[發明專利]偏光片檢測裝置及方法

有效

• 申請號: 200910163861.0
• 申請日: 2009-08-07
• 公開（公告）號: CN101629871A
• 公開（公告）日: 2010-01-20
• 發明（設計）人: 吳建宏;洪群泰;莊雅杰
• 申請（專利權）人: 蘇州達信科技電子有限公司;達信科技股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種偏光片檢測裝置，其特征在于包括：

一透明量測平臺，用以承載一待測偏光片；

滾輪，用以剝離該待測偏光片最上層的部份保護膜，以及讓部份剝離的保護膜黏覆至該待測偏光片；

光源，用以提供一檢測光至該待測偏光片其保護膜被剝離的部份；以及

分析單元，用以取得該待測偏光片的光學信息。

2.如權利要求1所述的偏光片檢測裝置，其特征在于進一步包含：

吸附盤，用以將該待測偏光片傳送至該透明量測平臺。

3.如權利要求1所述的偏光片檢測裝置，其特征在于進一步包含：

自動補償系統，用以提供一偏光片偏斜角度至該分析單元，達到自動補償效果。

4.如權利要求3所述的偏光片檢測裝置，其特征在于該自動補償系統包含第一光學掃描單元及第二光學掃描單元。

5.如權利要求1所述的偏光片檢測裝置，其特征在于該透明量測平臺以真空吸附方式固定該待測偏光片；或者，該透明量測平臺以靜電吸附方式固定該待測偏光片。

6.如權利要求1所述的偏光片檢測裝置，其特征在于該光學信息包括偏光片吸收軸。

7.如權利要求1所述的偏光片檢測裝置，其特征在于該滾輪以一靜電力或一黏力，使該保護膜部份剝離該待測偏光片。

8.一種偏光片檢測方法，其特征在于包括：

將一待測偏光片傳送至一透明量測平臺；

利用一滾輪剝離該待測偏光片最上層的部份保護膜，以及讓部份剝離的保護膜黏覆至該待測偏光片；

利用一光源提供一檢測光至該待測偏光片其保護膜被剝離的部份；以及

利用一分析單元取得該待測偏光片的光學信息。

9.如權利要求8所述的偏光片檢測方法，其特征在于該待測偏光片利用一吸附盤傳送至該透明量測平臺。

10.如權利要求8所述的偏光片檢測方法，其特征在于該透明量測平臺以真空吸附方式固定該待測偏光片；或者，該透明量測平臺以靜電吸附方式固定該待測偏光片。

11.如權利要求8所述的偏光片檢測方法，其特征在于該光學信息包括偏光片吸收軸。

12.如權利要求8所述的偏光片檢測方法，其特征在于該滾輪以一靜電力或一黏力，使該保護膜部份剝離該待測偏光片。

13.如權利要求8所述的偏光片檢測方法，其特征在于進一步包含：

利用一自動補償系統量測該待測偏光片，提供一偏光片偏斜角度至該分析單元，達到自動補償效果。

14.如權利要求13所述的偏光片檢測方法，其特征在于該自動補償系統包含一第一光學掃描單元及一第二光學掃描單元。