[發明專利]檢測砝碼以及使其可追蹤的方法和系統

有效

• 申請號: 200880023551.2
• 申請日: 2008-07-04
• 公開（公告）號: CN101743459A
• 公開（公告）日: 2010-06-16
• 發明（設計）人: H·豪斯曼;R·內特;P·馮阿里克斯;H·J·布克哈德;M·格羅伊特
• 申請（專利權）人: 梅特勒-托利多公開股份有限公司
• 主分類號: G01G21/26
• 分類號: G01G21/26
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 劉興鵬;蔡洪貴

技術領域

本發明屬于計量學領域，涉及用于檢測天平以及檢測或測量其它 砝碼的砝碼。

背景技術

高靈敏度天平，特別是例如微量天平和超微量天平、分析天平或 精密天平，會受到影響因素的影響，經過一段時間后影響因素會導致 測量偏差。因此這種天平必須依照正規標準被檢測以保證其產生準確 的稱量結果。這種檢測，是在規定機構內進行的所謂例行檢查，特別 對于用于藥理學、生物工藝學和食品工藝學領域的天平，檢查是官方 要求的，并且記錄在FDA(食品與藥品局，U.S.健康與人類服務部) 規程里。但是，天平的制造商也向他們的顧客推薦用于商業應用的天 平被定期檢測。

利用具有明確標稱值的檢測砝碼以確定偏差。根據規范標準，例 如由國際法制計量組織(OIML，Organisation?Internationale?de Métrologie?Légale)出版的國際公認的規則R111，這些種類的檢測砝 碼具有公差限，實際重量值必須在與標稱重量值相關的所述公差限內。 在這個公差系統下，所述砝碼依據不同的精度要求被分成不同的砝碼 等級。例如，在E1級(最高準確度等級)的一毫克砝碼的公差限為 ±0.003mg，而在M1級(可應用于一毫克砝碼的最低準確度等級)公 差限為±0.2mg。

檢測砝碼，作為用在本文中的術語，應當理解為包括用于檢測和/ 或校準和/或證明特別在規定控制的范圍內的天平或砝碼的所有種類 的砝碼。這些檢測砝碼有時也被稱為校驗砝碼或校準砝碼。

檢測砝碼可以由一塊實心的或幾部分的材料制成。單塊的檢測砝 碼由一塊材料制成，而由更多部分組成的檢測砝碼其中有一空腔，在 空腔中填充所謂調整材料使其上升到達到標稱重量的點，然后空腔被 封閉。然而，應當注意的是，依據OIML，由多部分組成的檢測砝碼 在最高準確度等級內是不被允許的。

由于檢測砝碼的實際重量值會隨著時間由于磨損而改變，當這些 砝碼被用來檢測天平時，這也會造成稱量結果或工業過程超出其公差 限的后果。因此必須確定在任何給定情況下檢測砝碼公差都被滿足。 為實現這個目的，檢測砝碼自身被定期地對照其它檢測砝碼(稱為校 驗標準)進行檢測。這樣的校驗檢測的時間間隔是依照砝碼各自的準 確度等級，或根據應用范圍和特別的應用環境。

對每個單個檢測砝碼，應要求發放憑證，其說明在特定時間的實 際重量值、標稱重量值、與給定等級限制相關的準確度等級，以及校 準ID號碼和校準憑證號碼。每次另一校驗檢測，稱為再校準，在之后 的日期進行，發放新的憑證，其中新的憑證號碼被分配給同一砝碼， 但同一校準ID號碼仍然分配給所述砝碼。

檢測砝碼或具有不同重量值的檢測砝碼組被貯藏在專用的砝碼容 器盒中，為了分類及之后在其應用的地點為了用戶的貯藏。在這樣的 容器盒中，為每個砝碼種類準備有合適尺寸的座槽，那么例如100克 的砝碼只能被恰好適合地置于100克砝碼的凹槽內，但不能放進50克 砝碼的凹槽內，同時其不能完全填充200克砝碼的凹槽，因此砝碼和 凹槽之間的關聯根據尺寸是可能的。單個砝碼件的憑證被置于這些容 器盒中，因此原則上在憑證和檢測砝碼之間建立了聯系。這通常是明 顯的，通過貼在容器盒上的標簽，在標簽上印有校準ID號碼，以及另 一個標簽，在其上印有憑證號碼。

由于在進行前述的例行檢查的過程中對砝碼的手動操作，使得砝 碼件和與其結合的憑證和/或其校準ID號碼之間的連接很容易丟失。 這會發生在例如：假設將對適于400g的天平證明或校準，并且假設為 達到此目的——由于目前沒有可用的400g砝碼——利用一個200g砝 碼件和2個100g砝碼件代替。不管所述兩個100g砝碼件是否貯藏在 同一個容器盒內或來自于兩個不同的容器盒，可能會在此過程中發生 操作錯誤，導致所述兩個100g砝碼件的混淆。結果便是在憑證和砝碼 件之間的錯誤匹配，這甚至無法被有效地檢查，因此這種錯誤保持不 被發現。

此方法存在的問題是沒有確定的關聯將憑證結合到檢測砝碼上， 例如，結合到實際砝碼件自身。因此對這些檢測砝碼的操作要求極度 用心，以確保憑證和校準后的砝碼件之間的正確匹配永久保持。盡管 如此，也不能保證實現這個目標。不能排除無意中的混淆，也不能在 此之后被可靠地發覺。