[發明專利]以太網前向糾錯層接收的數據流的幀邊界檢測和同步系統

有效

• 申請號: 200910177335.X
• 申請日: 2009-09-30
• 公開（公告）號: CN102035616A
• 公開（公告）日: 2011-04-27
• 發明（設計）人: 林一帆;劉洋;何寅;楊浩
• 申請（專利權）人: 國際商業機器公司
• 主分類號: H04L1/00
• 分類號: H04L1/00;H04L29/08
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 邸萬奎

1.一種用于以太網前向糾錯層接收的數據流的幀邊界檢測系統，該系統包括：

移位器，用于從數據流截取一幀又A個比特的數據，其中A個比特小于一幀的長度，且A為正整數；

兩個解擾器，第一解擾器對所述一幀又A個比特數據的從第一比特位開始的一幀數據進行解擾操作，第二解擾器對所述一幀又A個比特數據的從第A+1個比特位開始的一幀數據進行解擾操作；

校正子產生器，用于對該第一解擾器解擾后的數據進行第一FEC校驗；

錯誤診斷器，該錯誤診斷器包括大小端模式控制器，用于控制錯誤診斷器的大小端轉換，如果該錯誤診斷器工作在大端模式下，所述錯誤診斷器用于對該第二解擾器解擾后的數據進行第二FEC校驗；

其中如果所述第一FEC校驗正確，則所述一幀又A個比特數據的第一比特為幀起始位置；如果所述第二FEC校驗正確，則所述一幀又A個比特數據的第A+1比特為幀起始位置。

2.根據權利要求1所述的幀邊界檢測系統，其中，A不等于1，并且如果所述第一和所述第二FEC校驗都不正確，移位器以所述一幀又A個比特數據的第一個數據開始，后移二幀又一比特，重新截取一幀又A個比特長度的數據，進行解擾和FEC校驗。

3.根據權利要求1所述的幀邊界檢測系統，其中，A等于1，并且如果所述第一和所述第二FEC校驗都不正確，移位器以所述一幀又A個比特數據的第一個數據開始，后移二幀又兩比特，重新截取一幀又A個比特長度的數據，進行解擾和FEC校驗。

4.根據權利要求2或3所述的幀邊界檢測系統，其中還包括PN-2112發生器，用于產生PN2112序列，所述兩個解擾器都是利用PN-2112發生器生成的PN2112序列進行解擾操作。

5.根據權利要求2或3所述的幀邊界檢測系統，其中所述第一和第二FEC校驗為對g(x)的取模運算，其中，g(x)為前向糾錯的生成多項式，得到的余數即為校正子，如果校正子為0，則FEC校驗正確。

6.根據權利要求5所述的幀邊界檢測系統，其中所述錯誤診斷器還包括：

32階的線性反饋移位寄存器，由32個寄存器、31個異或門、以及31個與門組成，每個與門的輸入分別為寄存器的最低位D0和對應位置x的生成多項式g(x)的系數g_x，所述每個與門的輸出又與高位寄存器的輸出進行異或操作后送入低位寄存器，所述寄存器的最高位為D31；

32個選擇器，用于所述錯誤診斷器在大端模式下，屏蔽所述校正子產生器產生的校正子；

其中，所述大小端模式控制器包括：

31個雙模系數發生器，用于選擇在不同工作模式下與門輸入系數的值；

一個選擇器和一個異或門，位于最高位寄存器D31的輸入前，用于選擇將D0的值或者是D0與所述接收的一幀加A個比特數據的從第A+1個比特位開始的一幀數據進行異或操作后的值送入D31，所述選擇器的控制端由“模式控制”信號控制，如果“模式控制”信號為大端模式，選擇D0與所述接收的一幀加A個比特數據的從第A+1個比特位開始的一幀數據進行異或操作后的值輸出到所述選擇器，如果“模式控制”信號為小端模式，選擇D0的值輸出到所述選擇器。

7.根據權利要求6所述的幀邊界檢測系統，其中所述雙模系數發生器為選擇器，所述選擇器的控制端由“模式控制”信號控制，如果“模式控制”信號指示為大端模式，選擇g_32-x輸入到所述每個與門，其中，g_32-x為對應位置32-x的生成多項式g(x)的系數g_32-x，如果“模式控制”信號指示為小端模式，選擇g_x輸入到所述每個與門。

8.根據權利要求6所述的幀邊界檢測系統，其中所述雙模系數發生器根據前向糾錯生成多項式g(x)的系數選擇，如果對應位置x的生成多項式g(x)的系數g_x和對應位置32-x的生成多項式g(x)的系數g_32-x相等，g_x輸入到所述每個與門，否則，g_x與“模式控制”信號進行異或操作后輸入到所述每個與門。

9.根據權利要求7或8所述的幀邊界檢測系統，其中還包括同步控制器，用于產生“模式控制”信號，該信號在幀邊界未檢測到之前，指示為大端模式。