[發(fā)明專利]顯示裝置的檢查方法和檢查裝置、顯示裝置用基板和顯示裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910139189.1
• 申請日: 2009-05-11
• 公開（公告）號: CN101577079A
• 公開（公告）日: 2009-11-11
• 發(fā)明（設計）人: 高取憲一
• 申請（專利權）人: NEC液晶技術株式會社
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G01R31/305
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 孫志湧;李 亞

1.一種檢查方法，檢查具有多個像素的顯示裝置的顯示裝置用基 板，其特征在于，

所述顯示裝置在非矩形顯示區(qū)域內具有由矩形的像素構成的中心 部和在由該矩形的像素構成的中心部的周圍排列的非矩形的像素，

所述檢查方法具有以下步驟：

輸入上述顯示裝置的設計信息；

根據上述顯示裝置的設計信息，在上述顯示裝置用基板中設定檢 查對象區(qū)域和分析對象區(qū)域中的至少一方；

基于上述設計信息，生成適用于檢查所產生的檢測結果的加權信 息；

對于對檢查對象進行檢查所產生的檢測結果和上述加權信息進行 運算；以及

根據上述運算的加權檢測結果和預定的閾值，判定上述檢查對象 的優(yōu)劣。

2.根據權利要求1所述的檢查方法，其特征在于，

在根據上述設計信息生成適用于檢查所產生的檢測結果的加權信 息的步驟中，使用上述設計信息中與上述顯示裝置用基板的布線連接 的像素的數量的信息。

3.根據權利要求1所述的檢查方法，其特征在于，

在根據上述設計信息生成適用于檢查所產生的檢測結果的加權信 息的步驟中，使用上述設計信息中作為檢查對象的像素周圍的像素的 數量的信息或存在位置。

4.根據權利要求1所述的檢查方法，其特征在于，還具有以下步 驟：

根據上述設計信息，生成適用于判斷檢查對象優(yōu)劣的閾值的加權 信息，

對上述閾值和上述加權信息進行運算，以及

根據對檢查對象進行檢查所產生的檢測結果和通過上述運算所獲 得的加權閾值，判斷該檢查對象的優(yōu)劣。

5.一種檢查方法，檢查具有多個像素的顯示裝置的顯示裝置用基 板，其特征在于，

所述顯示裝置在非矩形顯示區(qū)域內具有由矩形的像素構成的中心 部和在由該矩形的像素構成的中心部的周圍排列的非矩形的像素，

所述檢查方法具有以下步驟：

運算部輸入上述顯示裝置的設計信息；

上述運算部根據上述設計信息設定檢查對象區(qū)域；

上述運算部根據上述設計信息生成對檢查所產生的檢測信號的加 權信息；

上述運算部保存測定部對檢查對象所進行的檢查測定的檢測信 號；

上述運算部對上述保存的檢測信號和上述加權信息進行運算；

上述運算部設定進行上述檢查對象的優(yōu)劣判斷的閾值；以及

上述運算部根據通過上述保存的檢測信號和上述加權信息的運算 所獲得的加權檢測信號及上述閾值，判斷上述檢查對象的優(yōu)劣。

6.一種檢查方法，檢查具有多個像素的顯示裝置的顯示裝置用基 板，其特征在于，

所述顯示裝置在非矩形顯示區(qū)域內具有由矩形的像素構成的中心 部和在由該矩形的像素構成的中心部的周圍排列的非矩形的像素，

所述檢查方法具有以下步驟：

運算部輸入上述顯示裝置的設計信息；

上述運算部根據上述設計信息設定檢查對象區(qū)域；

上述運算部根據上述設計信息生成對判斷檢查對象的優(yōu)劣的閾值 的加權信息；

上述運算部保存測定部對檢查對象所進行的檢查測定的檢測信 號；

上述運算部設定進行上述檢查對象的優(yōu)劣判斷的閾值；

上述運算部對上述閾值和上述加權信息進行運算；以及

上述運算部根據通過上述閾值和上述加權信息的運算所獲得的加 權閾值及上述檢測信號，判斷該檢查對象的優(yōu)劣。

7.根據權利要求5所述的檢查方法，其特征在于，

向上述顯示裝置基板的檢查對象區(qū)域照射電子束，通過檢測器檢 測來自上述顯示裝置基板的二次電子，獲得上述檢查測定的檢測信號。

8.根據權利要求6所述的檢查方法，其特征在于，

向上述顯示裝置基板的檢查對象區(qū)域照射電子束，通過檢測器檢 測來自上述顯示裝置基板的二次電子，獲得上述檢查測定的檢測信號。