[發明專利]發光模塊的檢測設備及檢測方法

無效

• 申請號: 200910129258.0
• 申請日: 2009-04-03
• 公開（公告）號: CN101852674A
• 公開（公告）日: 2010-10-06
• 發明（設計）人: 魏志宏;吳明昌;許志揚;吳智龍;鄭丁元
• 申請（專利權）人: 研晶光電股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01R31/26;G01R31/01;G01J3/28;G01J1/00
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006
• 代理人: 梁揮;張燕華

技術領域

本發明涉及一種檢測設備，尤其涉及一種發光模塊及其組件的檢測設備及檢測方法。

背景技術

近年來，利用發光二極管來照明已相當地普遍，例如：手電筒、汽機車的尾燈以及方向燈或是紅綠燈。上述的燈具通常利用多個的發光二極管排列而成。若是此等發光二極管的其中之一損壞而無法發亮，則會使燈具整體照明的效果打折扣。因此，在制作發光二極管時，確保其良率為一相當重要的課題。

因此，發光二極管在制作完成后，出廠之前都必須經過檢測，確保其可正常使用。現有的發光二極管檢測設備，通常為一積分球檢測器。然而在利用積分球檢測器對發光二極管作檢測時，必須移動積分球檢測器使其對準發光二極管才能進行檢測。或是固定積分球檢測器的位置，移動發光二極管的位置使待檢測的發光二極管位于積分球檢測器的正下方，再進行檢測。

然而，此種檢測方式在實際執行時仍具有缺失，在檢測過程時由于必須移動每個發光二極管或是移動積分球檢測器。如此一來，當待檢測發光二極管的數量增加后，便耗費許多時間在移動發光二極管或是移動積分球檢測器上，無法有效提高檢測效率。

發明內容

本發明的一目的，在于提供一種發光模塊及其組件的檢測設備及檢測方法，由電子信號連接器的控制使發光模塊上的多個發光二極管依序發亮來讓積分檢測器檢測，而節省移動該些發光二極管的時間，提高檢測效率。

為了達到上述的目的，本發明提供一種發光模塊的檢測設備，該發光模塊上布設有多個發光二極管，該檢測設備包括一積分檢測器、一箱體、一承放板、一傳動機構以及一電性導接機構；該積分檢測器對應于所述發光模塊配置，該箱體內部形成有一容置室，該容置室的一側形成有一開口，該承放板對應該開口并蓋合該容置室，該承放板設有多個通孔，所述發光模塊置放于該承放板上，該傳動機構固定于該箱體并可驅動該承放板相對該箱體作位移，該電性導接機構設于該容置室內，該電性導接機構包含多個導電端子以及一電子信號連接器，該些導電端子的一端分別穿設于該些通孔內，該電子信號連接器與該些導電端子電連接，并用以控制該些導電端子的電氣信號的通路或斷路；其中，該傳動機構驅動該承放板移動，以使該些發光二極管與該些導電端子相互導接，利用該電子信號連接器的通路或斷路變換使該些發光二極管產生明、滅，而從該積分檢測器予以檢出。

為了達到上述的目的，本發明提供一種發光模塊的檢測設備，該發光模塊上布設有多個發光二極管，該檢測設備包括一積分檢測器、一箱體、一承放板以及一電性導接機構，該積分檢測器對應于所述發光模塊配置，該箱體內部形成有一容置室，該容置室的一側形成有一開口，該承放板對應該開口并蓋合該容置室，該承放板設有多個通孔，所述發光模塊置放于該承放板上，該電性導接機構設于該容置室內，該電性導接機構包含多個導電端予以及一電子信號連接器，該些導電端子的一端分別穿設于該些通孔內，該電子信號連接器與該些導電端子電連接，并用以控制該些導電端子的電氣信號的通路或斷路；其中，該些發光二極管與該些導電端子相互導接，利用該電子信號連接器的通路或斷路變換使該些發光二極管產生明、滅，而從該積分檢測器予以檢出。

為了達到上述的目的，本發明提供一種發光模塊的檢測方法，其步驟包括：a)提供布設有多個發光二極管的一發光模塊；b)提供一積分檢測器，將其裝設于該發光模塊上方；c)提供具有多個導電端子以及與該些導電端子電連接的一電子信號連接器的一電性導接機構；d)將該些發光二極管分別與該些導電端子相互導接；e)利用該電子信號連接器依序變換該些發光二極管與該些導電端子的電氣信號的通路或斷路；以及f)從該積分檢測器上檢視出各該發光二極管的光電特性。

本發明相較于現有技術所達到的功效在于，解決現有發光二極管在進行檢測時，必須將發光二極管設置于一維或二維移動機構再依序移動各發光二極管使其對準積分檢測器來進行檢測的缺點。本發明的積分檢測器罩蓋于發光模塊上，利用電子信號連接器來控制各個發光二極管的明、滅，以使積分檢測器予以檢出，節省移動各個發光二極管所耗費的時間，以提高檢測效率。以下結合附圖和具體實施例對本發明進行詳細描述，但不作為對本發明的限定。

附圖說明

圖1為本發明檢測設備的立體截面圖；

圖2為本發明檢測設備的使用狀態截面圖(一)；

圖3為本發明檢測設備的使用狀態截面圖(二)；

圖4為發光二極管的立體外觀圖；

圖5為圖4沿5-5剖面線的剖視圖；

圖6為本發明檢測設備另一實施例的立體截面圖；

圖7為本發明檢測設備又一實施例的立體截面圖；