[發(fā)明專利]一種X-射線衍射儀測定超細粉末的制樣方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910087747.4 | 申請日： | 2009-06-24 |
| 公開（公告）號： | CN101587035A | 公開（公告）日： | 2009-11-25 |
| 發(fā)明（設計）人： | 李波;郭永恒;李榮柱 | 申請（專利權）人： | 中國鋁業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N1/28 | 分類號： | G01N1/28;G01N23/20 |
| 代理公司： | 中國有色金屬工業(yè)專利中心 | 代理人： | 李迎春 |
| 地址： | 100082北*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 射線 衍射 測定 粉末 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種X-射線衍射儀測定超細粉末的制樣方法，其特征在于其制品過程的步驟依次包括：
(1)首先在瑪瑙研缽中把團聚的超細粉末研開；
(2)取一平板玻璃水平放置，將一載玻片放置在平板玻璃上；
(3)將樣品盒拿掉后盒蓋，倒扣放到載玻片上；
(4)將研開后的超細粉末充填到樣品盒中，充填的超細粉末的充滿壓實后，料面與樣品盒幫高度平齊；
(5)然后蓋上樣品盒后盒蓋，將充填了超細粉末的樣品盒和載玻片扣緊一同翻轉(zhuǎn)過來，拿掉載波片，將與載玻片接觸超細粉沫面作為X-衍射的測試面，制得測試樣。
下載完整專利技術內(nèi)容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國鋁業(yè)股份有限公司，未經(jīng)中國鋁業(yè)股份有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200910087747.4/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇：一種充電器及電子設備
- 下一篇：一種生物液肥及其制備方法
