[發(fā)明專利]開關(guān)電路及半導(dǎo)體裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910141751.4 | 申請日: | 2005-05-30 |
| 公開(公告)號: | CN101562445A | 公開(公告)日: | 2009-10-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 中塚忠良;福本信治 | 申請(專利權(quán))人: | 松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社 |
| 主分類號: | H03K17/687 | 分類號: | H03K17/687;H03K17/693;H01L27/088 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 開關(guān)電路 半導(dǎo)體 裝置 | ||
本申請是申請日為2005年5月30日、申請?zhí)枮?00510074705.9、發(fā)明名稱為“開關(guān)電路及半導(dǎo)體裝置”的發(fā)明專利申請的分案申請。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種在移動(dòng)通信機(jī)等中進(jìn)行信號切換開關(guān)電路及半導(dǎo)體裝置。
背景技術(shù)
近年來,在以手機(jī)為代表的移動(dòng)通信系統(tǒng)中,對利用了場效應(yīng)晶體管(FET)的高性能高頻開關(guān)的期望越來越大。但是,利用了FET的高頻開關(guān)具有輸入大功率時(shí)高頻特性惡化的短處,為了改善該短處,利用使多個(gè)FET串聯(lián)的方法。還提案過這樣的技術(shù),為了縮小半導(dǎo)體芯片尺寸進(jìn)行低成本化,利用漏電極和源電極之間具有多個(gè)柵電極的多柵極FET,來代替使多個(gè)FET串聯(lián)。
下面,參照附圖,說明現(xiàn)有的利用了多柵極FET的高頻開關(guān)電路的高頻特性的改善方法(參照專利文獻(xiàn)1)。
圖17顯示由現(xiàn)有例的雙柵極FET構(gòu)成的開關(guān)電路在半導(dǎo)體襯底上的平面布置,圖18(a)和圖18(b)分別顯示沿圖17中的XVIIIa-XVIIIa線和XVIIIb-XVIIIb線的剖面結(jié)構(gòu)。
如圖17所示,在形成在半導(dǎo)體襯底2上的活性層3上留著間隔形成有2個(gè)歐姆電極,即歐姆電極4A和歐姆電極4B。在歐姆電極4A和歐姆電極4B之間形成有是肖脫基電極的2個(gè)柵極,即柵極5A和柵極5B,柵極5A和柵極5B分別與柵極墊6連接。活性層3中的柵極5A和柵極5B之間的區(qū)域,即柵極間區(qū)域3A,通過連接用圖案7與歐姆電極4A連接。
接著,說明現(xiàn)有例的開關(guān)電路的工作情況。例如,設(shè)FET成為導(dǎo)通狀態(tài)的高電平電壓為與電源電壓相等的3V,設(shè)成為截止?fàn)顟B(tài)的低電平電壓為與接地電壓相等的0V。若在歐姆電極4A和歐姆電極4B上施加3V的電壓,通過柵極墊6在柵極5A和柵極5B上施加0V的電壓,如圖18(a)所示,因?yàn)楹谋M層8a在活性層3中的柵極5A和柵極5B下側(cè)區(qū)域變寬,所以溝道便關(guān)閉,F(xiàn)ET成為截止?fàn)顟B(tài)。
在圖17所示的開關(guān)電路中,通過連接用圖案7,柵極5A和柵極5B之間的柵極間區(qū)域3A的直流電位與歐姆電極4A的直流電位大致相等。因此,柵極5A和柵極5B成為被施加了反向偏壓的狀態(tài)。正因?yàn)槿绱耍c無連接用圖案7的情況相比,耗盡層8a容易變寬,從耗盡層電容C11a到耗盡層電容C14a都相等。結(jié)果是,歐姆電極4A和歐姆電極4B之間的高頻信號的絕緣性提高。
【專利文獻(xiàn)1】日本公開專利公報(bào)特開2000-183362號公報(bào)。
然而,F(xiàn)ET工作時(shí)實(shí)際加在歐姆電極上的電壓與電源電壓不一樣,而是電源電壓的約90%的電壓,因?yàn)槭艿綁合碌挠绊憽艠O間區(qū)域3A的電阻值與歐姆電極4A相比高幾十倍左右,從而在離連接用圖案7遠(yuǎn)的XVIIIb-XVIIIb線上的位置上,在處于截止?fàn)顟B(tài)的FET的柵極上未充分地施加反向偏壓,如圖18(b)所示,耗盡層8b不完整。于是,耗盡層電容C11b和耗盡層電容C14b與耗盡層電容C12b和耗盡層電容C13b相比更小,結(jié)果是,發(fā)生高頻信號的絕緣性不充分的問題。
也有這樣的問題,在柵極下側(cè)區(qū)域中的耗盡層擴(kuò)展得不充分的情況下,輸入較低的信號,高頻開關(guān)電路也不能保持截止?fàn)顟B(tài)了,由此發(fā)生的波形失真使諧波失真惡化。
也有這樣的問題,在在歐姆電極上直接施加偏壓,使歐姆電極的電位固定為電源電壓的情況下,在在柵極上施加接地電壓的截止?fàn)顟B(tài)中,柵極的反向偏壓充分,但是在在柵極上施加電源電壓的情況下,因?yàn)闁艠O和與源極之間的電位差為0V,所以不能得到充分的正向電壓。因此導(dǎo)通狀態(tài)中的插入損耗很大。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明正是為解決這些問題而研究開發(fā)出來的。其目的在于:在利用多柵極FET的情況下,也能夠防止高頻信號的絕緣性惡化、諧波失真特性惡化,實(shí)現(xiàn)導(dǎo)通狀態(tài)中的插入損耗小的開關(guān)電路。
為了達(dá)成所述目的,本發(fā)明的具有多柵極場效應(yīng)晶體管的高頻開關(guān)電路的結(jié)構(gòu)如下:在多柵極場效應(yīng)晶體管的半導(dǎo)體層中的柵極間的區(qū)域施加與在柵極上施加的電壓不同高低的偏壓。
具體說,第一高頻開關(guān)電路以具有輸出入高頻信號的多個(gè)輸出入端和接通、切斷輸出入端間的電連接的開關(guān)部的高頻開關(guān)電路為對象,開關(guān)部由在互相留著間隔設(shè)在半導(dǎo)體層上的源極和漏極之間設(shè)有多個(gè)柵極的多柵極場效應(yīng)晶體管構(gòu)成,偏壓施加在半導(dǎo)體層中的各柵極間的區(qū)域即柵極間區(qū)域,在多柵極場效應(yīng)晶體管處于導(dǎo)通狀態(tài)的情況下,偏壓低于等于使多柵極場效應(yīng)晶體管成為導(dǎo)通狀態(tài)的高電平電壓的90%,在處于截止?fàn)顟B(tài)的情況下,高于等于高電平電壓的80%且低于等于高電平電壓。
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