[發明專利]液滴噴射裝置和液滴噴射方法有效
| 申請號: | 200910139310.0 | 申請日: | 2009-05-11 |
| 公開(公告)號: | CN101734010A | 公開(公告)日: | 2010-06-16 |
| 發明(設計)人: | 沼田學;池田宏;橋本健 | 申請(專利權)人: | 富士施樂株式會社 |
| 主分類號: | B41J2/01 | 分類號: | B41J2/01;B41J2/045;B41J2/165;B41J2/14 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 李輝 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 噴射 裝置 方法 | ||
技術領域
本發明涉及液滴噴射裝置和液滴噴射方法。
相關技術
已知噴墨頭(液滴噴射頭)的噴射特性根據墨粘度(流體粘度)的 改變而改變,噴射特性的改變可能對圖像質量有負面影響。
為了防止這種負面影響,提出了一種液體注入裝置,所述液體注入 裝置基于從上一次沖洗操作結束起經過的時間來估計墨粘度的增加(例 如,參見日本特開(JP-A)2006-137158號公報)。
還提出了一種噴墨打印機,所述噴墨打印機基于可能導致墨粘度增 加的因素,例如記錄頭附近的濕度和記錄紙的傳送速度,來改變預備的 噴射間隔(例如,參見JP-A2006-289748號公報)。
進一步提出了一種噴墨記錄裝置,所述噴墨記錄裝置將記錄頭移動 到設置有包括發光元件和光接收元件的阻塞檢測傳感器的特定位置,使 記錄頭噴射墨液滴,然后基于墨液滴的噴射速度計算墨粘度(例如,參 見JP-A2006-212868號公報)。
發明內容
本發明的目的是提供一種液滴噴射裝置和維護程序,所述液滴噴射 裝置和維護程序能夠執行在不浪費液體的情況下與充入液體噴射模塊的 流體的粘度對應地降低粘度的處理。
根據本發明的第一方面,提供有一種液滴噴射裝置,該液滴噴射裝 置包括液體噴射模塊和測量部。液滴噴射裝置包括液體噴射模塊和測量 部。所述液體噴射模塊包括具有壓電元件和噴射噴嘴的壓力腔、和將液 體提供到所述壓力腔的供給通路,并且所述液體噴射模塊被構成為從所 述噴射噴嘴噴射通過所述供給通路而提供給所述壓力腔的液體。所述測 量部測量施加到所述壓電元件的電壓與在施加所述電壓時流過所述液體 噴射模塊的電流之間的導納或相位差。
根據本發明的第二方面,所述液滴噴射裝置還包括電阻計算部和處 理部。所述電阻計算部基于所述測量部測量的所述相位差或所述導納來 計算第一等效電路中的一個電阻,所述第一等效電路表示所述液體噴射 模塊的電特性并且包括多個電阻,所述多個電阻包括所述供給通路的電 阻、所述壓力腔的電阻和所述噴射噴嘴的電阻。所述處理部基于所述電 阻計算部計算出的所述一個電阻來執行用于降低并調整所述液體噴射模 塊中的流體粘度的處理。
根據本發明的第三方面,所述多個電阻分別對應于形成第二等效電 路的多個聲阻,所述多個聲阻表示所述液體噴射模塊的聲學特性,并且 是根據所述供給通路、所述壓力腔和所述噴射噴嘴中的流體粘度的各個 大小而確定的。
根據本發明的第四方面,所述電阻計算部將所述一個電阻計算為其 中測量值與理論值之差的平方和的總和等于或小于預定閾值的電阻。所 述測量值表示在施加各自具有不同頻率的多個電壓時所述測量部測量到 的各個頻率的導納或相位差。所述理論值表示與基于所述第一等效電路 確定的多個頻率對應的各個頻率的理論導納或理論相位差。
根據本發明的第五方面,所述電阻計算部使用作為峰值的相位差或 導納來計算所述一個電阻。
根據本發明的第六方面,所述電阻計算部在施加預定頻率的電壓時 計算所述一個電阻。
根據本發明的第七方面,根據所述第二等效電路中的所述噴射噴嘴 內的流體粘度大小確定并對應于由所述電阻計算部計算出的所述電阻的 所述聲阻由下式表達:
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