[發(fā)明專(zhuān)利]電光學(xué)裝置和電子設(shè)備、以及指示物體的位置檢測(cè)方法

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200910167350.6
• 申請(qǐng)日: 2009-08-21
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN101661177A
• 公開(kāi)（公告）日: 2010-03-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 茅野岳人
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 精工愛(ài)普生株式會(huì)社
• 主分類(lèi)號(hào): G02F1/133
• 分類(lèi)號(hào): G02F1/133;G06F3/042
• 代理公司: 中科專(zhuān)利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司
• 代理人: 劉 建

1.一種電光學(xué)裝置，其特征在于，具備：

電光學(xué)元件，其由第1和第2電極，以及夾持在它們之間，并且由于所提供的規(guī)定的電位而使其光學(xué)特性發(fā)生變化的電光學(xué)物質(zhì)構(gòu)成；

位置檢測(cè)單元，其用于檢測(cè)：與顯示由該電光學(xué)元件構(gòu)成的圖像的圖像顯示面上所接觸的物體的、在該圖像顯示面上的位置；以及

物理量測(cè)量單元，其包含在該位置檢測(cè)單元內(nèi)，并且，測(cè)量與上述物體接觸到上述圖像顯示面時(shí)的該圖像顯示面的全部或一部分相關(guān)的所規(guī)定的物理量，

上述位置檢測(cè)單元，根據(jù)由上述物理量測(cè)量單元所測(cè)量的上述物理量的測(cè)量結(jié)果，并且根據(jù)除去了上述第1和第2電極之間的電位差的極性反轉(zhuǎn)時(shí)刻的、上述物理量測(cè)量單元的測(cè)量結(jié)果的測(cè)量結(jié)果，進(jìn)行上述物體的在上述圖像顯示面上的位置的檢測(cè)。

2.如權(quán)利要求1記載的電光學(xué)裝置，其特征在于：

上述物理量測(cè)量單元，僅在時(shí)間上先后的2個(gè)反轉(zhuǎn)時(shí)刻之間測(cè)量上述物理量。

3.如權(quán)利要求1記載的電光學(xué)裝置，其特征在于：

上述物理量測(cè)量單元，在時(shí)間上先后的2個(gè)反轉(zhuǎn)時(shí)刻之間以及在該2個(gè)反轉(zhuǎn)時(shí)刻之時(shí)，測(cè)量上述物理量，

上述位置檢測(cè)單元，忽略上述2個(gè)反轉(zhuǎn)時(shí)刻之時(shí)的上述物理量測(cè)量單元的測(cè)量結(jié)果，進(jìn)行在上述圖像顯示面上的上述物體的位置的檢測(cè)。

4.如權(quán)利要求3記載的電光學(xué)裝置，其特征在于：

上述物理量測(cè)量單元按照每個(gè)劃分上述圖像顯示面的多個(gè)測(cè)量區(qū)域，測(cè)量上述物理量，并且，重新測(cè)量關(guān)于與上述反轉(zhuǎn)時(shí)刻之時(shí)檢測(cè)出的上述物理量對(duì)應(yīng)的上述測(cè)量區(qū)域的、該反轉(zhuǎn)時(shí)刻之時(shí)以外的時(shí)候的物理量。

5.如權(quán)利要求1至4的任一項(xiàng)記載的電光學(xué)裝置，其特征在于：

存在多個(gè)上述電光學(xué)元件，并且，它們按照矩陣狀排列來(lái)進(jìn)行排列；

上述物理量測(cè)量單元，包括：

與上述電光學(xué)元件的每規(guī)定的個(gè)數(shù)對(duì)應(yīng)的多個(gè)物理量測(cè)量元件；和

用于讀出這些物理量測(cè)量元件的測(cè)量結(jié)果的信號(hào)線，

通過(guò)上述信號(hào)線的上述物理量的讀出是：在時(shí)間上連續(xù)的n個(gè)反轉(zhuǎn)時(shí)刻的第m個(gè)反轉(zhuǎn)時(shí)刻之后，針對(duì)與上述矩陣狀排列中的某一行對(duì)應(yīng)的上述物理量測(cè)量元件中的1/(n-1)個(gè)的物理量測(cè)量元件而進(jìn)行的，其中n為正的整數(shù)，m＝1、2、…n-1。

6.如權(quán)利要求1至5的任一項(xiàng)記載的電光學(xué)裝置，其特征在于：

上述物理量測(cè)量單元，在上述圖像顯示面的一部分中包含不顯示上述圖像的區(qū)域的情況下，在應(yīng)該驅(qū)動(dòng)與該區(qū)域?qū)?yīng)的上述電光學(xué)元件的時(shí)刻之時(shí)，測(cè)量上述物理量。

7.如權(quán)利要求1至6的任一項(xiàng)記載的電光學(xué)裝置，其特征在于：

上述第1和第2電極的至少一方按照矩陣狀排列來(lái)進(jìn)行排列，

上述電位的極性的反轉(zhuǎn)是以上述矩陣狀排列中的行或列作為一個(gè)單位而進(jìn)行的。

8.一種電子設(shè)備，其特征在于：

具備權(quán)利要求1至7的任一項(xiàng)記載的電光學(xué)裝置。

9.一種指示物體的位置檢測(cè)方法，檢測(cè)對(duì)顯示圖像的圖像顯示面上的某個(gè)地點(diǎn)進(jìn)行指示的物體的、在該圖像顯示面上的位置，其特征在于，包括：

電位設(shè)定工序，為了改變?cè)跇?gòu)成形成上述圖像的電光學(xué)元件的第1和第2電極之間所夾持的電光學(xué)物質(zhì)的光學(xué)特性，在這些第1和第2電極之間施加所規(guī)定的電位差；

物理量測(cè)量工序，測(cè)量與上述物體接觸到上述圖像顯示面時(shí)的該圖像顯示面的全部或一部分有關(guān)的所規(guī)定的物理量；以及

位置檢測(cè)工序，根據(jù)上述物理量測(cè)量工序的上述物理量的測(cè)量結(jié)果，檢測(cè)在上述圖像顯示面上所接觸的物體的、在該圖像顯示面上的位置，

上述電位設(shè)定工序，包括：使上述第1和第2電極之間的電位差的極性反轉(zhuǎn)的極性反轉(zhuǎn)工序，

上述位置檢測(cè)工序，包括：根據(jù)將上述極性的反轉(zhuǎn)時(shí)刻的上述物理量測(cè)量單元的測(cè)量結(jié)果除去之后的測(cè)量結(jié)果，檢測(cè)上述物體在上述圖像顯示面上的位置的工序。

10.如權(quán)利要求9記載的指示物體的位置檢測(cè)方法，其特征在于：

上述物理量測(cè)量工序，包括：僅在時(shí)間上先后的2個(gè)反轉(zhuǎn)時(shí)刻之間測(cè)量上述物理量的工序。