[發(fā)明專利]光學(xué)設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910177194.1
• 申請日: 2009-09-28
• 公開（公告）號: CN101713859A
• 公開（公告）日: 2010-05-26
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 鷲巢晃一
• 申請（專利權(quán)）人: 佳能株式會社
• 主分類號: G02B7/04
• 分類號: G02B7/04;G02B7/08
• 代理公司: 北京林達(dá)劉知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 11277
• 代理人: 劉新宇;陳立航

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及光學(xué)設(shè)備，尤其涉及能夠穩(wěn)定地進(jìn)行高速鏡頭 驅(qū)動的光學(xué)設(shè)備。

背景技術(shù)

作為高速且低噪聲地移動鏡頭以進(jìn)行調(diào)焦的技術(shù)，如在日 本特開平5-066336中所公開的，已知將永磁體布置在鏡頭側(cè)并 且將線圈布置在固定部側(cè)從而通過直接驅(qū)動來驅(qū)動鏡頭的技 術(shù)。在該技術(shù)中，由引導(dǎo)軸沿著光軸引導(dǎo)鏡頭，并且鏡頭架在 引導(dǎo)軸上滑動，以沿光軸方向進(jìn)行鏡頭驅(qū)動。

然而，在這種結(jié)構(gòu)中，由于引導(dǎo)軸上的滑動摩擦，不能夠 進(jìn)行高速鏡頭驅(qū)動。此外，存在由滑動摩擦產(chǎn)生了滑動噪聲等 的問題。

為了解決該問題，作為用于進(jìn)行高速調(diào)焦的鏡頭驅(qū)動方法， 如在日本特開平7-248522中所公開的，已經(jīng)提出了使鏡頭電磁 懸浮以沿光軸方向電磁驅(qū)動該鏡頭的建議。

在日本特開平7-248522中公開的光學(xué)設(shè)備在無需設(shè)置滑動 部的情況下進(jìn)行鏡頭驅(qū)動。因此，能夠進(jìn)行高速調(diào)焦。

然而，由于利用電磁力來浮動支撐該光學(xué)設(shè)備的鏡頭，因 此在除線圈沿光軸方向最終接觸磁體的位置以外的鏡頭位置 處，鏡頭相對于光軸的傾斜不穩(wěn)定。例如，鏡頭的傾斜可以根 據(jù)依賴于照相機(jī)姿勢的重力的變化而變化。此外，存在鏡頭因 該鏡頭在調(diào)焦操作期間的行為而傾斜的可能性。

在使用TV-AF方法(對比度檢測方法)的光學(xué)設(shè)備中，作為 用于檢測被攝體的前焦點(diǎn)和后焦點(diǎn)的方法，使用了稱為顫動 (wobbling)的方法。在該顫動方法中，使鏡頭沿光軸方向以高頻 率振動以評價在各位置處所獲得的圖像，從而基于各圖像的調(diào) 焦?fàn)顟B(tài)判斷是前焦點(diǎn)還是后焦點(diǎn)。在這種情況下，由于鏡頭高 速振動，因此鏡頭根據(jù)振動模式容易傾斜，并且存在進(jìn)行了錯 誤圖像評價的可能性。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供了一種能夠穩(wěn)定地實(shí)現(xiàn)高速鏡頭驅(qū)動的光學(xué)設(shè) 備。

作為本發(fā)明的一個方面，一種光學(xué)設(shè)備包括：移動架，用 于保持鏡頭和攝像裝置之一，并且能夠沿攝像光軸方向移動； 多個檢測器，其布置在所述移動架和攝像設(shè)備內(nèi)部的固定部中 的一方上，并用于檢測與到另一方的距離相對應(yīng)的信號，所述 多個檢測器均用于檢測在所述攝像光軸方向上的位移；以及多 個驅(qū)動器，用于沿所述攝像光軸方向驅(qū)動所述移動架。

根據(jù)以下參考附圖對典型實(shí)施例的說明，本發(fā)明的其它特 征和方面將變得明顯。

附圖說明

圖1是實(shí)施例1中的光學(xué)設(shè)備的平面圖。

圖2是實(shí)施例1中的光學(xué)設(shè)備的橫截面圖。

圖3是實(shí)施例1中的光學(xué)設(shè)備的平面圖。

圖4是示出實(shí)施例1的光學(xué)設(shè)備中的支撐部和設(shè)置在該支撐 部處的各組件的平面圖。

圖5是示出實(shí)施例1的光學(xué)設(shè)備中的鏡頭架的背面的平面 圖。

圖6是實(shí)施例1的光學(xué)設(shè)備中的光軸方向驅(qū)動器和光軸方向 位置檢測器的放大橫截面圖。

圖7是實(shí)施例1的光學(xué)設(shè)備中的阻尼器構(gòu)件(阻尼器)和阻尼 器銷的進(jìn)一步放大橫截面圖。

圖8是說明實(shí)施例1的光學(xué)設(shè)備中的阻尼器的效果的頻率特 性圖。

圖9是說明實(shí)施例1的光學(xué)設(shè)備中的光軸方向位置檢測器的 校準(zhǔn)方法的圖。

圖10是說明實(shí)施例1的光學(xué)設(shè)備中的光軸方向位置檢測器 的校準(zhǔn)方法的圖。

圖11是說明實(shí)施例1的光學(xué)設(shè)備中的光軸方向位置檢測器 的校準(zhǔn)方法的圖。

圖12是安裝了實(shí)施例1的光學(xué)設(shè)備的攝像設(shè)備的橫截面圖。

圖13是實(shí)施例1中的光學(xué)設(shè)備的框圖。

圖14是說明實(shí)施例1中的光學(xué)設(shè)備的動作的流程圖。

圖15是實(shí)施例2中的光學(xué)設(shè)備的平面圖。

圖16是實(shí)施例2中的光學(xué)設(shè)備的橫截面圖。

圖17是安裝了實(shí)施例2的光學(xué)設(shè)備的攝像設(shè)備的橫截面圖。

圖18是實(shí)施例2中的光學(xué)設(shè)備的框圖。

圖19是說明實(shí)施例2中的光學(xué)設(shè)備的動作的流程圖。

圖20是實(shí)施例3中的光學(xué)設(shè)備的平面圖。

圖21是實(shí)施例3中的光學(xué)設(shè)備的橫截面圖。

圖22是示出實(shí)施例3的光學(xué)設(shè)備中的線圈保持件的背面的 平面圖。

圖23是實(shí)施例3中的光學(xué)設(shè)備的框圖。

圖24是說明實(shí)施例3中的光學(xué)設(shè)備的動作的流程圖。