[實用新型]顆粒粒度測試樣品池

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200820227513.6
• 申請日: 2008-12-18
• 公開（公告）號: CN201322714Y
• 公開（公告）日: 2009-10-07
• 發(fā)明（設計）人: 任中京
• 申請（專利權）人: 任中京
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02;G01N21/51
• 代理公司: 濟南信達專利事務所有限公司
• 代理人: 姜 明

(一)技術領域

本實用新型涉及一種顆粒粒度測試設備配件，具體地說是一種顆粒粒度測試樣品池。

(二)背景技術

目前激光粒度儀對粉體材料進行測試時，通常使用的樣品池截面為狹窄的條帶形，長寬比在3以上，樣品在樣品池內呈薄片狀，光束從大的工作面垂直入射，只適用于前向散射的測量，因此測量范圍在0.3微米以上。

(三)發(fā)明內容

本實用新型的技術任務是針對現(xiàn)有技術的不足，提供一種測試散射角大，精度高的顆粒粒度測試樣品池。可有效解決全方位散射光的探測問題，使測試最大散射角超過135度，且無死角。

本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是：

顆粒粒度測試樣品池，包括能透光的樣品池體，樣品池體為中空結構，其橫截面為邊數不小于四的偶數多邊形，且至少有一組對邊平行的工作面，在池體的工作面上至少附設有一個凸透鏡。

上述顆粒粒度測試樣品池，其偶數個的凸透鏡對稱設置在平行的工作面上。

上述顆粒粒度測試樣品池，其樣品池體的橫截面為矩形或平行四邊形。

上述顆粒粒度測試樣品池，其樣品池體的橫截面為六邊形。

上述顆粒粒度測試樣品池，其樣品池體為流動池。

上述顆粒粒度測試樣品池，其樣品池體為帶有封底的容器。

上述顆粒粒度測試樣品池，其凸透鏡為球面透鏡或柱面透鏡。

上述顆粒粒度測試樣品池，其樣品池體用光學玻璃或石英玻璃制成。

上述顆粒粒度測試樣品池，其樣品池體用金屬材料制成，其側壁上開有通光孔。

使用時，在凸透鏡焦平面設有條形陣列光電探測器，經擴束匯聚的激光束從無透鏡的平面入射樣品池，顆粒的前向散射信息由通常的半圓環(huán)探測器檢測，顆粒的側向散射與后向散射信息由條帶狀陣列探測器檢測，由此獲得全方位顆粒散射的信息。

本實用新型的顆粒粒度測試樣品池與現(xiàn)有技術相比，所產生的有益效果是：

(1)樣品池的結構有利于檢測0-135度的散射信息，且無死角，因此激光粒度儀的測試下限可以擴展至理論極限，可大大提高激光粒度儀的分析精度。

(2)該測試樣品池的使用可使儀器體積大大縮小。

(3)樣品池橫截面積比通常樣品池擴大10倍以上，且管道橫截面大，提高了樣品流量，利于在線粒度測試。

(四)附圖說明

附圖1為本實用新型第一個實施例的結構示意圖；

附圖2為本實用新型第二個實施例的結構示意圖；

附圖3為本實用新型第三個實施例的結構示意圖。

(五)具體實施方式

下面結合附圖1-3對本實用新型的顆粒粒度測試樣品池作以下詳細地說明。

實施例1：

如附圖1所示，本實用新型的顆粒粒度測試樣品池，其結構包括用光學玻璃制成的側壁透明的樣品池體C，壁厚約1毫米左右，邊長在10-30mm，樣品池體C是流動池，其橫截面為正方形，在池體1的對稱工作面上膠合有兩個凸透鏡L1、L2。使用時，在凸透鏡焦平面設有條形陣列光電探測器，經擴束匯聚的激光束從無透鏡的平面入射樣品池，顆粒的前向散射信息由通常的半圓環(huán)探測器檢測，顆粒的側向散射與后向散射信息由位于透鏡焦平面的條帶狀陣列探測器檢測，由此獲得全方位顆粒散射的信息。

實施例2：

如附圖2所示，本實用新型的顆粒粒度測試樣品池，其結構包括用金屬材料制成的樣品池體C，樣品池體C的壁厚約1毫米左右，邊長在10-30mm，樣品池體C是封底的容器，其橫截面為平行四邊形，在池體1的對稱工作面上膠合有兩個凸透鏡L1、L2。在安裝凸透鏡L1、L2的樣品池體C的側壁上和匯聚激光束入射的側壁上分別開設有通光孔K1、K2，使用時，含顆粒樣品懸浮液流過樣品池體C，經過處理的匯聚激光束入射樣品池體C，側向散射光與后向散射光分別被凸透鏡L1、L2匯聚在條形陣列探測器上，前向散射光被主探測器接收，總接受角度在0-135度以上，接收角度內無死角，散射光的角度分布通過計算機反演得到顆粒的粒度分布。

實施例3：