[發(fā)明專利]引線框架的電鍍方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910154585.1 | 申請日: | 2009-11-10 |
| 公開(公告)號: | CN101707185A | 公開(公告)日: | 2010-05-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄭康定;鄧道斌;馬葉軍 | 申請(專利權(quán))人: | 寧波康強(qiáng)電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/48 | 分類號: | H01L21/48;C25D9/02 |
| 代理公司: | 寧波市鄞州甬致專利代理事務(wù)所 33228 | 代理人: | 高輝 |
| 地址: | 315105 浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 引線 框架 電鍍 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種引線框架的制造方法,特別是涉及一種表面局部電鍍的引線框架的電鍍方法。
背景技術(shù):
集成電路的引線框架(比如行業(yè)通用型號QFN--方型扁平無引腳封裝、QFP--四側(cè)引腳扁平封裝等)是制造集成電路半導(dǎo)體元件的基本部件。為滿足制造集成電路半導(dǎo)體元件的需求,集成電路的引線框架表面的局部區(qū)域需電鍍金屬銀或鎳鈀金,其余部分不要求有鍍層,否則無法滿足制造集成電路半導(dǎo)體元件的需求,所以集成電路引線框架進(jìn)行電鍍時(shí)需要用電鍍掩膜對其表面不需要進(jìn)行電鍍的部分進(jìn)行保護(hù)。現(xiàn)有技術(shù)集成電路引線框架的電鍍方法(如圖1所示的工序圖)為:貼干膜;曝光;顯影;電鍍;退干膜,而這種電鍍方法采用全涂干膜加曝光和顯影的工藝步驟,來形成電鍍掩膜,但是由于干膜的價(jià)格較高,且在工藝過程中需要在集成電路引線框架的表面全貼干膜,在進(jìn)行曝光顯影去掉需電鍍區(qū)對應(yīng)的干膜,則干膜的用量大,所以電鍍的成本很高,不利于引線框架的批量生產(chǎn);同時(shí)由于引線框架的側(cè)邊無法進(jìn)行貼干膜,電鍍時(shí)容易被鍍上鍍層,這就容易造成電路的短路,導(dǎo)致成品率較低。
發(fā)明內(nèi)容:
本發(fā)明的目的是為解決以上技術(shù)問題,提供一種電鍍成本較低,有利于批量生產(chǎn)且成品率高的引線框架的電鍍方法。
本發(fā)明的技術(shù)方案是:一種引線框架的電鍍方法,它包括以下步驟:
①.準(zhǔn)備濕菲林溶液,所述的濕菲林溶液的濃度為55%~75%;
②.將引線框架接上導(dǎo)線后,放入濕菲林溶液中進(jìn)行電鍍,電鍍時(shí)間為10~15秒,溫度為40℃~60℃,電鍍后引線框架的四周表面均被鍍上菲林膜層;
③.將電鍍后的引線框架用清水進(jìn)行清洗,并烘干,烘干溫度為90℃~110℃,時(shí)間為30~90秒;
④.對烘干后的引線框架進(jìn)行曝光,曝光要求在無塵的環(huán)境下進(jìn)行,曝光時(shí)間為15~25秒,光照強(qiáng)度為300~1200MJ,環(huán)境溫度為15℃~45℃;
⑤.對曝光后的引線框架進(jìn)行顯影,顯影時(shí)間為120~180秒,顯影后用清水沖洗并晾干;
⑥.將步驟⑤處理完的引線框架接上導(dǎo)線后,放入電鍍液中進(jìn)行電鍍,完成后使用清水進(jìn)行清洗并晾干;
⑦.對電鍍完的引線框架進(jìn)行退膜處理,噴灑去膜水去除菲林膜層,噴灑時(shí)間150~450秒,溫度為50℃~70℃;
⑧.將步驟⑦處理完的引線框架用清水清洗完,并晾干即可。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明由于在引線框架電鍍金屬層前使用了電鍍菲林來對引線框架進(jìn)行掩膜處理,這就使得引線框架的側(cè)邊也被鍍上了掩膜,則在曝光顯影后進(jìn)行的電鍍金屬層時(shí)就無法將金屬鍍層鍍上引線框架的側(cè)邊,保證引線框架的電鍍質(zhì)量;同時(shí)菲林的價(jià)格要低于干膜的價(jià)格。因此本發(fā)明電鍍成本較低,有利于批量生產(chǎn)且成品率高。
附圖說明:
圖1為現(xiàn)有技術(shù)引線框架的電鍍方法的工序示意圖。
圖2為本發(fā)明引線框架的電鍍方法的工序示意圖。
具體實(shí)施方式:
下面結(jié)合具體實(shí)施實(shí)例說明,但本發(fā)明不僅限于以下具體實(shí)施實(shí)例:
實(shí)施例1
①.準(zhǔn)備濕菲林溶液5,所述的濕菲林溶液5的濃度為55%,菲林是美國羅門哈斯公司生產(chǎn)的型號為EAGLETM?2100?ED?PHOTORESIST;
②.將引線框架1接上導(dǎo)線后,如圖2(a)所示放入濕菲林溶液5中進(jìn)行電鍍,電鍍時(shí)間為10~12秒,溫度為40℃~50℃,如圖2(b)所示電鍍后引線框架1的四周表面均被鍍上菲林膜層6;
③.將電鍍后的引線框架1用清水進(jìn)行清洗,并烘干,烘干在常規(guī)的鋸爐中進(jìn)行,烘干溫度為90℃~100℃,時(shí)間為80~90秒;
④.對烘干后的引線框架1進(jìn)行曝光,曝光要求在無塵的環(huán)境下進(jìn)行,如圖2(c)所示曝光時(shí)在引線框架1的上下表面放上玻璃掩膜3,玻璃掩膜3上設(shè)有遮光部3a,遮光部3a用遮擋曝光時(shí)的光線防止對應(yīng)的菲林膜層6曝光,曝光時(shí)間為20~25秒,光照強(qiáng)度為300~1200MJ,環(huán)境溫度為15℃~25℃;
⑤.對曝光后的引線框架1進(jìn)行顯影,顯影時(shí)間為120~140秒,顯影后用清水沖洗并晾干,顯影液是美國羅門哈斯公司生產(chǎn)的型號為EAGLETM?2005?DEVELOPER,則如圖2(d)所示,可以除去菲林膜層6未被光線照射到的部分,達(dá)到精密掩膜的目的;
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





