[發明專利]具有抑制特性偏移的結構的薄膜晶體管面板及其制造方法有效
| 申請號: | 200910168653.X | 申請日: | 2006-10-20 |
| 公開(公告)號: | CN101699624A | 公開(公告)日: | 2010-04-28 |
| 發明(設計)人: | 石井裕滿 | 申請(專利權)人: | 卡西歐計算機株式會社 |
| 主分類號: | H01L27/02 | 分類號: | H01L27/02;H01L29/786;H01L29/417;H01L21/82;G02F1/1362;G02F1/1368 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 黃劍鋒 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 抑制 特性 偏移 結構 薄膜晶體管 面板 及其 制造 方法 | ||
1.一種薄膜晶體管面板,包括:
基板(1);
薄膜晶體管(3),形成在所述基板(1)上,具有柵電極(6)、柵絕緣膜(7)、半導體薄膜(8)、在所述半導體薄膜(8)上形成的一對歐姆接觸層(10、11)、以及在所述各歐姆接觸層(10、11)上形成的源電極(12)和漏電極(13),所述半導體薄膜(8)在所述源電極(12)和所述漏電極(13)之間具有溝道區域;
像素電極(2),與所述薄膜晶體管(3)的所述源電極(12)連接;以及
第一和第二導電性被覆膜(14、15),設置在所述源電極(12)和所述漏電極(13)的上部,由與所述像素電極(2)相同的材料形成,
所述第一導電性被覆膜(14)被設置為寬度比所述源電極(12)的寬度寬,
所述第二導電性被覆膜(15)被設置為寬度比所述漏電極(13)的寬度寬,并且與所述漏電極(13)的上表面接觸,并且,從所述漏電極(13)延伸出來,以便跨過與所述漏電極(13)連接的漏極布線(5)的一部分。
2.根據權利要求1所述的薄膜晶體管面板,其特征在于,所述第二導電性被覆膜(15)設置成與所述漏電極(13)的上表面以及其寬度方向兩側的側面、所述歐姆接觸層(10)的寬度方向兩側的側面接觸。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





