[發明專利]測試低功率系統中的狀態保留邏輯

無效

• 申請號: 200910150248.5
• 申請日: 2009-06-23
• 公開（公告）號: CN101644742A
• 公開（公告）日: 2010-02-10
• 發明（設計）人: 克里希納·查克拉瓦達納努拉;帕特里克·加拉格爾;維韋克·奇克馬內;史蒂文·L·格雷戈爾;普尼特·阿羅拉
• 申請（專利權）人: 益華公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京律盟知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 孟 銳

技術領域

本發明通常涉及集成電路(IC)且更特定來說涉及低功率IC系統。

背景技術

具有多個功率域的IC設計變得越來越普遍，因為可通過暫時給芯片中不需要為 活動的區域(所謂的域)斷電來減少功率消耗。此類設計具有一個或一個以上可切換 功率域且可給這些域斷電以消除其中的靜態及動態功率耗散兩者。為確保域功率返回 到已知狀態，可切換域可包含狀態保留單元(例如，包含用于在功率變化期間保存狀 態值的保留元件的電路元件)。通常，狀態保留單元含有特別觸發器或鎖存器以在切 斷單元的主電力供應時保留所述單元的狀態。例如，參見第6,775,180、7,091,766、 7,123,068、7,164,301、7,183,825及7,138,842號美國專利，所述專利中的每一者的全 文均以引用方式并入本文中。

在制造測試期間必須測試狀態保留單元(在一些背景中也稱作狀態保留功率選通 或SRPG單元)以確保其功能正確。SRPG單元必須能夠在電力關斷時將數據保留到 其封閉域，且一旦電力再導通，必須是可觀察到保留的數據。在此背景中，當周圍電 壓低于域的操作電壓時，認為所述域被斷開，以使得針對欲斷開的域，周圍電壓不必 處于0V。

但當前由自動測試圖案產生(ATPG)工具所產生的測試通常不以SRPG單元的 保留能力為目標。通常，這些測試僅以芯片中的結構缺陷(凈固定邏輯0值等)為目 標，而不嘗試測試邏輯的功能行為，包含(例如)含有SRPG單元的功率域的循環(例 如，關斷及再導通)以檢查所述單元是否保留狀態。例如，參見第7,065,724美國專利， 所述專利的全文以引用方式并入本文中。

因此，需要使用‘功能’方法測試SRPG單元，所述‘功能’方法除將涉及僅針 對結構缺陷進行測試之外還將涉及測試SRPG的狀態保留能力。更一般來說，需要改 善對具有用于在與IC相關的功率變化期間保存值的保留元件的IC的測試。

發明內容

在本發明的一個實施例中，測試集成電路(IC)的方法包含：將數據序列加載到 保持數據值的電路元件鏈中，其中將至少一些電路元件的輸出連接到鄰近電路元件的 輸入，因此值在用于加載值的鏈輸入與用于卸載值的鏈輸出之間依序通過所述鏈，且 第一電路元件(例如，電路元件中的任一者)包含用于在與IC相關的功率變化期間保 存值的保留元件。所述方法進一步包含：將來自數據序列的值保存在保留元件中；及 存取所述保留元件以驗證來自數據序列的所述保存的值的準確性。

根據此實施例的一個方面，存取所述保留元件可包含使用所述保留元件來恢復用 于第一電路元件的值；及從所述電路元件鏈卸載值。

根據另一個方面，所述方法可進一步包含在存取所述保留元件之前將所述IC的 一部分轉換為斷電模式，其中所述IC的所述部分包含所述保留元件。

根據另一個方面，所述數據序列可以是第一數據序列且所述方法可進一步包含： 在將所述值保存在保留元件中之后且在存取所述保留元件之前將第二數據序列加載到 所述鏈中，其中所述第二數據序列包含用于所述保留元件的不同于所述第一數據序列 的對應值的值。另外，關于此方面，第一及第二序列中的每一者均可包含大致一致的 值以用于減少對應于所述方法的功率消耗。

根據另一個方面，所述數據序列可以是第一數據序列且所述方法可進一步包含： 在存取所述保留元件以驗證來自第一數據序列的所述保存的值的準確性之后，將第二 數據序列加載到所述鏈中，其中所述第二數據序列包含用于所述保留元件的不同于第 一數據序列的所述保存的值的值；將來自所述第二數據序列的不同值保存在所述保留 元件中；及存取所述保留元件以驗證來自第二數據序列的所述保存的不同值的準確性。 另外，關于此方面，第一及第二序列中的每一者均可包含大致一致的值以用于減少對 應于所述方法的功率消耗。

根據另一個方面，所述保留元件可包含：用于存儲值的觸發器或鎖存器，及不相 依于與所述IC相關的功率變化的電源。

根據另一個方面，將數據序列加載到電路元件鏈中可包含針對至少一個電路元件 的設定操作或重設操作。即，除了在鏈輸入處加載值之外，可通過設定操作(例如， 設定為值1)或重設操作(例如，重設為值0)直接對一個或一個以上電路元件進行加 載。