[發明專利]光學式快速檢測試劑分析儀

有效

• 申請號: 200910176980.X
• 申請日: 2009-09-25
• 公開（公告）號: CN101650313A
• 公開（公告）日: 2010-02-17
• 發明（設計）人: 莊琮凱;莊建和;王建華
• 申請（專利權）人: 開物科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/78
• 分類號: G01N21/78
• 代理公司: 北京高默克知識產權代理有限公司
• 代理人: 初學平

1.一種光學式快速檢測試劑分析儀，是搭配一載放呈色芯片的載具，其特征在于：包括：

主體，具有一底座以及一組合于該底座而形成內部容置空間的上蓋；

成像單元，設置于該主體的內部容置空間中；

光學反射單元，以一可反射呈色芯片影像至該成像單元的角度設置于該主體的內部容置空間中，并以一符合成像焦距的距離相鄰于該成像單元；

移動模塊，可往復移動地設置于該主體的內部容置空間中并位于該光學反射單元下方的位置，其具有一放置該載具的移載座體。

2.如權利要求1所述之光學式快速檢測試劑分析儀，其特征在于：更包括兩分別設于該主體的內部容置空間兩側的成像單元固定柱體以及一設置于該兩成像單元固定柱體上的成像單元設置架，該成像單元設置于該成像單元設置架之上。

3.如權利要求2所述之光學式快速檢測試劑分析儀，其特征在于：更包括兩分別設于該主體的內部容置空間兩側并與該兩成像單元固定柱體等高的光學反射單元固定柱體以及一設置于該兩光學反射單元固定柱體上的光學反射單元設置架，該光學反射單元系設置于該光學反射單元設置架之上。

4.如權利要求3所述之光學式快速檢測試劑分析儀，其特征在于：其中該移動模塊更包括一設置于該兩光學反射單元固定柱體之間并連結于該移載座體的滑軌、一連結于該移載座體并移動于該滑軌的移動齒輪以及一設置于該移載座體下方并嚙合于該移動齒輪的齒條。

5.如權利要求1或4所述之光學式快速檢測試劑分析儀，其特征在于：其中該光學反射單元為一平面鏡。

6.如權利要求1或4所述之光學式快速檢測試劑分析儀，其特征在于：其中該成像單元為光電二極管(photo?diode)、金氧互補式半導體(CMOS)或電荷耦合組件(CCD)。

7.如權利要求5所述之光學式快速檢測試劑分析儀，其特征在于：其中該成像單元為光電二極管(photo?diode)、金氧互補式半導體(CMOS)或電荷耦合組件(CCD)。