[發(fā)明專利]垂直配向式像素結(jié)構(gòu)及其制造方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910004546.3 | 申請日: | 2009-03-05 |
| 公開(公告)號: | CN101826530A | 公開(公告)日: | 2010-09-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 藍(lán)志杰 | 申請(專利權(quán))人: | 友達(dá)光電股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/12 | 分類號: | H01L27/12;H01L29/786;H01L21/84;H01L21/336;G02F1/1362 |
| 代理公司: | 上海翼勝專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽 |
| 地址: | 中國*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 垂直 像素 結(jié)構(gòu) 及其 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是關(guān)于一種垂直配向式像素結(jié)構(gòu)及其制造方法,特別是關(guān)于一種可降低光漏電流的垂直配向式像素結(jié)構(gòu)及其制造方法。
背景技術(shù)
現(xiàn)今社會多媒體技術(shù)相當(dāng)發(fā)達(dá),多半受惠于半導(dǎo)體元件與顯示裝置的進(jìn)步。就顯示器而言,具有高畫質(zhì)、空間利用效率佳、低消耗功率、無輻射等優(yōu)越特性的液晶顯示器已逐漸成為市場的主流。為了讓液晶顯示器有更好的顯示品質(zhì),目前液晶顯示器皆朝向高對比、無灰階反轉(zhuǎn)、色偏小、亮度高、高色飽和度、快速反應(yīng)與廣視角等特性來發(fā)展。以廣視角技術(shù)而言,常見的例如有共平面切換式液晶顯示器、扭轉(zhuǎn)向列型液晶顯示器、邊際場切換式液晶顯示器與多域垂直配向式液晶顯示器等。
圖1是習(xí)知的多域垂直配向式像素結(jié)構(gòu)的示意圖。該像素結(jié)構(gòu)包括基板11、柵極12、柵極絕緣層13、柵極非晶硅區(qū)14、摻雜非晶硅區(qū)15、源極金屬區(qū)16、漏極金屬區(qū)17、保護(hù)層18和導(dǎo)電層19。從圖上可知,像素顯示區(qū)有狹縫20和復(fù)數(shù)個突起,其中突起是以非晶硅14為基底形成的,為了使突起具有一定的高度,則非晶硅層14的厚度不可太薄,大約為0.2um至0.3um。眾所周知,在液晶像素結(jié)構(gòu)中非晶硅層是一種光敏物質(zhì),在照光后會產(chǎn)生光漏電流,由于在垂直配向式像素結(jié)構(gòu)中突起需要一定的高度,因此會相應(yīng)地導(dǎo)致薄膜晶體管中柵極非晶硅區(qū)14的厚度增加,容易造成薄膜晶體管產(chǎn)生光漏電流,進(jìn)而對像素的電性造成不良的影響。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明提供一種垂直配向式像素結(jié)構(gòu)及其制造方法,以降低薄膜晶體管產(chǎn)生的光漏電流。
根據(jù)本發(fā)明的目的,提供一種垂直配向式像素結(jié)構(gòu),所述像素結(jié)構(gòu)包括:
柵極,形成于基板上;
柵極絕緣層,覆蓋柵極;
柵極非晶硅區(qū),形成于柵極絕緣層上且對應(yīng)地位于柵極上方;
源極金屬區(qū)和漏極金屬區(qū),形成于柵極非晶硅區(qū)上;
有機(jī)物保護(hù)層,形成于柵極絕緣層上并覆蓋源極金屬區(qū)和漏極金屬區(qū),且該有機(jī)物保護(hù)層包括介層洞和復(fù)數(shù)個突起,該介層洞暴露漏極金屬區(qū)的部分表面;和
導(dǎo)電層,形成于有機(jī)物保護(hù)層上并覆蓋介層洞,以及在有機(jī)物的突起之間形成狹縫。
所述源極金屬區(qū)、漏極金屬區(qū)與柵極非晶硅區(qū)之間進(jìn)一步包含摻雜柵極非晶硅區(qū)。
所述柵極非晶硅區(qū)的面積大于位于下方的柵極的面積。
所述有機(jī)物保護(hù)層的有機(jī)物質(zhì)為酚醛樹脂。
所述導(dǎo)電層為氧化銦錫層。
根據(jù)本發(fā)明的目的,提供一種垂直配向式像素結(jié)構(gòu)的制造方法,所述像素結(jié)構(gòu)的制造方法包括:
形成柵極于基板上;
形成柵極絕緣層以覆蓋柵極;
形成柵極非晶硅區(qū)于柵極絕緣層上且對應(yīng)地位于柵極上方;
形成源極金屬區(qū)、漏極金屬區(qū)于柵極絕緣層的上方;
形成有機(jī)物保護(hù)層于柵極絕緣層上并覆蓋源極金屬區(qū)、漏極金屬區(qū);
形成介層洞和復(fù)數(shù)個突起于有機(jī)物保護(hù)層處,該介層洞暴露漏極金屬區(qū)的部分表面;和
形成導(dǎo)電層于有機(jī)物保護(hù)層上并覆蓋介層洞,以及在有機(jī)物保護(hù)層的突起之間形成狹縫。
所述形成該柵極的步驟包括:形成第一金屬層于基板上;和
圖案化第一金屬層以形成柵極。
所述形成柵極非晶硅區(qū)的步驟包括:形成非晶硅層于柵極絕緣層上;
形成摻雜非晶硅層于非晶硅層上;及
圖案化摻雜非晶硅層和非晶硅層,以形成摻雜非晶硅區(qū)和柵極非晶硅區(qū)。
所述形成源極金屬區(qū)、漏極金屬區(qū)的步驟包括:
形成第二金屬層于柵極絕緣層的上方;及
圖案化第二金屬層,以形成源極金屬區(qū)、漏極金屬區(qū);
其中,源極金屬區(qū)和漏極金屬區(qū)之間具有通道。
所述形成有機(jī)物保護(hù)層的步驟包括:形成有機(jī)物保護(hù)層于柵極絕緣層上;及
圖案化有機(jī)物保護(hù)層,以形成復(fù)數(shù)個突起,形成平整的有機(jī)物保護(hù)層覆蓋源極金屬區(qū)、漏極金屬區(qū)及源極金屬區(qū)和漏極金屬區(qū)之間的通道,形成介層洞以暴露漏極金屬區(qū)的部分表面。
所述形成導(dǎo)電層的步驟包括:
形成導(dǎo)電層于有機(jī)物保護(hù)層上并覆蓋介層洞;以及
在有機(jī)物保護(hù)層的突起之間形成狹縫。
附圖說明
圖1是習(xí)知的多域垂直配向式像素結(jié)構(gòu)的示意圖。
圖2A--2E是本發(fā)明的垂直配向式像素結(jié)構(gòu)制程步驟的示意圖。
具體實施方式
請參照圖2A--2E,圖2A--2E是本發(fā)明的垂直配向式像素結(jié)構(gòu)制程步驟的示意圖。
如圖2A所示,首先,提供基板21,并在基板21上形成第一金屬層,接著,圖案化第一金屬層以形成柵極22。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于友達(dá)光電股份有限公司,未經(jīng)友達(dá)光電股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200910004546.3/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的多個半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點的熱電元件的;包括有熱磁組件的
- 卡片結(jié)構(gòu)、插座結(jié)構(gòu)及其組合結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)平臺結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 單元結(jié)構(gòu)、結(jié)構(gòu)部件和夾層結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)扶梯結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)隔墻結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)連接結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機(jī)械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機(jī)械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)





