[發明專利]測量線形聚合物分子量分布的方法

無效

• 申請號: 200910095287.X
• 申請日: 2009-01-08
• 公開（公告）號: CN101458246A
• 公開（公告）日: 2009-06-17
• 發明（設計）人: 沈烈;李新軍
• 申請（專利權）人: 浙江大學
• 主分類號: G01N33/00
• 分類號: G01N33/00;G01N11/00
• 代理公司: 杭州求是專利事務所有限公司
• 代理人: 韓介梅

1.測量線形聚合物分子量分布的方法，其特征是包括以下步驟：

1)用流變儀進行動態頻率掃描，測出線形聚合物在熔融狀態下的動態儲存 模量G′(ω)和動態損耗模量G″(ω)；

2)在儀器測試范圍內，如果動態損耗模量G″(ω)出現峰值，用式(1)計算 聚合物的第一平臺模量

GN0=4π∫0ωpeakG′′dlnω---(1)]]>

式中，ω是測試頻率。ω_peak是G″出現峰值時對應的頻率；

如果動態損耗模量G″(ω)未出現峰值，用Maxwell-wiechcert模型擬合測量 得到的動態儲存模量G′(ω)和動態損耗模量G″(ω)：

G′(ω)=Σj=1nGj0(ωτj)21+(ωτj)2---(2)]]>

G′′(ω)=Σj=1nGj0(ωτj)21+(ωτj)2---(3)]]>

式中，G_j⁰、τ_j是參數；

再用式(4)計算聚合物的第一平臺模量

GN0=Σj=1nGj0---(4)]]>

3)將第一平臺模量代入式(5)、式(6)，得到聚合物相對分子量的重量 積分分布函數I(M)

I(M)=1-G′(ω)/GN0---(5)]]>

1/ω=λM‾w3.4---(6)]]>

式中λ為任意值；

4)取λ任一值，得聚合物相對分子量的重量積分分布曲線，然后對積分曲 線進行微分，得到聚合物相對分子量的重量微分分布曲線，按式(7)對聚合物 相對分子量重量微分分布曲線計算，得到一個相對重均分子量

(M‾w)R=∫0+∞W(M)MdM/∫0+∞W(M)dM---(7)]]>

式中：W(M)為質量分數，M為分子量

5)定義校準因子S如下：

S=M‾w/(M‾w)R---(8)]]>

式中為采用GPC、零切粘度法、光散射法、超速離心沉降速度法或電子顯微 鏡法得到的重均分子量；

將步驟4)所得的聚合物相對分子量重量微分分布曲線橫坐標擴大S倍，最 終得到聚合物的分子量重量微分分布曲線，即為該線形聚合物的分子量分布。