[發明專利]圖像捕捉和校準有效
| 申請號: | 200910161418.X | 申請日: | 2009-07-22 |
| 公開(公告)號: | CN101635056A | 公開(公告)日: | 2010-01-27 |
| 發明(設計)人: | A·贊迪法 | 申請(專利權)人: | 精工愛普生株式會社 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G01N21/956;G01R31/02 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 湯春龍;徐予紅 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像 捕捉 校準 | ||
1.一種用于捕捉圖像的有效快照的方法,所述方法包括:
計算所述圖像的第一配置參數集合至與所述圖像對應的參考位 圖的第二配置參數集合的第一映射;
計算所述第二配置參數集合至所述圖像位于其上的二維表面的 第三配置參數集合的第二映射;
至少部分地基于所述第一配置參數集合、所述第二配置參數集 合、所述第三配置參數集合、所述第一映射、所述第二映射和攝像機 的對準驗證參數來識別所述二維表面上的第一快照的第一位置;
在所述二維表面上的所述第一位置處捕捉所述圖像的所述第一 快照;以及
響應所述第一快照超出圖像質量閾值,存儲與所述第一快照對應 的有效快照。
2.如權利要求1所述的方法,其中識別第一快照的第一位置的所 述步驟還包括:將第一快照的第一位置調整到所述二維表面的計算的 偏移量。
3.如權利要求1所述的方法,其中所述第一配置參數集合包括從 所述圖像中提取的第一特征集合,并且所述第二配置參數集合包括從 所述參考位圖中提取的第二特征集合。
4.如權利要求1所述的方法,其中所述圖像質量閾值包括所述第 一快照的銳度和所述第一快照的對比度。
5.如權利要求4所述的方法,其中至少部分地通過將所述第一快 照內全部量的高頻分量與銳度閾值比較來定義所述圖像質量閾值。
6.如權利要求4所述的方法,其中至少部分地通過將所述第一快 照內邊緣像素與非邊緣像素之間的平均亮度差與亮度差閾值比較來 定義所述圖像質量閾值。
7.如權利要求1所述的方法,其中所述圖像由分塊集合組成,以 及所述有效快照是所述圖像內的目標分塊,存儲所述有效快照的步驟 包括:
識別包含所述分塊集合內相鄰分塊的子集合的鄰居,所述鄰居內 的每個分塊具有在所述目標分塊的距離閾值內的位置;
從所述圖像提取所述相鄰分塊的子集合;
通過移除所述分塊的子集合內的至少一個分塊的一部分來修改 所述分塊的子集合,以使得修改的分塊的子集合的第一區域對應于所 述目標分塊的第二區域;
將所述目標分塊結合到所述修改的分塊的子集合中;以及
將所述修改的分塊的子集合結合到所述圖像中。
8.一種用于校準圖像捕捉系統的方法,所述方法包括:
捕捉圖像的參考分塊的快照,所述參考分塊位于所述圖像內的第 一位置處;
基于所述圖像識別參考位圖的局部視圖分塊,所述局部視圖分塊 具有與所述圖像內的所述第一位置對應的所述參考位圖內的第二位 置;
識別支承所述圖像的二維表面上的第三位置,所述第三位置與所 述圖像內的所述第一位置對應;
計算所述第一位置與所述第二位置之間的第一映射;
計算所述第二位置與所述第三位置之間的第二映射;
識別攝像機的對準驗證參數,所述對準驗證參數至少部分地基于 所述第一映射;以及
響應所述對準驗證參數小于驗證閾值,通過如下操作來調整所述 第三位置:
計算所述二維表面上的所述第三位置的偏移量,所述偏移 量部分地基于所述第一映射和所述第二映射;以及
響應所述偏移量大于調整閾值來調整所述第三位置,
其中,所述圖像內的第一位置至少部分基于生成所述圖像的參考 位圖得到的配置數據和所述攝像機的對準驗證參數來識別。
9.如權利要求8所述的方法,其中計算所述第一位置與所述第二 位置之間的第一映射的步驟包括:
從所述快照中提取第一特征集合以及從所述局部視圖分塊中提 取第二特征集合,所述第二特征集合對應于所述第一特征集合;以及
基于所述第一特征集合和所述第二特征集合來計算所述第一映 射。
10.如權利要求8所述的方法,其中計算所述第二位置與所述第 三位置之間的第二映射的步驟部分地基于所述局部視圖分塊的配置 參數集合。
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