[發明專利]微致動器校正方法

無效

• 申請號: 200910174639.0
• 申請日: 2009-09-21
• 公開（公告）號: CN102024465A
• 公開（公告）日: 2011-04-20
• 發明（設計）人: 蘇怡賓;郭起祥
• 申請（專利權）人: 廣明光電股份有限公司
• 主分類號: G11B7/08
• 分類號: G11B7/08;G11B7/09
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 史新宏

1.一種微致動器校正方法，包含步驟：

(1)設定參考反射面，面對微致動器；

(2)該微致動器的物鏡在循軌方向移動數個校正位置，一一進行聚焦行程，并記錄平移電壓與聚焦電壓；

(3)設定一校正位置的聚焦電壓為基準聚焦電壓，計算其它校正位置聚焦電壓對該基準聚焦電壓的偏移量；以及

(4)利用各校正位置的偏移量及平移電壓，適應出聚焦電壓偏移曲線。

2.如權利要求1所述的微致動器校正方法，其中該參考反射面為光盤片的數據層。

3.如權利要求1所述的微致動器校正方法，其中該物鏡是在該微致動器中循軌方向的移動范圍內，移動數個校正位置。

4.如權利要求3所述的微致動器校正方法，其中該校正位置包含該物鏡位于該微致動器中央的位置，且該基準聚焦電壓以該物鏡位于該微致動器中央，平移電壓＝0的聚焦電壓設定。

5.如權利要求1所述的微致動器校正方法，其中該校正方法是在開回路下進行。

6.如權利要求1所述的微致動器校正方法，其中該校正方法是在閉回路下進行。

7.如權利要求1所述的微致動器校正方法，其中該聚焦電壓偏移曲線，可根據該物鏡在該微致動器中循軌方向移動的平移電壓，計算聚焦電壓的偏移量，補償物鏡在聚焦方向的電壓。

8.如權利要求7所述的微致動器校正方法，其中該物鏡的聚焦電壓偏移的偏移量，是由該聚焦電壓偏移曲線內插或外插取得。

9.如權利要求1所述的微致動器校正方法，其中該微致動器校正打印卷標的聚焦電壓時，在步驟(4)后進一步包含步驟：

(4-1)將標簽面對著該物鏡，開始進行打印標簽；

(4-2)根據該卷標面的打印位置，由該卷標面的聚焦電壓電平曲線，計算相對的聚焦電壓電平；

(4-3)根據該微致動器移動該物鏡對正該打印位置的平移電壓，由該聚焦電壓偏移曲線，計算該打印位置的聚焦電壓偏移量；以及

(4-4)將該打印位置的聚焦電壓電平加上該聚焦電壓偏移量，補償聚焦電壓電平，以打印標簽。

10.如權利要求9所述的微致動器校正方法，其中該聚焦電壓電平曲線是預先測試出，作為該微致動器在聚焦方向移動該物鏡聚焦的電壓目標。

11.如權利要求9所述的微致動器校正方法，其中該參考反射面為光盤片的卷標面。

12.如權利要求1所述的微致動器校正方法，其中該微致動器校在聚焦方向不同焦點高度的聚焦電壓V的偏移量ΔV，根據所在的平移電壓由聚焦電壓偏移曲線內插或外插取得聚焦電壓偏移量ΔFv，利用聚焦電壓V與基準聚焦電壓Fv0大小比例關系，計算偏移量ΔV＝(Fv0/V)×ΔFv。

13.一種微致動器校正方法，包含步驟：

(1)設定數個不同高度的參考反射面，面對微致動器；

(2)分別對該每一參考反射面，以該微致動器的物鏡在循軌方向移動數個校正位置，一一進行聚焦行程，并記錄平移電壓與聚焦電壓；

(3)對該每一參考反射面，設定一校正位置的聚焦電壓為基準聚焦電壓，計算該每一參考反射面其它校正位置聚焦電壓對該基準聚焦電壓的偏移量；以及

(4)利用各校正位置不同高度參考反射面的偏移量及平移電壓，適應出聚焦電壓偏移曲面。

14.如權利要求13所述的微致動器校正方法，其中該物鏡是在該微致動器中循軌方向的移動范圍內，移動數個校正位置。

15.如權利要求14所述的微致動器校正方法，其中該校正位置對該每一參考反射面，包含該物鏡位于該微致動器中央的位置，且該基準聚焦電壓以該物鏡位于該微致動器中央，平移電壓＝0的聚焦電壓設定。

16.如權利要求13所述的微致動器校正方法，其中該步驟(4)不同高度參考反射面，以相對的基準聚焦電壓取代，適應出聚焦電壓偏移曲面。