[發明專利]磁盤加密位鎖測試方法

無效

• 申請號: 200910140388.4
• 申請日: 2009-07-21
• 公開（公告）號: CN101964037A
• 公開（公告）日: 2011-02-02
• 發明（設計）人: 彭輝;陳志豐
• 申請（專利權）人: 英業達股份有限公司
• 主分類號: G06F21/04
• 分類號: G06F21/04
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006
• 代理人: 陳紅

技術領域

本發明是有關于一種數字數據處理方法，且特別是有關于一種加密的數字數據處理方法。

背景技術

磁盤加密位鎖(bitlocker)是窗口操作系統提供的重要功能，其可對磁盤系統進行加密，以防止數據的外泄。通常在磁盤系統透過磁盤加密位鎖加密后，在開機時需要進行解密的動作。然而，在長時間的操作下，磁盤加密位鎖于計算機系統的運作是否能維持正常，需要經過審慎的測試才能得知。

因此，如何設計一個新的磁盤加密位鎖測試方法，以有效的測試磁盤加密位鎖的運作，乃為此一業界亟待解決的問題。

發明內容

因此，本發明的目的在于提供一個磁盤加密位鎖測試方法，以有效的測試磁盤加密位鎖的運作。

本發明的一實施例是提供一種磁盤加密位鎖測試方法，用于計算機系統，其中計算機系統包含磁盤系統模塊以及通用序列總線(Universal?Serial?Bus；USB)硬盤，磁盤加密位鎖測試方法包含下列步驟：根據該磁盤系統模塊的一第一磁盤系統信息產生一磁盤系統信息快照；設定重啟(reboot)參數及測試次數門檻參數；根據重啟參數重啟計算機系統，以擷取計算機系統的第二磁盤系統信息；判斷第二磁盤系統信息及磁盤系統信息快照是否相符；當第二磁盤系統信息及磁盤系統信息快照相符時，使通用序列總線硬盤釋出金鑰；進入計算機系統的操作系統，以記錄測試次數；以及判斷測試次數是否超過測試次數門檻參數；其中當測試次數超過測試次數門檻參數時，結束測試，當測試次數未超過測試次數門檻參數時，再次根據重啟參數重啟該計算機系統。

本發明的另一實施例是提供一種磁盤加密位鎖測試方法，用于計算機系統，其中計算機系統包含磁盤系統模塊以及通用序列總線，磁盤加密位鎖測試方法包含下列步驟：根據該磁盤系統模塊的一第一磁盤系統信息產生一磁盤系統信息快照；設定重啟參數及測試時間門檻參數；根據重啟參數重啟計算機系統，以擷取計算機系統的第二磁盤系統信息；判斷第二磁盤系統信息及磁盤系統信息快照相符；當第二磁盤系統信息及磁盤系統信息快照相符時，使通用序列總線硬盤釋出金鑰；進入計算機系統的操作系統，以記錄測試時間；以及判斷測試時間是否超過測試時間門檻參數；其中當測試時間超過測試時間門檻參數時，結束測試，當測試時間未超過測試時間門檻參數時，再次根據重啟參數重啟該計算機系統。

應用本發明的優點在于通過設定重啟參數及測試時間門檻參數或測試次數門檻參數，反復地重啟計算機系統來進行大量的測試，而可確知磁盤加密位鎖的運作是否仍能維持正常，而輕易地達到上述的目的。

附圖說明

為讓本發明的上述和其它目的、特征、優點與實施例能更明顯易懂，所附附圖的說明如下：

圖1為本發明的一實施例的一計算機系統的示意圖；

圖2為本發明的一實施例的磁盤加密位鎖測試方法的流程圖；

圖3為本發明的另一實施例的磁盤加密位鎖測試方法的流程圖

圖4為本發明的又一實施例的磁盤加密位鎖測試方法的流程圖；以及

圖5為本發明的再一實施例的磁盤加密位鎖測試方法的流程圖。

【主要組件符號說明】

1：計算機系統???????????????????10：磁盤系統模塊

11：磁盤系統信息????????????????12：通用序列總線硬盤

13：比對結果????????????????????14：輸入接口

15：金鑰????????????????????????16：磁盤系統信息快照

17：密碼????????????????????????18：處理模塊

201-208：步驟???????????????????301-310：步驟

401-408：步驟???????????????????501-510：步驟

具體實施方式