[發明專利]旋轉測試模塊及其測試系統

無效

• 申請號: 200910130370.6
• 申請日: 2009-04-03
• 公開（公告）號: CN101852687A
• 公開（公告）日: 2010-10-06
• 發明（設計）人: 倪建青;張雅婷;賴茂德;徐培倫
• 申請（專利權）人: 京元電子股份有限公司
• 主分類號: G01M19/00
• 分類號: G01M19/00;G01P15/00;G01K7/02
• 代理公司: 北京中原華和知識產權代理有限責任公司 11019
• 代理人: 壽寧;張華輝

1.一種旋轉測試模塊，其特征在于包含：

至少一容置裝置，用以暫時容置一受測元件；以及

一旋轉機構，用以對該受測元件進行一或多轉軸的旋轉。

2.根據權利要求1所述的旋轉測試模塊，其特征在于其中所述的容置裝置包含一插槽。

3.根據權利要求1所述的旋轉測試模塊，其特征在于其中所述的受測元件為運動感測器。

4.根據權利要求1所述的旋轉測試模塊，其特征在于其還包含一元件介面板，其提供一電氣介面用以讓該受測元件的信號得以傳送至該旋轉測試模塊的其余部分。

5.根據權利要求1所述的旋轉測試模塊，其特征在于其中所述的旋轉機構包含：

一第一旋轉臺，其受驅動而得以繞第一轉軸作旋轉。

6.根據權利要求5所述的旋轉測試模塊，其特征在于其中所述的旋轉機構還包含：

至少一個第二旋轉臺，設于該第一旋轉臺上，該第二旋轉臺受驅動而得以繞第二轉軸作旋轉。

7.根據權利要求1所述的旋轉測試模塊，其特征在于其還包含一升降機構，用以升起或降下該旋轉機構。

8.根據權利要求1所述的旋轉測試模塊，其特征在于其還包含一加熱裝置，用以控制受測元件的溫度。

9.根據權利要求8所述的旋轉測試模塊，其特征在于其中所述的加熱裝置設于該容置裝置內，并包含：

至少一加熱器；及

一溫度感測器，用以感測溫度。

10.一種旋轉測試系統，其特征在于包含：

一旋轉測試模塊，其包含至少一容置裝置，用以暫時容置一受測元件，及一旋轉機構，用以對該受測元件進行一或多轉軸的旋轉；

一檢選分類機臺，用以拾取及置放該受測元件至該旋轉測試模塊；以及

一測試機臺，用以分別控制該旋轉測試模塊及該檢選分類機臺。

11.根據權利要求10所述的旋轉測試系統，其特征在于其中所述的檢選分類機臺包含：

一拾取/置放裝置，用以拾取及置放該受測元件至該旋轉測試模塊以進行測試，并于測試完成后取回該受測元件；以及

一分類裝置，其根據測試結果將該受測元件加以分類。

12.根據權利要求10所述的旋轉測試系統，其特征在于其中所述的測試機臺包含測試頭。

13.根據權利要求12所述的旋轉測試系統，其特征在于其還包含：

第一傳輸線，讓該測試機臺可藉以控制該旋轉測試模塊；及

第二傳輸線，讓該測試機臺可藉以控制該檢選分類機臺。