[發明專利]測量線形聚合物分子量分布的方法無效
| 申請號: | 200910095287.X | 申請日: | 2009-01-08 |
| 公開(公告)號: | CN101458246A | 公開(公告)日: | 2009-06-17 |
| 發明(設計)人: | 沈烈;李新軍 | 申請(專利權)人: | 浙江大學 |
| 主分類號: | G01N33/00 | 分類號: | G01N33/00;G01N11/00 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務所有限公司 | 代理人: | 韓介梅 |
| 地址: | 310027*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測量 線形 聚合物 分子量 分布 方法 | ||
技術領域
本發明涉及測定聚合物分子量分布的方法,尤其是測量線形聚合物分子量 分布的方法。
背景技術
高分子材料的機械性能不僅與分子量的大小有關,而且與分子量分布有密 切的關系,因此表征聚合物的分子量及其分布對材料的加工及力學性能的改善 具有重要意義。測量聚合物分子量分布的方法有許多,如光散射法、超速離心 沉降速度法、電子顯微鏡法、體積排除法等。這些方法都要求找到聚合物合適 的溶劑,但含氟的聚合物很難找到合適的溶劑,故用以上幾種常規的方法難以 測出其分子量分布。同時傳統的方法測試費用高,而且周期長,需要溶劑,會 污染環境。
隨著流變學的發展,用流變的方法來測量聚合物的分子量分布成為流變學 研究的一個熱點。流變學發展帶動了流變測試儀器的發展,各大生產流變儀器 的公司如美國的TA公司、德國Hakke公司等都推出一系列流變儀。其中,在流 變儀軟件中加入分析所測聚合物分子量分布的程序會提高產品競爭力。如TA公 司采用下式計算:
可是由于求逆過程中的不適定問題,給出的結果不能令人滿意。出版 物“W.H..Tuminello,Molecular?weight?and?molecular?weight?distribution?from dynamic?measurements?of?polymer?melts.Polymer?Eng.and?Sci,1986,26(19),P: 1339-1347”中Tuminello提出了一個計算線形聚合物分子量分布的模型,可是 由于其校準方法的限制,限制了其應用范圍。
發明內容
本發明的目的旨在克服上述傳統方法的缺點,提供一種廉價、快速、環保、 可靠的測量線形聚合物分子量分布的方法。
本發明的測量線形聚合物分子量分布的方法,包括以下步驟:
1)用流變儀進行動態頻率掃描,測出線形聚合物在熔融狀態下的動態儲存 模量G′(ω)和動態損耗模量G″(ω);
2)在儀器測試范圍內,如果動態損耗模量G″(ω)出現峰值,用式(1)計算 聚合物的第一平臺模量GN0:
式中,ω是測試頻率。ωpeak是G″出現峰值時對應的頻率;
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