[發(fā)明專利]一種數(shù)字電路板自動生成向量的測試方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910074895.2
• 申請日: 2009-07-17
• 公開（公告）號: CN101614788A
• 公開（公告）日: 2009-12-30
• 發(fā)明（設計）人: 黃考利;連光耀;王振生;鄧大權;呂曉明;陳星
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍63908部隊
• 主分類號: G01R31/317
• 分類號: G01R31/317
• 代理公司: 石家莊國為知識產(chǎn)權事務所
• 代理人: 李榮文

技術領域

本發(fā)明涉及電子測試系統(tǒng)領域，主要用于數(shù)字電路板的測試與故障診斷需要，具體涉及一種數(shù)字電路板自動生成向量的測試方法。

背景技術

隨著裝備信息化程度的不斷加強，數(shù)字電路已經(jīng)成為電子裝備的重要組成部分。其質(zhì)量直接影響到裝備整機的質(zhì)量，其生產(chǎn)、維修和檢驗周期，直接影響到整機的研制速度和綜合指標。因此，對數(shù)字電路的測試和故障診斷技術進行研究已經(jīng)成為現(xiàn)代測試技術研究的重要領域。但是，大多數(shù)的測試系統(tǒng)都是針對整臺設備或系統(tǒng)設計的，針對電路板進行測試的自動測試方法還不多見。

許多測試系統(tǒng)中的測試向量生成主要依靠工程測試人員憑借自己的豐富經(jīng)驗和理論知識完成，這不僅對測試人員的素質(zhì)要求較高，而且測試速度慢、可信度低，尤其是隨著系統(tǒng)的日趨復雜，測試周期長，無法排除測試結果中的人為因素，無法實現(xiàn)集成電路大批量自動測試。基于計算機自動測試生成方法是從Eldred于1959年提議采用推導測試的技術開始，目前國際上已經(jīng)在數(shù)字電路測試生成方面提出了許多算法。其中，有代表的主要有：一維敏化法、布爾差分法、D算法、九值D算法、PODEM和FAN算法。上述方法都是建立在SSA模型基礎上的，而且都沿用了通路敏化的思想。而且對于時序電路來說，其主要由存儲元件(如觸發(fā)器)和組合邏輯電路(如組合邏輯門)組成，電路的輸出不僅與當前的輸入有關，還與電路的歷史狀態(tài)有關，因此其測試生成遠比組合電路的測試生成復雜。目前對時序電路而言，比較有效的測試生成方法主要有擴展的向后驅(qū)趕(Extended?Back-Trace，EBT)算法、FASTEST算法、CONTEST算法等。不過，這些算法實現(xiàn)起來較困難，很多都是停留在理論研究層面，實際系統(tǒng)并沒有得到應用。

發(fā)明內(nèi)容

為解決對任意數(shù)字電路板都可以測試、提高測試的可靠性與效率的技術問題，本發(fā)明設計了一種數(shù)字電路板自動生成向量的測試方法，可以根據(jù)被測電路的不同自動生成向量進行測量，可以十分方便地實現(xiàn)測試端口方向的任意配置，滿足不同類型電路板的測試需求。

本發(fā)明實現(xiàn)發(fā)明目的采用的技術方案是，一種數(shù)字電路板自動生成向量的測試方法，以上方法是在安裝有配套測試程序和自動測試生成系統(tǒng)的上位機中實現(xiàn)的，測試方法首先對被測電路進行自動測試生成并得到相應測試向量表，其次根據(jù)所生成的向量表編寫測試程序、并按此程序的時序關系執(zhí)行測試過程，最后讀取被測電路的響應信息并與標準向量信息比較，判斷被測電路的故障，其中所說的對被測電路進行自動測試生成并得到相應測試向量表的具體過程是：

A)、將被測電路的數(shù)據(jù)信息文件以編碼形式存入指定的系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫中；

B)、根據(jù)編碼文件進行D通路敏化處理，找到一個D故障傳播路徑，并將故障響應信息以測試向量表的形式通過D故障傳播路徑存儲到電路端口地址；

C)、對找出的D通路進行一致性檢查，刪除錯誤向量和冗余向量的真值表，將符合要求的測試向量真值表存入系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫中；

D)、重復步驟B和步驟C，控制每次生成的符合要求的測試向量真值表的個數(shù)；

E)、得到所有符合被測電路的測試向量，按照時序、順序關系存入系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫，等待下位機執(zhí)行測試程序。

本發(fā)明的有益效果是測試能力強、測試生成系統(tǒng)得到的測試向量可以自動轉(zhuǎn)化為被測電路的測試程序，提高了系統(tǒng)的執(zhí)行效率，使系統(tǒng)可以十分方便地應用于新型電路板的試驗測試。

下面結合附圖對本發(fā)明進行詳細說明。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的方法流程圖。

具體實施方式

參看圖1，一種數(shù)字電路板自動生成向量的測試方法，以上方法是在安裝有配套測試程序和自動測試生成系統(tǒng)的上位機中實現(xiàn)的，上述的測試方法首先對被測電路進行自動測試生成并得到相應測試向量表，其次根據(jù)所生成的向量表編寫測試程序、并按此程序的時序關系執(zhí)行測試過程，最后讀取被測電路的響應信息并與標準向量信息比較，判斷被測電路的故障，其中所說的對被測電路進行自動測試生成并得到相應測試向量表的具體過程是：

A)、將被測電路的數(shù)據(jù)信息文件以編碼形式存入指定的系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫中；

B)、根據(jù)編碼文件進行D通路敏化處理，找到一個D故障傳播路徑，并將故障響應信息以測試向量表的形式通過D故障傳播路徑存儲到電路端口地址；

C)、對找出的D通路進行一致性檢查，刪除錯誤向量和冗余向量的真值表，將符合要求的測試向量真值表存入系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫中；

D)、重復步驟B和步驟C，控制每次生成的符合要求的測試向量真值表的個數(shù)；