[發明專利]偏光片檢測裝置及方法

有效

• 申請號: 200910163861.0
• 申請日: 2009-08-07
• 公開（公告）號: CN101629871A
• 公開（公告）日: 2010-01-20
• 發明（設計）人: 吳建宏;洪群泰;莊雅杰
• 申請（專利權）人: 蘇州達信科技電子有限公司;達信科技股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明關于一種偏光片檢測裝置及方法，特別關于一種非破壞性偏光片檢測裝置及方法。

背景技術

液晶顯示器(Liquid?Crystal?Display，LCD)由于利用液晶的雙折射性，需使用偏光片以調節入射到液晶分子的光振動方向。偏光片具有使在復數個方向振動的同時入射的自然光變成只在一個方向上振動的機能，其種類有碘系、染料系、相位差、半透射(semi-transmissive)及反射型等的偏光膜。其中，碘系偏光膜在制作具有高透射及高偏光特性的高精細LCD用偏光膜時，是將碘應用在透明的PVA(Poly?Vinyl?Alcohol)膜中而變成可以吸收可見光區域的光。

請參照圖1，其顯示一偏光片結構，一般來說，該偏光片共具有五層，由上而下依序為保護膜1、第一TAC(tri?acetyl?cellulose)膜2、PVA膜3、第二TAC膜4、及離型膜5。由于偏光片在貼附至面板時，會去除保護膜及離型膜。因此在量測偏光片的吸收軸時，一般會將保護膜及離型膜去除。

傳統的偏光片量測方法為破壞性抽樣量測，首先從量產品抽樣幾批偏光片，再裁切成較小片的量測片，將保護膜及離型膜剝離，再將其擺上光學量測平臺上，利用光源制造出不同方向的線偏光，經過偏光片后，其中與偏光片吸收軸方向平行的線偏光，將會被吸收，最后再利用分析器檢測其方向，可得知偏光片的吸收軸。

傳統偏光片量測方法的缺點在于必須破壞偏光片本身的結構(完全剝離保護膜及離型膜)，且無法在線檢驗，無法全面控管出貨質量。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的是提供一偏光片檢測裝置及方法，不需要破壞偏光片本身，并可以在線進行全面檢查，大大降低生產成本及精確控制產品質量。

為達成本發明的目的，該偏光片檢測裝置，可包括：一透明量測平臺，用以承載一待測偏光片；滾輪，用以剝離該待測偏光片最上層的部分保護膜；一光源，用以提供一檢測光至該待測偏光片其保護膜被剝離的部份；以及，一分析單元，用以取得該待測偏光片的光學信息。

根據本發明一較佳實施例，該偏光片檢測裝置可更包含：吸附盤，用以將該待測偏光片傳送至該透明量測平臺，以及，自動補償系統，用以提供一偏光片偏斜角度至該分析單元，達到自動補償效果。

此外，本發明還提供一種偏光片檢測方法，可包括：將一待測偏光片傳送至一透明量測平臺；利用滾輪剝離該待測偏光片最上層的部分保護膜；利用光源提供一檢測光至該待測偏光片其保護膜被剝離的部份；以及，利用分析單元取得該待測偏光片的光學信息。

根據本發明一較佳實施例，本發明所述的偏光片檢測方法，當量測取得光學信息后，可更利用一自動補償系統量測該待測偏光片，提供一偏光片偏斜角度至該分析單元，達到自動補償效果。

為使本發明的上述目的、特征能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合附圖，作詳細說明如下：

附圖說明

圖1顯示一習知偏光片的組成結構。

圖2為本發明一較佳實施例所述的偏光片檢測裝置的示意圖。

圖3為本發明一較佳實施例所述的偏光片檢測方法的流程圖。

圖4a-圖4e為一系列的示意圖，用以說明如何利用本發明所述的偏光片檢測裝置對一偏光片進行檢測。

圖5為本發明一較佳實施例所述的具有自動補償系統的偏光片檢測裝置的示意圖。

具體實施方式

請參閱圖2，其顯示符合本發明所述的偏光片檢測裝置100的一實施例其裝置示意圖。該偏光片檢測裝置，包括：

一透明量測平臺10，該透明量測平臺10用以承載一待測偏光片。該透明量測平臺10由透光材質所構成，因此當后續使用一光源40提供一檢測光至該待測偏光片時，檢測光可穿過該透明量測平臺10并傳送光學信息至一分析單元50。此外，該透明量測平臺10可具有真空吸附或靜電吸附的功能，以固定該待測偏光片。

吸附盤20，該吸附盤20用來將該待測偏光片由一放置平臺傳送至該透明量測平臺10上。該吸附盤20可具有真空吸附或靜電吸附的功能，以吸取該待測偏光片，待傳送至該透明量測平臺10后，再解除吸附功能。

滾輪30，該滾輪30配置于該透明量測平臺10之上，用來將該待測偏光片最上層的保護膜的一部份，暫時剝離該待測偏光片，使得后續光源40所提供的檢測光，直接照射在該待測偏光片的第一TAC(tri?acetyl?cellulose)膜上，避免量測所得的光學信息受到保護膜干擾。其中，該滾輪30以一靜電力或一黏力，使該保護膜部份剝離該待測偏光片。