[發明專利]用于光學位置測量裝置的檢測元件陣列

有效

• 申請號: 200880112163.1
• 申請日: 2008-09-27
• 公開（公告）號: CN101828096A
• 公開（公告）日: 2010-09-08
• 發明（設計）人: J·奧伯豪澤
• 申請（專利權）人: 約翰尼斯海登海恩博士股份有限公司
• 主分類號: G01D5/347
• 分類號: G01D5/347
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 趙辛

1.一個用于光學的位置測量裝置的檢測元件陣列，通過它可以將在檢測平面中引起的條紋圖轉換成電的掃描信號，該檢測元件陣列由許多矩陣式地設置在行(Z)和列(S)中的光敏檢測元件(24，240)組成，

-其中對至少一部分檢測元件(24，240，340，440)附設開關(25.1，25.2，250.1，250.2，350.1，350.2，450.1，450.2)，通過它們使每個檢測元件(24，240，340，440)有選擇地與一個或多個相鄰的檢測元件(24，240，340，440)連接和

-其中對具有附屬開關的檢測元件(24，240，340，440)附設至少一個存儲元件(26，260，360，460)，在其中可以寄存信息，它們給出，通過開關(25.1，25.2，250.1，250.2，350.1，350.2，450.1，450.2)一個確定的檢測元件(24，240，340，440)在調整的掃描配置中與哪些相鄰的檢測元件(24，240，340，440)連接，其特征在于，對配有附屬開關(25.1，25.2，250.1，250.2，350.1，350.2，450.1，450.2)的檢測元件(24，240，340，440)分別附屬不多于兩個的開關(25.1，25.2，250.1，250.2，350.1，350.2，450.1，450.2)，通過它們有選擇地建立

-與在相同列(S)中的相鄰檢測元件(24，240，340，440)的直接連接和/或

-與在相鄰行(Z)的相鄰列(S)中的傾斜相鄰的檢測元件(24，240，340，440)的直接連接。

2.如權利要求1所述的檢測元件陣列，其特征在于，側面與檢測元件陣列(23，230)相鄰地設置多個連接導線(30.1-30.5)，通過它們分別連接通過開關(25.1，25.2，250.1，250.2，350.1，350.2，450.1，450.2)連接的檢測元件(24，240，340，440)的組。

3.如權利要求1所述的檢測元件陣列，其特征在于，一組的檢測元件(24，240，340，440)由條紋圖的掃描分別產生同相的掃描信號。

4.如權利要求2或3所述的檢測元件陣列，其特征在于，在連接導線(30.1-30.5)與檢測元件陣列(23，230)之間設置信道多路復用器(29)，通過它使具有同相掃描信號的組的連接的檢測元件(24，240，340，440)分別可以接入到相同的連接導線(30.1-30.5)上。

5.如權利要求4所述的檢測元件陣列，其特征在于，所述檢測元件(24，240，340，440)這樣接通，在四個連接導線(30.1-30.4)上施加四個以90度錯相的掃描信號或者在三個連接導線上施加三個以120度錯相的掃描信號。

6.如權利要求1所述的檢測元件陣列，其特征在于，每個存儲元件(26，260，360，460)與兩個開關(25.1，25.2，250.1，250.2，350.1，350.2，450.1，450.2)分別通過控制導線(27.1，27.2，370，470)連接。

7.如權利要求6所述的檢測元件陣列，其特征在于，每個存儲元件(26，260)具有顛倒的和非顛倒的輸出并且每個輸出與控制導線(27.1，27.2)連接。

8.如權利要求1所述的檢測元件陣列，其特征在于，在檢測元件(24，240)的列(S)與行(Z)之間設置程序導線(28.1，28.2)并且為了控制存儲元件(26，260，360，460)與它們連接，用于由此有選擇地操縱開關(25.1，25.2，250.1，250.2，350.1，350.2，450.1，450.2)。

9.如權利要求1所述的檢測元件陣列，其特征在于，為了掃描由平行條紋組成的周期的條紋圖分別只使在一列(S)中的檢測元件(24，240)相互連接。