[實用新型]LED測試組

無效

• 申請號: 200820202380.7
• 申請日: 2008-10-24
• 公開（公告）號: CN201311466Y
• 公開（公告）日: 2009-09-16
• 發明（設計）人: 張衛東;李紹楷
• 申請（專利權）人: 珠海華冠光電技術有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R19/00;G01R31/02;G01R31/26
• 代理公司: 廣州新諾專利商標事務所有限公司
• 代理人: 楊煥軍

技術領域

本實用新型涉及LED包裝機，尤其涉及LED包裝機中的LED測試組。

背景技術

SMD(surface?mount?device，表面貼裝零件的封裝設備)LED包裝機利用探針測試LED的電性能參數(正向反向電壓、漏電等)，該LED包裝機的LED測試組的結構和安裝方式如圖1所示，該LED測試組包括探針1、探針2和探針座3，探針座3上有供探針1、2插入的探針孔31、32。如圖2所示，其測試方式為將LED置于探針1和探針2上方，施以下壓的力量F使LED緊密接觸探針1、2并通以一定的電流電壓來測試LED的電性參數。上述LED測試組的缺點為，當LED置于探針1、2上方時，施以下壓的力量F時，因為探針本身的間隙關系會使探針左右晃動，如此會照成測試的接觸點不穩定，另外，因為探針的晃動而反施于被測試材料的作用力使被測試材料位置歪斜而影響測試效果的準確性。

發明內容

本實用新型的目的是提供測試準確、安全的LED測試組。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：

LED測試組，包括

一對探針，探針的下方通過導線連接測試機，每個探針的上部為探針頭，探針頭接觸位于探針頭上方的LED；

探針座，其上有分別供所述一對探針插入的兩個探針孔；

另外，還包括

探針限位塊，其上有限制所述一對探針沿探針徑向擺動的兩個限位孔，所述探針限位塊位于所述探針座上方。

上述LED測試組增設了探針限位塊，該探針限位塊可以有效防止探針的左右擺動，一方面使被測試材料與探針頭的接觸穩定、安全、測試準確；另一方面也避免了探針帶動被測試材料的擺動。

附圖說明

圖1是現有技術LED測試組的爆炸圖；

圖2是現有技術LED測試組的裝配圖；

圖3是本實用新型LED測試組的爆炸圖；

圖4是本實用新型LED測試組的裝配圖。

以下結合附圖及實施例對本實用新型作進一步說明。

具體實施方式

參見圖3和圖4，LED測試組包括探針1、探針2，探針1、2的下方通過導線連接測試機(圖未示)，探針1、2的上部分別為探針頭11、21，探針頭11、21接觸位于探針頭11、21上方的LED。探針座3上有分別供探針1、2插入的兩個探針孔31、32。左限位塊41和右限位塊42構成探針限位塊。左限位塊上有兩個半圓形的限位孔41a、41b，右限位塊上有兩個半圓形的限位孔42a、42b。左、右限位塊41、42上別有定位孔411、412和定位孔421、422，相應的，在探針座3上有定位孔33-36，使用四個螺釘或者銷等分別插入定位孔411和定位孔33、定位孔412和定位孔34、定位孔421和定位孔35、定位孔422盒定位孔36，將左、右限位塊41、42固定到探針座3上方。探針1和探針2分別位于限位孔41a、42a和限位孔41b、42b之間。限位孔41a、42a和41b、42b的最上端夾持所述探針頭11、21。

上述LED測試組增加了左、右兩個限位塊41、42，當LED下壓做測試工作而施以探針1、2力量F時，因為探針頭11、21被左、右限位塊41、42限制，使探針1、2只能做上下運動，從而減少因為探針本身間隙引起的左右晃動造成測試面的不穩定而使測試誤判。

上述LED測試組也可避免因為探針晃動的反作用力造成被測試材料位置歪斜，以致于被測試材料移至下一個工作站時無法定位工作。

當然，本實用新型LED測試組還可有其它變形。例如，所述探針限位塊也可以為一體式機構。總之，根據上述實例的提示而做顯而易見的變動，以及，其它凡是不脫離本實用新型實質的改動，均應包括在權利要求所述的范圍之內。