[發明專利]反向阻斷二極晶閘管有效
| 申請號: | 200910062814.7 | 申請日: | 2009-06-24 |
| 公開(公告)號: | CN101931002A | 公開(公告)日: | 2010-12-29 |
| 發明(設計)人: | 顏家圣;張橋;吳擁軍;楊成標;劉小俐 | 申請(專利權)人: | 湖北臺基半導體股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/74 | 分類號: | H01L29/74;H01L29/36;H01L21/332 |
| 代理公司: | 襄樊嘉琛知識產權事務所 42217 | 代理人: | 嚴崇姚 |
| 地址: | 441021 湖*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 反向 阻斷 二極 晶閘管 | ||
1.一種反向阻斷二極晶閘管,包括管殼和封裝在該管殼內的晶閘管芯片,晶閘管芯片為P1陽極發射區(3)、N1長基區(4)、P2短基區(5)、N2陰極發射區(6)四層結構,P1陽極發射區(3)外為燒結歐姆接觸層(2)和陽極鉬片(1),N2陰極發射區(6)設有陰極表面金屬鍍層(7),晶閘管芯片臺面設有保護膠層(9),其特征是:所述的晶閘管芯片N2陰極發射區(6)設有特別陰極區(8),該區域及其下方的雜質濃度高于N2陰極發射區(6),并在N2陰極發射區(6)和P2短基區(5)的界面形成陰極溝道(10)。
2.根據權利要求1所述的一種反向阻斷二極晶閘管,其特征是:所述的特別陰極區(8)位于晶閘管芯片中心。
3.根據權利要求1或2所述的一種反向阻斷二極晶閘管,其特征是:所述的特別陰極區(8)為刻蝕槽,在該刻蝕槽(8)下方及周圍形成濃度高于N2陰極發射區(6)濃度的高濃度N型區,且高濃度N型區伸入P2短基區(5),形成陰極溝道(10)。
4.根據權利要求3所述的一種反向阻斷二極晶閘管,其特征是:所述的N2陰極發射區(6)是單窗口擴散形成的整塊式陰極發射區。
5.根據權利要求3所述的一種反向阻斷二極晶閘管,其特征是:所述的N2陰極發射區(6)是多窗口擴散形成的分塊式陰極發射區。
6.根據權利要求2所述的一種反向阻斷二極晶閘管,其特征是:所述的特別陰極區(8)是直接在晶閘管芯片中心部位進行選擇擴散形成的,該擴散也使N2陰極發射區(6)的結深向P2短基區(5)推進,形成陰極溝道(10)。
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