[發明專利]磁阻元件和磁存儲器有效
| 申請號: | 200910127673.2 | 申請日: | 2009-03-23 |
| 公開(公告)號: | CN101546807A | 公開(公告)日: | 2009-09-30 |
| 發明(設計)人: | 北川英二;吉川將壽;永瀬俊彥;大坊忠臣;長嶺真;西山勝哉;岸達也;與田博明 | 申請(專利權)人: | 株式會社東芝 |
| 主分類號: | H01L43/08 | 分類號: | H01L43/08;H01L43/10;G11C11/15 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 | 代理人: | 屠長存 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 磁阻 元件 磁存儲器 | ||
技術領域
本發明涉及磁阻元件和磁存儲器。例如,本發明涉及一種可以通 過向其雙向提供電流來存儲信息的磁阻元件。
背景技術
使用鐵磁材料的磁隨機存取存儲器(MRAM)被預期為具有非 易失性、高速運行、大容量和低功耗的非易失性存儲器。MRAM包 括利用隧穿磁阻(TMR)效應的磁性隧道結(MTJ),作為存儲元件。 MRAM根據MTJ元件的磁化配置來存儲信息。
利用互連電流的磁場來執行寫入操作的傳統的MRAM有下列問 題。隨著進一步的比例縮小(scale?reduction),流過互連的電流減 小,而由于這個原因,很難將足夠的電流磁場提供到MTJ元件。另 外,由MTJ元件的比例縮小導致將信息記錄到MTJ元件所需要的電 流磁場的大小增加。因此,對于126M比特到256M比特這一代,在 MRAM中利用互連電流的磁場來執行寫入操作存在理論極限。
為了解決前述的問題,已經提出利用自旋動量轉移(SMT)來 執行寫入操作的MRAM(文獻1:US專利No.6,256,223)。利用自 旋動量轉移(也稱為自旋注入)的磁化切換(magnetization?switching) 具有下列優點。具體地,即使元件的比例縮小,磁化切換所需電流密 度的幅度(magnitude)也不增加,因此,可以進行高效寫入操作。
發明內容
根據本發明的一個方面,提供一種磁阻元件,包括:第一底層, 具有取向在(001)面的立方或四方晶體結構;第一磁性層,設于第 一底層上,具有垂直于膜表面的磁各向異性,并且具有取向在(001) 面的面心四方(fct)結構;第一非磁性層,設于第一磁性層上;以及 第二磁性層,設于第一非磁性層上,并且具有垂直于膜表面的磁各向 異性。第一底層的面內(in-plane)晶格常數a1和第一磁性層的面內 晶格常數a2滿足下式,其中b是第一磁性層的Burgers矢量的幅度, v是第一磁性層的彈性模量,hc是第一磁性層的厚度。
根據本發明的一個方面,提供一種磁阻元件,包括:第一底層, 具有取向在(001)面的鈣鈦礦結構;第一磁性層,設于第一底層上, 具有垂直于膜表面的磁各向異性,并且具有取向在(001)面的fct結 構;第一非磁性層,設于第一磁性層上;以及第二磁性層,設于第一 非磁性層上,并且具有垂直于膜表面的磁各向異性。第一底層的面內 晶格常數a1和第一磁性層的面內晶格常數a2滿足下式,其中b是第 一磁性層的Burgers矢量的幅度,v是第一磁性層的彈性模量,hc是 第一磁性層的厚度。
|a1-a2|/a2<b×{ln(hc/b)+1}/{2π×hc×(1+v)}
根據本發明的一個方面,提供一種包括存儲器單元的磁存儲器, 該存儲器單元包括磁阻元件,以及將該磁阻元件夾在中間以提供電流 到該磁阻元件的第一電極和第二電極。
附圖說明
圖1是表示晶格失配與記錄層的臨界厚度之間的關系的曲線;
圖2是示出根據第一實施例的MTJ元件10的結構的截面圖;
圖3是示出根據第一實施例的MTJ元件10的另一種結構的截面 圖;
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