[發明專利]一種TFT LCD可編程綜合性能電測儀及其檢測方法

無效

• 申請號: 200910037583.4
• 申請日: 2009-03-04
• 公開（公告）號: CN101493589A
• 公開（公告）日: 2009-07-29
• 發明（設計）人: 唐惠玲;劉漢瑞;劉志軍
• 申請（專利權）人: 廣東工業大學
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01R31/00
• 代理公司: 廣州粵高專利代理有限公司
• 代理人: 林麗明

技術領域

本發明是一種TFT?LCD可編程綜合性能電測儀及其檢測方法，屬于TFTLCD可編程綜合性能電測儀的改造技術。

背景技術

目前，現有TFT?LCD在生產過程中不能達到100％的成品率，或多或少地存在缺陷，比如LCD點不亮、存在亮點或亮線等缺陷，因此，在把LCD貼上IC制成LCM模組之前，需要對LCD進行加電驅動信號進行檢測，減少IC的浪費及降低成本。

TFT?LCD屏主要由背光源、玻璃基板、電路層、液晶層、濾光板及配向膜等材料構成。而最可能產生缺陷的就在電路層，即TFT陣列層。TFT實際作用如同一個開關，液晶如同一個電容，當開關閉合的時候，信號寫入液晶電容C_LC，斷開的時候信號保持在液晶上。存儲電容Cs的作用就是讓充電電壓保持到下一次更新畫面。圖1是單一像素單位的TFT等效電路圖。掃描線(Scan?line)與該行上所有的TFT柵極相連，決定TFT是否選通，而源信號線(Data?line)與該列所有TFT的源極相連，對液晶電容C_LC進行充電。當加在G極和S極的電壓V_GS大于閾值電壓V_th時，源極和漏極導通，液晶電容充電，達到顯示效果；當V_GS小于閾值電壓V_th的時候，TFT開關斷開，液晶電容保持充電電壓到下一掃描周期。

由于液晶分子不能長時間固定在某個電壓下不變，不然會破壞液晶分子的旋轉特性。但是，當顯示要求同一灰階的時候，可將顯示電壓相對于Vcom分成相同壓差的正負極性，這樣不管是加在液晶上的電壓是正還是負，雖然液晶分子的旋轉方向不同，但顯示的灰階是一樣的。這樣當要求顯示同一灰階的時候，通過正負電壓的交替，達到顯示要求，也可以避免對液晶分子的破壞。目前，為了避免閃爍現象和減少功耗，大多數TFT-LCD采用點翻轉固定Vcom電壓的驅動方式，圖2為TFT-LCD采用的二階驅動原理示意圖。

根據TFT的結構以及驅動原理，只要分時地選通各個行的柵極，使得源信號對顯示電極充電到正確顯示電壓，就可以達到顯示的效果。但是由于生產工藝或其他各種原因，可能出現連接柵極和源極的所有信號線都短路或斷路，當加驅動電壓信號時，整片LCD面板都點不亮，即出現黑屏；也可能出現某行TFT或連接TFT柵極的驅動信號線有缺陷，不能對柵極加以正確的驅動信號，造成整個行的柵極不能控制，因而信號加不到顯示電極上，就產生某行的線缺陷。通過偏振片觀察的時候會發現某行有亮線，說明該LCD有缺陷；當存儲電容或液晶電容存在缺陷，就可能使某個液晶電容不能充電或充電后保持的時間不夠，造成顯示電極上電壓信號的誤差，觀察的時候會發現某個亮點，也說明該LCD有缺陷。

發明內容

本發明的目的在于考慮上述問題而提供一種結構簡單，成本低，顯陷率高的TFT?LCD可編程綜合性能電測儀。

本發明的另一目的在于提供一種檢測方便，檢測速度快，提高LCM的成品率，降低企業成本的TFT?LCD可編程綜合性能電測儀的檢測方法。

本發明的技術方案是：包括有控制模塊、D/A轉換模塊、光電耦合開關模塊、電源模塊、鍵盤，其中控制模塊分別與D/A轉換模塊及光電耦合開關模塊、鍵盤連接，電源模塊分別供電至控制模塊、D/A轉換模塊、光電耦合開關模塊、電源模塊、鍵盤。

上述控制模塊為單片機U6。

上述單片機U6為單片機Winbond?W78E516BP。

上述光電耦合開關模塊包括光電耦合器U7及U8。

上述光電耦合器U7及U8為能實現單獨輸出EVEN或ODD信號、使TFT?LCD顯示單雙行，能檢測TFT?LCD的斷線問題的TLP521-2。

上述D/A轉換模塊為集成塊U9。

上述集成塊U9為可編程D/A轉換器TLC7225。

上述電源模塊包括集成穩壓電源U1、U2、U3、U4、U5、晶體管T1、T2，T1集電極的輸出端電壓信號GG等于輸入直流電源電壓，由晶體管T1控制其通斷，作為測試選通功能；V_com信號接公共端，由電源模塊部分直接輸出；輸出端EVEN、ODD電壓信號就是控制柵極的電壓信號。

上述集成穩壓電源U1為集成穩壓電源W7818、集成穩壓電源U2為集成穩壓電源W7815、集成穩壓電源U3為集成穩壓電源W7805、集成穩壓電源U4為集成穩壓電源78L05、集成穩壓電源U5為集成穩壓電源78L05。