[發明專利]顯示裝置的基板和液晶顯示裝置有效
| 申請號: | 200910140662.8 | 申請日: | 2005-05-20 |
| 公開(公告)號: | CN101587252A | 公開(公告)日: | 2009-11-25 |
| 發明(設計)人: | 中川英俊;津幡俊英;長島伸悅;久田祐子 | 申請(專利權)人: | 夏普株式會社 |
| 主分類號: | G02F1/133 | 分類號: | G02F1/133;G02F1/1343;G02F1/1362;G02F1/139;G09F9/35 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 | 代理人: | 陳瑞豐 |
| 地址: | 日本國大阪府大阪市阿倍野*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顯示裝置 液晶 | ||
發明領域
本發明涉及一種顯示裝置的基板及其修補方法,一種顯示裝置的修補方法和一種液晶顯示裝置,更具體地說,涉及一種適合在直視式液晶顯示裝置,例如諸如液晶投影儀之類的液晶彩色電視機和投射式液晶顯示裝置中使用的顯示裝置的基板,及其修補方法,一種顯示裝置的修補方法和一種液晶顯示裝置。
背景技術
作為液晶顯示裝置的例子,存在彩色液晶顯示裝置,它包括有源矩陣(此下文稱之為“AM”)基板、CF基板和液晶層,在有源矩陣基板上形成許多開關設備,如薄膜晶體管(此下文稱之為“TFT”),CF基板依次疊加了許多彩色的濾色(此下文稱之為“CF”)層和共用電極,而且液晶層插入兩個基板之間。AM基板包括許多以矩陣形式排列的像素電極,CF基板包括與像素電極相對的共用電極,利用兩個電極之間的場強控制液晶的準直。
在常用的液晶顯示裝置中,在導電雜質浸入形成在AM基板上的像素電極和形成在CF基板上的共用電極之間的情況下,會產生電短路(此下文稱之為“垂直泄漏”),像素電極和共用電極之間的電勢差為零,以此使該部分的液晶分子是不定向的。這樣將產生像素缺陷,如常白色類型的裝置(在不施加電壓時顯示白色)中的亮點,常黑色類型的裝置(在不施加電壓時顯示黑色)中的黑斑。這種垂直泄漏是由在TFT過程、CF過程和液晶過程中粘附的導電雜質引起的,為了發現垂直泄漏,就必須在TFT和CF屏相互固定的情況下進行照明檢查。而且,產生垂直泄漏的概率已經隨著與近些年來已經需求的大尺寸的顯示裝置相關的像素尺寸的增加而增大,并隨著實現高速響應的液晶層間隔(cell?gap)的減小而增大。由于垂直泄漏產生的概率增大,面板的成品率已經下降了。
通過將MVA(多域垂直準直)型的液晶顯示模式的像素結構作為例舉,根據附圖描述常用液晶顯示裝置的像素結構。
MVA型顯示裝置使用設置在CF基板上的帶狀元件(準直控制突起)和設置在AM基板上像素電極中的開口(狹縫),帶狀元件和開口交替地分布在這些基板表面上,并通過使用上述元件和狹縫作為劃分垂直準直型液晶準直的邊界產生具有相互相差180度的導向偶極子(director)方向的液晶準直,其中具有相互相差180度的導向偶極子方向的許多域設置在單個顯示像素區域中,以能提供均勻視角特性(例如,參見JP-P?No.11-242225)。如上所述,MVA型顯示裝置的像素電極設有許多用于限制液晶分子準直的狹縫,例如,如圖1-2所示,為了在像素中設置連續的電極圖案,就設置了電極狹縫之間的電極連接部(像素電極連接部)12。通常,像素電極連接部12設置在像素電極9周圍,靠近數據信號用布線(信號線)4的準直缺陷(旋錯)和光泄漏通過稱之為黑色矩陣的遮光膜被遮蔽,遮光膜設置在CF基板上用于緩解孔徑比的減小。但是,常用MVA型像素電極的結構已經不能修補發生垂直泄漏的像素,由此產生像素單位的缺陷,因此需要改進。
還有另一方面的MVA型顯示裝置,其中用于控制準直的突起設置在AM基板上,而狹縫設置在CF基板上的電極中。在此情況下,如圖4-2所示,例如,CF基板上的對置電極(共用電極)設有狹縫,對置的電極與相鄰像素相連。因此,為了切除遭受垂直泄漏的部分,就必須切除具有該部分的像素電極的周圍面積。因此,還存在使將被去除部分最小化和使遭受垂直泄漏的部分為細小缺陷的余地,該細小缺陷難于被識別為缺陷。
就修補像素缺陷的常用技術而言,目前已經公開一些液晶顯示裝置,它們能夠通過使狹縫部分形成在像素電極中而克服垂直泄漏的產生(例如,參見JP-P?No.2000-221527,JP-P?No.2004-93654和JP-P?No.2001-83522)。但是,在JP-P?No.2000-221527,JP-P?No.2004-93654中的液晶顯示裝置使用了設置在遮光膜外面部分上的狹縫,其中在遮光膜外面部分上原來不存在狹縫,而且像素電極被切斷,導致狹縫區域的擴大。因此,這些液晶顯示裝置容許進一步改進以保持顯示質量而不會誘發準直缺陷。此外,還可能在切除可能引發線缺陷的缺陷部分過程中切斷數據信號線,因此,這些顯示裝置容許進一步改進。
而且,對于JP-P?No.2000-221527和JP-P?No.2001-83522的液晶顯示裝置,在靠近輔助電容產生缺陷的情況下,如果切除該部分的像素電極,那么也要切除組成輔助電容的像素電極。因此,這些器件已經允許改進以使輔助電容有效地工作,從而即使在修補之后也能保證顯示裝置的質量。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于夏普株式會社,未經夏普株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200910140662.8/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種梭形管的加工工法
- 下一篇:軸瓦軸套





