[發(fā)明專利]仿真裝置以及仿真方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910170506.6 | 申請日: | 2009-09-04 |
| 公開(公告)號: | CN101667243A | 公開(公告)日: | 2010-03-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 原敦雄;山城尚志 | 申請(專利權(quán))人: | 富士通株式會社 |
| 主分類號: | G06K7/00 | 分類號: | G06K7/00 |
| 代理公司: | 隆天國際知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 姜 燕;陳 晨 |
| 地址: | 日本神奈*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 仿真 裝置 以及 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明的實(shí)施例涉及一種對無線電波強(qiáng)度進(jìn)行評估的仿真裝置以及仿 真方法。
特別地,所述的實(shí)施例涉及一種能夠?qū)o線電波的傳播特性進(jìn)行評估的 仿真裝置以及仿真方法。
背景技術(shù)
目前,無線標(biāo)簽被廣泛使用。無線標(biāo)簽包括RFID(射頻識別)標(biāo)簽、IC 標(biāo)簽及其它標(biāo)簽。特別地,無內(nèi)置電池的無源RFID標(biāo)簽使用弱無線電波與 閱讀器/寫入器通信,因此易于受到所使用的無線電波狀態(tài)的影響。因此,無 源RFID標(biāo)簽難以根據(jù)標(biāo)簽周圍的環(huán)境表現(xiàn)出規(guī)定的性能。因此,在系統(tǒng)使 用無源RFID標(biāo)簽時(shí),預(yù)先評估RFID標(biāo)簽在實(shí)際使用該標(biāo)簽的環(huán)境中的無 線電波特性是很重要的。
作為對RFID標(biāo)簽的無線電波特性進(jìn)行評估的一種技術(shù),人們關(guān)注于射 線跟蹤法(ray-tracing?method)。該射線跟蹤法是一種通過計(jì)算從發(fā)射點(diǎn)發(fā) 出的光射線被多次反射、散射并通過周圍結(jié)構(gòu)傳送以最終到達(dá)接收點(diǎn)所沿循 的路徑來對光射線的傳播特性進(jìn)行估算(estimate)的技術(shù)。射線跟蹤法還可 以通過將無線電波作為光射線來估算無線電波的傳播特性。獲得無線電波的 傳播特性的典型的矩法(moment?method)是用于評估無線電波的傳播特性 的技術(shù),并且使用這種方法可以獲得準(zhǔn)確率高的評估結(jié)果。但是,在該方法 中需要大量的計(jì)算。另一方面,在射線跟蹤方法中,只需要相對少量的數(shù)學(xué) 運(yùn)算。
作為一種已經(jīng)提出的射線跟蹤法,在Hirohito?Sugawara和Takashi?Ono 發(fā)表于由Nihon?Denki?K.K.發(fā)行的“NEC?Technology(2006,第59卷,第 112-115頁)”中一篇標(biāo)題為“Reading?Rate?Simulator?for?Increasing?Efficiency of?Design?Work?Upon?Introduction?of?UHF?Band?RFID(RADIOSCAPE-RFID)” 的論文中作了描述。
發(fā)明內(nèi)容
一種評估無線電波強(qiáng)度的仿真方法,包括:估算到達(dá)無線標(biāo)簽的天線的 無線電波的接收功率,其中該無線標(biāo)簽包括與所述天線連接的IC芯片;計(jì) 算部計(jì)算用于將所述無線標(biāo)簽的天線的阻抗與所述無線標(biāo)簽的IC芯片的阻 抗進(jìn)行匹配的阻抗匹配系數(shù);以及使用所計(jì)算的阻抗匹配系數(shù)來調(diào)節(jié)所估算 的接收功率。
本文討論的實(shí)施例的一個(gè)方案是提供一種仿真裝置。對無線電波強(qiáng)度進(jìn) 行評估的仿真裝置包括:射線跟蹤部,估算到達(dá)無線標(biāo)簽的天線的無線電波 的接收功率,該無線標(biāo)簽包括與所述天線連接的IC芯片;匹配系數(shù)計(jì)算部, 計(jì)算用于將所述無線標(biāo)簽的天線的阻抗與所述無線標(biāo)簽的IC芯片的阻抗進(jìn) 行匹配的阻抗匹配系數(shù);以及調(diào)節(jié)部,使用所述匹配系數(shù)計(jì)算部中計(jì)算的阻 抗匹配系數(shù)來調(diào)節(jié)在所述射線跟蹤部中估算的接收功率。
通過在權(quán)利要求書中具體指出的元件和組合,將實(shí)現(xiàn)和獲得本發(fā)明實(shí)施 例的目的和優(yōu)點(diǎn)。
應(yīng)當(dāng)理解,本發(fā)明的前述概括描述和下述具體描述這兩者都僅是示例性 的和說明性的,而不是用于限制本發(fā)明,本發(fā)明的范圍由所附的權(quán)利要求來 定義。
在以下的說明書中,將闡述本發(fā)明的其它方案和/或優(yōu)點(diǎn),并且部分其它 方案和優(yōu)點(diǎn)在說明書中將是顯而易見的,或者可以通過本發(fā)明的實(shí)踐而獲 得。
附圖說明
通過結(jié)合附圖在下文對實(shí)施例的描述,這些和/或其它方面和優(yōu)點(diǎn)是顯而 易見的,并且易于理解。其中:
圖1是示出根據(jù)一實(shí)施例的仿真裝置的配置的實(shí)例的功能框圖;
圖2是示出RFID標(biāo)簽的阻抗匹配模型的實(shí)例的示圖;
圖3是示出在已考慮IC芯片時(shí)獲得的阻抗匹配模型的實(shí)例的示圖;
圖4是示出評估接收功率的方法的實(shí)例的示圖;
圖5是示出在未考慮阻抗匹配系數(shù)τ時(shí)獲得的評估結(jié)果的實(shí)例的曲線 圖;
圖6是示出在已考慮阻抗匹配系數(shù)τ時(shí)獲得的評估結(jié)果的實(shí)例的曲線 圖;
圖7是示出在排列多個(gè)RFID標(biāo)簽時(shí)所采用的接收功率的評估方法的示 圖;
圖8是示出在已輸入所有RFID標(biāo)簽的接收天線輻射方向圖數(shù)據(jù) (radiation?pattern?data)時(shí)獲得的評估結(jié)果的實(shí)例的曲線圖;
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