但是n阱171的結構可以省略,此時漂移區則只由n阱12所組成。增加n阱171有利于提高LDMOS器件的擊穿電壓。
上述LDMOS中,將各部分結構的摻雜類型變為相反,也是可行的。圖1所示的LDMOS為對稱結構,實際器件并不要求一定為對稱結構。
上述LDMOS中,漏端181和襯底10之間只有一個PN結隔離,所述PN結的P區為p型襯底10,N區為n型埋層11、n阱12、n阱171和n型重摻雜區181。在感性負載和某些特殊應用下,漏端181的電位可能低于零電位,而襯底10始終為零電位,此時漏端181和襯底10之間的所述PN結會正向導通,這會導致LDMOS器件出現漏電。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是提供一種LDMOS器件,杜絕了漏端和襯底之間可能會導通的問題。
為解決上述技術問題,本發明LDMOS在襯底10上具有埋層11,再往上則是外延層20;外延層20中有多個隔離區13,這些隔離區13將外延層20中的阱12、阱171和阱172相互隔離;阱12的底部與埋層11相接觸;阱12中具有阱173;阱173中具有重摻雜區184;阱171中具有重摻雜區181,作為LDMOS器件的漏極;阱172中具有重摻雜區182和重摻雜區183,兩者相連作為LDMOS器件的源極;阱12之上具有柵氧化層13,再往上為柵極14,作為LDMOS器件的柵極;柵氧化層13和柵極14兩側具有側墻15;柵極14的下方包括隔離區13、n阱171、外延層20和阱172四個部分。
上述LDMOS中,襯底10、外延層20、阱172、重摻雜區183為p型;埋層11、阱12、阱171、重摻雜區181、重摻雜區182、重摻雜區184為n型。
或者,上述LDMOS中,襯底10、外延層20、阱172、重摻雜區183為n型;埋層11、阱12、阱171、重摻雜區181、重摻雜區182、重摻雜區184為p型。
上述LDMOS的制造方法包括如下步驟:
第1步,在p型襯底10中以離子注入工藝形成n型埋層11;
第2步,在n型埋層11之上以外延工藝生長一層p型外延層20;
第3步,在p型外延層20中以離子注入工藝形成n阱12;
第4步,在p型外延層20中形成多個隔離區13;
第5步,在p型外延層20中以離子注入工藝形成n阱171,同時在n阱12中形成n阱173;
第6步,在硅片表面形成柵氧化層14、柵極15;
第7步,在p型外延層20中以離子注入工藝形成p阱172;
第8步,在硅片表面形成側墻16;
第9步,在n阱171中以離子注入工藝形成n型重摻雜區181,同時在p阱172中形成n型重摻雜區182,同時在n阱173中形成n型重摻雜區184;
在p阱172中以離子注入工藝形成p型重摻雜區183。
上述方法中,各步驟離子注入類型相反,所形成的各部分結構的摻雜類型相反,也是可行的。
本發明LDMOS中,漏端181和襯底之間有兩個PN結隔離。第一個PN結的P區為p型襯底10,N區為n型埋層11。第二個PN結的P區為p型外延層20,N區為n阱171和n型重摻雜區181。并且LDMOS器件周圍由隔離環進行隔離,所述隔離環由n型重摻雜區184、n阱173和n阱12所組成。這便完全杜絕了感性負載和某些特殊應用下,漏端181和襯底10之間可能會導通的問題。
附圖說明
圖1是現有的LDMOS的剖面示意圖;
圖2是本發明LDMOS的剖面示意圖。
圖中附圖標記說明:
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