[發(fā)明專利]TFT-LCD陣列基板及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200810241197.2 | 申請(qǐng)日: | 2008-12-26 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101770121A | 公開(kāi)(公告)日: | 2010-07-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉翔 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京京東方光電科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G02F1/1362 | 分類號(hào): | G02F1/1362;H01L27/12;H01L21/84 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205 | 代理人: | 劉芳 |
| 地址: | 100176北京*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | tft lcd 陣列 及其 制造 方法 | ||
1.一種TFT-LCD陣列基板制造方法,其特征在于,包括:
步驟1、在基板上沉積一層?xùn)沤饘俦∧ぃㄟ^(guò)第一次構(gòu)圖工藝形成柵電 極和柵線的圖形;
步驟2、在完成步驟1的基板上沉積柵絕緣薄膜、半導(dǎo)體薄膜和阻擋薄 膜,通過(guò)第二次構(gòu)圖工藝形成半導(dǎo)體層和阻擋層的圖形,該阻擋層用于阻止 半導(dǎo)體層被刻蝕;
步驟3、在完成步驟2的基板上沉積歐姆接觸薄膜、透明導(dǎo)電薄膜、源 漏金屬薄膜和鈍化薄膜,通過(guò)第三次構(gòu)圖工藝形成源電極、漏電極、TFT溝 道、數(shù)據(jù)線、像素電極和鈍化層的圖形;
所述步驟2具體包括:
步驟21、在完成步驟1的基板上連續(xù)沉積柵絕緣薄膜、半導(dǎo)體薄膜和阻擋薄膜;
步驟22、在完成步驟21的基板上涂敷一層光刻膠;
步驟23、采用半色調(diào)或灰色調(diào)掩模板形成完全保留光刻膠區(qū)域、部分保 留光刻膠區(qū)域和無(wú)光刻膠區(qū)域;所述完全保留光刻膠區(qū)域?qū)?yīng)于形成阻擋層 的圖形的區(qū)域,所述無(wú)光刻膠區(qū)域?qū)?yīng)于基板上形成所述半導(dǎo)體層的圖形的 區(qū)域之外的區(qū)域;所述部分保留光刻膠區(qū)域?qū)?yīng)于除形成阻擋層的圖形的區(qū) 域和形成所述半導(dǎo)體層的圖形的區(qū)域之外的區(qū)域;
步驟24、刻蝕無(wú)光刻膠區(qū)域的阻擋薄膜和半導(dǎo)體薄膜,形成半導(dǎo)體層的 圖形;
步驟25、對(duì)經(jīng)過(guò)步驟24之后的剩余光刻膠進(jìn)行灰化處理,去除所述部 分保留光刻膠區(qū)域的光刻膠;
步驟26、刻蝕掉暴露出來(lái)的阻擋薄膜,露出半導(dǎo)體層,形成阻擋層的圖 形;
步驟27、剝離剩余的光刻膠;
所述步驟3包括:
步驟31、在完成步驟2的基板上沉積歐姆接觸薄膜、透明導(dǎo)電薄膜、源 漏金屬薄膜和鈍化薄膜;
步驟32、在完成步驟31的基板上涂敷一層光刻膠;
步驟33、采用半色調(diào)或灰色調(diào)掩模板形成完全保留光刻膠區(qū)域、部分保 留光刻膠區(qū)域和無(wú)光刻膠區(qū)域;完全保留光刻膠區(qū)域?qū)?yīng)于形成源電極、漏 電極和數(shù)據(jù)線的圖形的區(qū)域,部分保留光刻膠區(qū)域?qū)?yīng)于形成像素電極的圖 形的區(qū)域,無(wú)光刻膠區(qū)域?qū)?yīng)于形成除形成源電極、漏電極和數(shù)據(jù)線的圖形 的區(qū)域,和形成像素電極的圖形的區(qū)域之外的區(qū)域;
步驟34、刻蝕無(wú)光刻膠區(qū)域的鈍化薄膜、源漏金屬薄膜、透明導(dǎo)電薄膜 和歐姆接觸薄膜,形成數(shù)據(jù)線和TFT溝道的圖形;
步驟35、對(duì)經(jīng)過(guò)步驟34之后的剩余光刻膠進(jìn)行灰化處理,去除所述部 分保留光刻膠區(qū)域的光刻膠;
步驟36、刻蝕暴露出來(lái)的鈍化薄膜和源漏金屬薄膜,露出透明導(dǎo)電薄膜, 形成像素電極和漏電極的圖形;
步驟37、剝離剩余的光刻膠。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的TFT-LCD陣列基板制造方法,其特征在于,所 述阻擋層的面積小于所述半導(dǎo)體層的面積。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的TFT-LCD陣列基板制造方法,其特征在于,所 述阻擋層的厚度為100-300nm。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的TFT-LCD陣列基板制造方法,其特征在于,所 述半導(dǎo)體層的厚度為40-100nm。
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G02F 用于控制光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào),上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過(guò)改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來(lái)修改的;用于上述操作的技術(shù)或工藝;變頻;非線性光學(xué);光學(xué)
G02F1-00 控制來(lái)自獨(dú)立光源的光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學(xué)
G02F1-01 .對(duì)強(qiáng)度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中的





