[發明專利]加速器劑量監測裝置及校正方法、加速器靶點P偏移監測方法

有效

• 申請號: 200910092559.0
• 申請日: 2009-09-11
• 公開（公告）號: CN102023306A
• 公開（公告）日: 2011-04-20
• 發明（設計）人: 阮明;趙崑;彭華
• 申請（專利權）人: 同方威視技術股份有限公司
• 主分類號: G01T1/02
• 分類號: G01T1/02;G01N23/04
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 王新華

1.一種X射線輻射成像系統中的加速器X射線劑量監測裝置，其中所述X射線輻射成像系統包括：用于輻射X射線的加速器X射線源；用于對加速器X射線進行準直的準直器；用于探測穿透被檢測物體之后的X射線劑量的檢測探測器，所述加速器X射線劑量監測裝置包括：

X射線劑量監測探測器，其中基于所述X射線劑量監測探測器監測到的X射線輻射劑量對檢測探測器測量到的X射線劑量進行校正，其特征在于：

所述X射線劑量監測探測器設置在所述準直器的準直縫的至少一側上，用于監測從加速器輻射出的X射線的劑量。

2.根據權利要求1所述的加速器X射線劑量監測裝置，其中：

所述X射線劑量監測探測器包括第一、第二監測探測器部，所述第一、第二監測探測器部分別設置在所述準直器的準直縫的兩側上。

3.根據權利要求1所述的加速器X射線劑量監測裝置，其中：

所述X射線劑量監測探測器由至少一個探測器模塊組成。

4.根據權利要求3所述的加速器X射線劑量監測裝置，其中：

所述X射線劑量監測探測器由多個探測器模塊組成，所述多個探測器模塊沿平行于所述準直縫的長度方向成線性排列。

5.根據權利要求2所述的加速器X射線劑量監測裝置，其中：

所述第一、第二監測探測器部中的每一個由至少一個探測器模塊組成。

6.根據權利要求5所述的加速器X射線劑量監測裝置，其中：

所述第一、第二監測探測器部中的每一個由多個探測器模塊組成，所述多個探測器模塊沿平行于所述準直縫的長度方向成線性排列。

7.一種X射線輻射成像系統，包括：

用于輻射X射線的加速器X射線源；

用于對加速器X射線進行準直的準直器；

用于探測穿透被檢測物體之后的X射線劑量的檢測探測器；以及

用于對加速器輻射出的X射線劑量進行監測的加速器X射線劑量監測探測器，

其中基于所述X射線劑量監測探測器監測的X射線輻射劑量對檢測探測器測量的X射線劑量進行校正，其特征在于：

所述X射線劑量監測探測器設置在所述準直器的準直縫的至少一側上。

8.根據權利要求7所述的X射線輻射成像系統，其中：

所述X射線劑量監測探測器包括第一、第二監測探測器部，所述第一、第二監測探測器部分別設置在所述準直器的準直縫的兩側上。

9.根據權利要求7所述的X射線輻射成像系統，其中：

所述X射線劑量監測探測器由至少一個探測器模塊組成。

10.根據權利要求9所述的X射線輻射成像系統，其中：

所述X射線劑量監測探測器由多個探測器模塊組成，所述多個探測器模塊沿平行于所述準直縫的長度方向成線性排列。

11.根據權利要求8所述的X射線輻射成像系統，其中：所述第一、第二監測探測器部中的每一個由至少一個探測器模塊組成。

12.根據權利要求11所述的X射線輻射成像系統，其中：

所述第一、第二監測探測器部中的每一個由多個探測器模塊組成，所述多個探測器模塊沿平行于所述準直縫的長度方向成線性排列。

13.一種對X射線輻射成像系統中的加速器X射線劑量進行校正的方法，其中X射線輻射成像系統包括：用于輻射X射線的加速器X射線源；用于對加速器X射線源輻射的X射線進行準直的準直器；以及對穿透被檢測物體之后的X射線劑量進行探測的檢測探測器，所述方法包括步驟：

將用于對加速器輻射出的X射線劑量進行監測的X射線劑量監測探測器設置在所述準直器的準直縫的至少一側上；

驅動加速器X射線源輻射X射線，并獲得加速器X射線劑量監測裝置監測的加速器輻射出的X射線劑量；以及

基于所述X射線劑量監測探測器監測的X射線輻射劑量對檢測探測器測量的X射線劑量進行校正。

14.根據權利要求13所述的對X射線輻射成像系統中的加速器X射線劑量進行校正的方法，其中：

所述X射線劑量監測探測器由多個探測器模塊組成，所述多個探測器模塊沿平行于所述準直縫的長度方向成線性排列。