[發明專利]半導體器件測試分選機的旋轉工作臺無效
| 申請號: | 200910025717.0 | 申請日: | 2009-03-06 |
| 公開(公告)號: | CN101504295A | 公開(公告)日: | 2009-08-12 |
| 發明(設計)人: | 貢瑞龍;陸軍;梁天貴 | 申請(專利權)人: | 江都市東元機電設備有限公司 |
| 主分類號: | G01D11/00 | 分類號: | G01D11/00;B07C5/00 |
| 代理公司: | 揚州市錦江專利事務所 | 代理人: | 江 平 |
| 地址: | 225200*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體器件 測試 分選 旋轉 工作臺 | ||
技術領域
本發明涉及一種半導體器件測試分選的裝置,特別涉及半導體器件測試分選機的旋轉工作臺。
背景技術
現有技術中,有一種半導體器件測試分選機,其上有一個旋轉工作臺,該旋轉工作臺包括水平設置的轉臺,轉臺上表面水平,轉臺下側中心設有轉軸,轉軸與一電機的軸端傳動連接,轉軸上套裝有一進氣座,進氣座下側設有彈性抵觸在轉臺下端面上的進氣座,進氣座側面設有至少一個吸嘴,轉臺四周分布有若干可容納半導體器件的大孔,大孔下側同軸設有上下貫穿轉臺的小孔,進氣座上設有若干接通吸嘴并與小孔一一對應的氣道,一側大孔的正上方設有激光頭,另一側大孔的正上方設有圖像攝像頭。該裝置工作時,通過吸嘴吸氣,可以將半導體器件吸附在大孔內,電機轉動時,可使得半導體器件一一依次經過激光頭和圖像攝像頭的正下方,以便對半導體器件進行檢測;其不足之處在于:由于激光頭和圖像攝像頭尺寸較大,需要占據一定的空間,為避免兩者之間相互干涉,轉臺的尺寸必須做得足夠大,使得轉臺的體積大,相應電機的功率也大,造成了成本上升。
發明內容
本發明的目的是提供一種半導體器件測試分選機的旋轉工作臺,使得轉臺尺寸小,電機功率小,制造成本大幅降低。
本發明的目的是這樣實現的:半導體器件測試分選機的旋轉工作臺,包括水平設置的轉臺,轉臺下側中心設有轉軸,轉軸與一電機的軸端傳動連接,轉軸上套裝有一進氣座,進氣座下側設有彈性抵觸在轉臺下端面上的進氣座,進氣座側面設有至少一個吸嘴,轉臺四周分布有若干可容納半導體器件的大孔,大孔下側設有上下貫穿轉臺的小孔,進氣座上設有若干接通吸嘴并與小孔一一對應的氣道;所述轉臺上側周向呈上小下大的錐面,大孔軸線與所述錐面的軸線相交,同時,大孔軸線垂直于與其所相交的錐面的母線。
為便于小孔的加工,所述小孔軸線與轉臺的轉軸平行設置。
本發明使用時,將激光頭和圖像攝像頭設置在大孔的軸線方向上,由于大孔設置在錐面上,使得激光頭和圖像攝像頭布置在轉臺側上方,可讓出轉臺正上方的空間,激光頭和圖像攝像頭的布置不會發生干涉問題,這樣,轉臺的尺寸就可以做得足夠小,相應地,電機的功率、尺寸也比較小,可大幅節約生產成本。該裝置可用于半導體器件的檢測和分選。
附圖說明
圖1為本發明結構示意圖。
其中,1電機,2轉軸,3機身,4彈簧,5吸嘴,6氣道,7小孔,8大孔,9轉臺,10錐面,11進氣座。
具體實施方式
如圖,半導體器件測試分選機的旋轉工作臺,包括水平設置的轉臺9,轉臺9下側中心設有轉軸2,轉軸2與一電機1的軸端傳動連接,轉軸2上套裝有一進氣座11,電機1安裝在機身3上,在機身3和進氣座11之間設置彈簧4,即可實現彈性連接;進氣座11側面設有至少一個吸嘴5,轉臺9四周分布有若干可容納半導體器件的大孔8,大孔8下側設有上下貫穿轉臺9的小孔7,進氣座11上設有若干接通吸嘴5并與小孔7一一對應的氣道6;轉臺9上側周向呈上小下大的錐面10,大孔8的軸線與所述錐面10的軸線相交,同時,大孔8的軸線垂直于與其所相交的錐面的母線,小孔7的軸線與轉臺9的轉軸2平行設置。
本發明使用時,將激光頭和圖像攝像頭設置在大孔8的軸線方向上,由于大孔8設置在錐面10上,使得激光頭和圖像攝像頭布置在轉臺9側上方,可讓出轉臺9正上方的空間,激光頭和圖像攝像頭的布置不會發生干涉問題,這樣,轉臺9的尺寸就可以做得足夠小,相應地,電機1的功率、尺寸也比較小,可大幅節約生產成本。
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