[發明專利]一種電容檢測裝置及方法有效
| 申請號: | 200810240741.1 | 申請日: | 2008-12-24 |
| 公開(公告)號: | CN101477152A | 公開(公告)日: | 2009-07-08 |
| 發明(設計)人: | 甄志芳;李志謙 | 申請(專利權)人: | 北京希格瑪和芯微電子技術有限公司 |
| 主分類號: | G01R27/26 | 分類號: | G01R27/26;G06F3/044 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100098北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電容 檢測 裝置 方法 | ||
1.一種電容檢測裝置,包括:
電源、被測電容、第一開關、第二開關、邏輯與門、積分電容、比較器、以及模數轉換器,其中:
所述電源連接至第一開關,用于通過第一開關實現對被測電容周期性的充電;
所述被測電容通過第二開關與積分電容連接;
所述比較器連接被測電容,用于比較被測電容上的電壓與參考電壓,輸出比較信號;
所述邏輯與門輸入端連接所述比較器輸出信號以及第二周期性時鐘信號;
所述第二開關受所述邏輯與門的輸出信號控制;
所述模數轉換器連接積分電容,用于將積分電容的電壓轉換成相應的數字量。
2.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述第一開關將電源和被測電容連接起來,并受第一周期性時鐘信號控制,實現閉合與斷開。
3.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述比較器輸出信號以及第二周期性時鐘信號連接至所述邏輯與門,所述邏輯與門的輸出信號控制所述第二開關的斷開與閉合,從而實現積分電容與被測電容的斷開與連接。
4.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述第二開關受比較器輸出信號和第二周期性時鐘信號的共同控制。
5.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,當第二開關閉合時,第一開關是斷開的,此時,被測電容向積分電容轉移電荷。
6.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,當第一開關閉合時,第二開關是斷開的,此時,被測電容被充電至電源電壓。
7.一種利用權利要求1所述電容檢測裝置進行電荷檢測的方法,包括:
步驟1,被測電容被電源充電至電源電壓;
步驟2,比較器比較被測電容上的電壓與參考電壓的大小,并輸出比較值;
步驟3,根據所述比較器輸出信號與第二周期性時鐘信號的邏輯關系,第二開關實現斷開與閉合;
步驟4,當第二開關閉合、第一開關斷開時,被測電容向積分電容轉移電荷;
步驟5,計算積分電容上的電壓;
步驟6,根據積分電容上的電壓計算被測電容的電容值。
8.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,在步驟1中,被測電容分別與第一開關和第二開關連接,第一開關受第一周期性時鐘信號控制,當第一開關閉合并且第二開關斷開時,被測電容被充電至電源電壓。
9.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,所述比較器輸出信號以及第二周期性時鐘信號連接至一個邏輯與門,所述邏輯與門的輸出信號控制所述第二開關的斷開與閉合。
10.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,所述第二開關受比較器輸出信號和第二周期性時鐘信號的共同控制。
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