[發(fā)明專利]應(yīng)用硬化劑對(duì)應(yīng)變材料層的松弛有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200910172880.X | 申請(qǐng)日: | 2009-09-07 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101714505A | 公開(kāi)(公告)日: | 2010-05-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 奧列格·科農(nóng)丘克 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 硅絕緣體技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/02 | 分類號(hào): | H01L21/02;H01L21/20 |
| 代理公司: | 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 李輝 |
| 地址: | 法國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 法國(guó);FR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 應(yīng)用 硬化劑 應(yīng)變 材料 松弛 | ||
1.一種制造用于電子裝置的至少部分松弛的材料層(5,5a,5b) 的方法,所述方法包括以下步驟:
提供結(jié)構(gòu)(10),所述結(jié)構(gòu)(10)包括支承襯底(1)和應(yīng)變材料層 (3,3a,3b),回流層(2,2a,2b)位于所述支承襯底(1)上,所述 應(yīng)變材料層(3,3a,3b)位于所述回流層(2,2a,2b)與硬化劑層(4, 4a,4b)之間,
施加熱處理,所述熱處理使所述回流層(2,2a,2b)到達(dá)等于或大 于所述回流層(2,2a,2b)的玻璃轉(zhuǎn)化溫度的溫度,
其特征在于,所述方法包括在施加所述熱處理期間,逐漸減小所述 硬化劑層(4,4a,4b)的厚度,
所述方法還包括在施加所述熱處理之前,在所述應(yīng)變材料層(3)中 形成島(3a,3b),并且
在所述回流層(2)的至少一部分厚度中形成與所述島(3a,3b)對(duì) 齊的圖案(2a,2b)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,對(duì)整個(gè)所述結(jié)構(gòu)(10) 施加所述熱處理,并且通過(guò)干法刻蝕,來(lái)執(zhí)行減小所述硬化劑層(4,4a, 4b)的厚度的步驟。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述干法刻蝕是氣相 化學(xué)反應(yīng)刻蝕。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述島(3a,3b)通 過(guò)刻蝕或者電磁輻射來(lái)形成。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述應(yīng)變材料層(3, 3a,3b)是通過(guò)以下連續(xù)步驟形成的:
a)在成核襯底(11)上淀積單晶或多晶的應(yīng)變材料層(3,3a,3b),
b)通過(guò)所述回流層(2,2a,2b)組合所述應(yīng)變材料層(3,3a,3b) 和所述支承襯底(1),
c)形成所述硬化劑層(4,4a,4b)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,對(duì)所述成核襯底(11) 執(zhí)行部分去除,以形成所述成核襯底(11)的剩余部分(14,14a,14b), 并且所述硬化劑層(4,4a,4b)至少部分由所述成核襯底(11)的所述 剩余部分(14,14a,14b)形成。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,對(duì)所述成核襯底(11) 執(zhí)行完全去除,并且通過(guò)在所述應(yīng)變材料層(3,3a,3b)上進(jìn)行淀積來(lái) 形成所述硬化劑層(4,4a,4b)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的方法,其特征在于,所述成核襯底(11) 是通過(guò)分離處理去除的。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,減小所述硬化劑層(4, 4a,4b)的厚度,直到完全去除了所述硬化劑層(4,4a,4b)為止,并 且在完全去除了所述硬化劑層(4,4a,4b)之后,繼續(xù)施加所述熱處理。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述硬化劑層(4, 4a,4b)是多晶硅、鍺或III/N材料。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述應(yīng)變材料層(3, 3a,3b)是單晶III/N材料。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其特征在于,所述應(yīng)變材料層(3, 3a,3b)是InGaN。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述硬化劑層(4, 4a,4b)是GaN,所述應(yīng)變材料層(3,3a,3b)是InGaN,并且在包括 HCL的氣氛中執(zhí)行刻蝕所述硬化劑層(4,4a,4b)的步驟。
14.一種制造半導(dǎo)體器件的方法,所述方法包括提供至少部分松弛 的材料層(5,5a,5b),所述至少部分松弛的材料層(5,5a,5b)是通 過(guò)根據(jù)前述權(quán)利要求中的任何一項(xiàng)所述的方法來(lái)獲得的,其特征在于, 所述方法還包括在所述至少部分松弛的材料層(5,5a,5b)上形成至少 一個(gè)有源層(6,6a,6b)。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法,其特征在于,所述有源層(6, 6a,6b)是激光部件、光伏部件或電致發(fā)光二極管的有源層。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 在線應(yīng)用平臺(tái)上應(yīng)用間通信的回調(diào)應(yīng)答方法、應(yīng)用及在線應(yīng)用平臺(tái)
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