[發(fā)明專利]正電子發(fā)射斷層掃描圖像的衰減校正方法和裝置

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200910169551.X
• 申請(qǐng)日: 2009-09-09
• 公開（公告）號(hào): CN102018523A
• 公開（公告）日: 2011-04-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李治輝;范濤;唐建軍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海西門子醫(yī)療器械有限公司
• 主分類號(hào): A61B6/02
• 分類號(hào): A61B6/02;A61B6/03
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種正電子發(fā)射斷層掃描圖像的衰減校正方法，包括：

采用均衡模式進(jìn)行計(jì)算機(jī)斷層掃描，得到計(jì)算機(jī)斷層掃描圖像；

根據(jù)所述計(jì)算機(jī)斷層掃描圖像對(duì)獲取到的正電子發(fā)射斷層掃描圖像進(jìn)行衰減校正。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述均衡模式下，螺距因子設(shè)置為0.1毫米至0.15毫米，優(yōu)選為0.1毫米、0.12毫米、0.13毫米或0.15毫米。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述均衡模式下，旋轉(zhuǎn)時(shí)間設(shè)置為0.5秒至1.0秒，優(yōu)選為0.5秒、0.6秒、0.8秒或1.0秒。

4.一種正電子發(fā)射斷層掃描圖像的衰減校正裝置，包括：

一個(gè)掃描單元，用于采用均衡模式進(jìn)行計(jì)算機(jī)斷層掃描，得到計(jì)算機(jī)斷層掃描圖像；

一個(gè)校正單元，用于根據(jù)所述計(jì)算機(jī)斷層掃描圖像對(duì)獲取到的正電子發(fā)射斷層掃描圖像進(jìn)行衰減校正。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述均衡模式下，所述掃描單元的螺距因子設(shè)置為0.1毫米至0.15毫米，優(yōu)選為0.1毫米、0.12毫米、0.13毫米或0.15毫米。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述均衡模式下，掃描單元的旋轉(zhuǎn)時(shí)間設(shè)置為0.5秒至1.0秒，優(yōu)選為0.5秒、0.6秒、0.8秒或1.0秒。