[發明專利]一種電路掉電保護裝置及保護方法

有效

• 申請號: 200910180334.0
• 申請日: 2009-10-26
• 公開（公告）號: CN101667748A
• 公開（公告）日: 2010-03-10
• 發明（設計）人: 余竹偉
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: H02J9/06
• 分類號: H02J9/06;H02J7/00;G01R19/165
• 代理公司: 信息產業部電子專利中心
• 代理人: 吳永亮

技術領域

本發明涉及電路領域，特別是涉及一種電路掉電保護裝置及保護方法。

背景技術

隨著電子行業的快速發展，存儲設備的使用越來越廣泛。在使用過程中其 數據的讀寫通常是以文件的方式進行，而不是直接對存儲單元地址進行操作 的。在突發的掉電時，如果沒有得到有效保護，傳輸過程中的數據將被永久丟 失，對設備安全造成毀滅性的災難。因此，目前大部分存儲設備都會在電路設 計上增加冗余設計的掉電保護電路。

掉電保護是現在高可靠系統中大量采用的一項技術，在供電系統異常掉電 時，對內存中的數據和信息起一定時間的保護作用，避免了數據和信息的丟失。 現有的掉電保護電路采用充電電池作為后備電源。實現方法如圖1所示，在系 統正常工作時，給BBU(Backup?Battery?Unit，電池備用單元)進行有效充電。 在內存和內存控制器供電的主電源突然掉電時，通過相關的掉電檢測電路讓內 存進入自刷新模式，此時由BBU給內存持續供電。該BBU為內存持續供電的 時間取決于電池容量以及內存在自刷新模式下的工作電流。

上述現有技術至少存在以下三個問題：

第一、對于存儲容量較大的內存，其自刷新模式工作電流比較大，導致 BBU中存儲的電能消耗較快。為了滿足足夠的保護時間，需要不斷擴充BBU 的容量。

第二、充電電路復雜、成本高、充電速度慢、效率低、體積大、備用電池 壽命短等缺點。

第三、由于系統掉電后，BBU只對內存持續供電，因此該方法只能保護內 存中的數據，無法對內存控制器中緩存內的數據或者配置寄存器的信息進行有 效保護。

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種電路掉電保護裝置及保護方法，用以 解決現有技術中的掉電保護電路復雜、效率低的問題。

為解決上述技術問題，一方面，本發明提供一種電路掉電保護裝置，所述 裝置包括：

掉電檢測電路，與待檢測電路連接，用于檢測所述待檢測電路是否掉電；

充電電路，與所述掉電檢測電路連接，用于存儲電能；

放電電路，分別與所述充電電路和待檢測電路連接，用于在所述待檢測電 路掉電時，對所述待檢測電路供電。

進一步，所述放電電路包括：電源處理器，所述電源處理器的電源管腳依 次串聯有電感L1和電容C1。

進一步，所述電感L1和電容C1之間設置有二極管VD1。

進一步，所述電感L1遠離所述電源處理器的一端連接有二極管VD2，所 述二極管VD2的另一端與所述待檢測電路連接。

進一步，電容C6、C7并聯后，一端與所述二極管VD2遠離電感L1的一 端連接，另一端接地。

進一步，電容C3、C4并聯后，一端與所述電容C1遠離電感L1的一端連 接，另一端接地。

進一步，所述裝置還包括充電開關電路，所述充電開關電路具體為：

電阻R1的一端與三極管的集電極連接，另一端分別與電阻R2和所述三 極管的基極連接，所述電阻R2的另一端與脈沖寬度調制器件連接，所述三極 管的發射極與所述電源處理器連接。

進一步，所述掉電檢測電路包括：掉電檢測處理器，所述掉電檢測處理器 的輸入端與所述待檢測電路連接，輸出端與所述三極管的集電極連接。

進一步，所述掉電檢測處理器的輸入端通過電阻R8與所述檢測電路連接， 輸出端通過二極管VD3與所述三極管的集電極連接。

另一方面，本發明還提供一種電路掉電保護方法，所述方法包括以下步驟：

S101，判斷對充電電路進行充電是否有效，若有效，則對所述充電電路進 行充電；若無效，則對充電開關電路進行復位；

S102，判斷所述充電電路的充電電壓是否達到設定閾值，如果是，則轉 S103，如果否，則繼續對所述充電電路進行充電；

S103，檢測待檢測電路，當判定待檢測電路掉電時，進一步判斷放電電路 放電是否有效，如果是，則由放電電路進行供電；如果否，則放電使能復位； 當判定待檢測電路未掉電時，則繼續檢測待檢測電路。

本發明有益效果如下：