[發明專利]高電源抑制比低失調的基準源電路有效
| 申請號: | 200910060378.X | 申請日: | 2009-08-19 |
| 公開(公告)號: | CN101799699A | 公開(公告)日: | 2010-08-11 |
| 發明(設計)人: | 武國勝;吳召雷;黃俊維 | 申請(專利權)人: | 四川和芯微電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G05F3/30 | 分類號: | G05F3/30 |
| 代理公司: | 成都天嘉專利事務所(普通合伙) 51211 | 代理人: | 徐豐 |
| 地址: | 610041 四川省*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電源 抑制 失調 基準 電路 | ||
技術領域
本發明涉及微電子集成電路領域,尤其是一種高電源抑制比低失調的帶隙基準 源電路。
背景技術
在混合集成電路設計中,片內集成的高性能基準源不可或缺。隨著微電子技術 的發展,數模混合集成電路對基準源的要求越來越苛刻,特別是在電源抑制、失調 方面的要求越來越高。
現有的高電源抑制比電路,一般采用如圖1所示的形式,該電路電源抑制比只 能做到90dB左右,而且反饋電路在節點V1和V2處引入較大的失調電壓。
圖1中所示電路的連接關系為:M9和M10的源極相連,并接到電源VDD上;M9 的柵漏短接,并與M10的柵極相連,M10的漏極接VREF,為基準提供電源,M9的漏 極與M8的漏極相連;三極管Q1基極和集電極,三極管Q3的基極和集電極,三極管 Q2的基極和集電極都連到地GND上;Q3的發射極接在節點V1上,Q1的發射極與電 阻RR1一端相接,而電阻RR1的另一端和節點V2相接,Q2的發射極與電阻RR2一端 相連,電阻RR2另一端接輸出VOUT;MP1、MP2、MP3、M6的柵極和源極分別接到節 點V2和VREG上,MP1柵漏短接,MP2漏極接節點V1、MP3漏極接輸出節點VOUT;M6 的漏極和M7的柵漏相接,并且M7的源極接地;M5的源和柵分別接在節點VREG和 V1上,其漏極和M4的源極相接;M2和M6的柵極相連并接到M7的柵極,其源極均 接地;M2的漏極和M1的源極相接;M4的漏極和M1的漏極相連并與M3的柵極相接, 它們的柵極分別由偏置VB1和VB0提供,VB1和VB0由恰當的偏置電路提供;M3管 的源漏分別接到節點VREG和地。
圖1所示的現有高電源抑制比基準電路的實現方法中,如果考慮反饋電路的失 調,基準電壓源的輸出可以表示為:VREF=Vbe+(ΔVbe+Vos)(RR2/RR1),其中ΔVbe 為三極管Q1和Q3基極和發射極電壓差的差值,Vbe為三極管Q2的基極和發射極電 壓差,Vos為反饋電路的失調電壓。在設計拙劣的反饋電路中,該失調電壓會比較 大,因此影響電路的性能,設計低失調的反饋電路會增加該方法的難度,而且該方 法基準電路對電壓VREG敏感,這限制了電路的電源抑制比的提高。
發明內容
本發明為解決上述技術問題,提供了高電源抑制比低失調的帶隙基準源電路, 該電路適合用于標準CMOS工藝制造。
本發明的技術方案如下:
高電源抑制比低失調的帶隙基準源電路,其特征在于:設置有一個隔離單元, 用于消除基準源電壓變化和反饋電路失調電壓對基準源電路的影響,所述隔離單元 位于電流放大器的輸出端、輸入端與正溫度系數電流源的端口之間;所述反饋電路 的輸入端位于隔離單元和電流放大器之間,用于屏蔽反饋電路失調對正溫度系數電 流源的影響。
所述帶隙基準源電路包括預調節電路、反饋電路和帶隙基準,預調節電路的輸 出為帶隙基準的電壓源,反饋電路通過帶隙基準中的電壓反饋調整預調節電路的輸 出;所述帶隙基準包含隔離單元。
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