[實用新型]一種光中子-X射線違禁品檢測系統

無效

• 申請號: 200820125727.2
• 申請日: 2008-06-19
• 公開（公告）號: CN201247208Y
• 公開（公告）日: 2009-05-27
• 發明（設計）人: 康克軍;胡海峰;楊袆罡;陳志強;苗齊田;程建平;李元景;劉以農;彭華;李鐵柱;趙自然;劉耀紅;吳萬龍
• 申請（專利權）人: 清華大學;同方威視技術股份有限公司
• 主分類號: G01N23/08
• 分類號: G01N23/08;G01N23/04;G01N23/222;G01V5/00;G21F1/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 范曉斌;梁 冰

1.一種光中子-X射線違禁品檢測系統，用于檢測被檢物體，該系統包括：

X射線發生器，用于產生X射線主束，所述X射線主束包括從其分出的第一X射線束和第二X射線束，所述第一X射線束被引導進入該被檢物體并穿過該被檢物體；

光中子轉換靶，該光中子轉換靶布置成接收所述第二X射線束，從而產生光中子，所述光中子被引導進入該被檢物體，并與所述被檢物體反應發出特征性γ射線；

X射線探測裝置，該X射線探測裝置布置成接收穿過該被檢物體后的所述第一X射線束，以便對該被檢物體進行X射線成像檢測；

γ射線探測裝置，該γ射線探測裝置布置成接收所述特征性γ射線，以便根據所述特征性γ射線對該被檢物體進行中子檢測；

其中，所述系統同時對所述被檢物體進行所述X射線成像檢測和所述中子檢測。

2.根據權利要求1所述的系統，其中，所述X射線發生器產生的所述X射線主束為具有特定頻率的X射線脈沖。

3.根據權利要求2所述的系統，其中，所述特定頻率在50Hz至250Hz的范圍內和/或所述X射線脈沖的脈寬約為5μs。

4.根據權利要求1所述的系統，其中，所述X射線發生器包括：

電子加速器，用于產生電子束；和

電子靶，所述電子束射向該電子靶，以產生所述X射線主束。

5.根據權利要求4所述的系統，其中，所述電子束為具有特定頻率的電子束脈沖，所述電子加速器以所述特定頻率產生該電子束脈沖，從而使得所述X射線主束為具有所述特定頻率的X射線脈沖。

6.根據權利要求4所述的系統，其中，所述電子加速器產生的所述電子束的能量在1MeV～15MeV。

7.根據權利要求6所述的系統，其中，所述電子加速器產生的所述電子束的能量至少為1.67MeV。

8.根據權利要求1所述的系統，其中，所述光中子轉換靶的材料為鈹或重水。

9.根據權利要求1所述的系統，其中，所述光中子轉換靶具有長型本體，該本體具有第一端部和第二端部，所述第二X射線束進入所述本體內部，并沿著從第一端部至第二端部的方向傳播。

10.根據權利要求9所述的系統，其中，所述光中子轉換靶的本體的形狀設計成與所述X射線發生器產生的所述X射線主束的強度分布基本上相匹配，使得強度大的X射線能在光中子轉換靶的本體內傳播更遠的距離。

11.根據權利要求10所述的系統，其中，所述X射線主束的強度分布為軸對稱分布，其限定了一強度分布對稱軸線；

所述光中子轉換靶的所述本體的形狀構造成關于一靶對稱軸線成軸對稱；

在使用時，所述靶對稱軸線與所述強度分布對稱軸線重合。

12.根據權利要求9～11中任意一項所述的系統，其中，所述本體的至少一部分為漸縮部分，該漸縮部分朝著所述第二端部漸縮。

13.根據權利要求12所述的系統，其中，所述漸縮部分終止于所述第二端部。

14.根據權利要求13所述的系統，其中，所述漸縮部分為錐形或截頭錐形。

15.根據權利要求12所述的系統，其中，所述本體還包括圓柱體部分，所述漸縮部分鄰近所述第二端部，所述圓柱體部分鄰近所述第一端部。

16.根據權利要求1所述的系統，還包括分束器，用于從所述X射線主束中分出所述第一X射線束和所述第二X射線束。

17.根據權利要求16所述的系統，其中，所述分束器為雙通道分流準直器。

18.根據權利要求9-11中任意一項所述的系統，還包括分束器，用于從所述X射線主束中分出所述第一X射線束和所述第二X射線束，

其中，所述分束器由貫穿所述光中子轉換靶的所述本體的通道形成，該通道從所述本體的第一端部延伸至第二端部，

其中，所述X射線主束被引導至所述X光中子轉換靶，經由所述通道穿過該光中子轉換靶的一部分X射線束被限定為所述第一X射線束，進入所述光中子轉換靶的本體內的另一部分X射線束被限定為所述第二X射線束。