[發(fā)明專(zhuān)利]電鍍方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200810227176.5 | 申請(qǐng)日: | 2008-11-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101736375A | 公開(kāi)(公告)日: | 2010-06-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 聶佳相;康蕓;楊瑞鵬 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中芯國(guó)際集成電路制造(北京)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | C25D7/12 | 分類(lèi)號(hào): | C25D7/12;H01L21/445 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 李麗 |
| 地址: | 100176 北京*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電鍍 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體制造技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種電鍍方法。
背景技術(shù)
傳統(tǒng)工藝中,通常應(yīng)用電鍍工藝形成器件與外部電路間的互連金屬層 (如銅)。利用傳統(tǒng)工藝執(zhí)行電鍍操作的步驟包括,步驟11:如圖1所示, 確定電鍍層厚度并提供基底10,所述基底10表面形成有晶種層20;步驟 12:如圖2所示,在所述晶種層20上形成電鍍層30。
為改善后續(xù)化學(xué)機(jī)械研磨(CMP)及晶片可接受性測(cè)試(WAT)和可靠 性測(cè)試的效果,通常,在形成電鍍層30后,需執(zhí)行退火操作。作為示例, 執(zhí)行所述退火操作的工藝條件包括:退火溫度為200攝氏度,退火持續(xù)時(shí) 間為90秒。
然而,實(shí)際生產(chǎn)發(fā)現(xiàn),如圖3、圖4所示,經(jīng)歷上述退火操作后,在形 成的互連金屬層(電鍍層30)中,易存在孔洞(void)32,對(duì)于較厚(如, 厚度超過(guò)3微米)的互連金屬層,尤其嚴(yán)重。如何減少所述孔洞的產(chǎn)生, 成為本領(lǐng)域技術(shù)人員致力解決的主要問(wèn)題。
為減少所述孔洞的產(chǎn)生,業(yè)內(nèi)已進(jìn)行了諸多嘗試,如2007年2月7日公 布的公開(kāi)號(hào)為“CN1909206A”的中國(guó)專(zhuān)利申請(qǐng)中提供了一種半導(dǎo)體元件 中內(nèi)連線結(jié)構(gòu)的制造方法,通過(guò)在內(nèi)連線結(jié)構(gòu)中具有一或多個(gè)應(yīng)力釋放 層,以抵消導(dǎo)電材料所引起的應(yīng)力并有助于防止或減少產(chǎn)生拉回孔洞。 以及,2008年1月30日公布的公開(kāi)號(hào)為“CN101114607A”的中國(guó)專(zhuān)利申 請(qǐng)中提供了一種能避免銅雙鑲嵌結(jié)構(gòu)在平坦化工藝時(shí)產(chǎn)生缺陷的方法, 通過(guò)在完成銅導(dǎo)線層沉積后,利用一等離子體對(duì)銅導(dǎo)線層進(jìn)行表面前處 理,再進(jìn)行退火工藝,使經(jīng)退火工藝后的銅導(dǎo)線層應(yīng)力傾向?yàn)閴嚎s應(yīng)力, 以避免通常銅導(dǎo)線層因自身的張應(yīng)力導(dǎo)致在平坦化工藝可能產(chǎn)生的形態(tài) 缺陷。
但是,應(yīng)用上述方法減少所述孔洞的產(chǎn)生時(shí),均需要在原有工藝中附 加新技術(shù),具體地,對(duì)于前者,需要摸索所述應(yīng)力釋放層的形成工藝, 以及,所述形成工藝與現(xiàn)行工藝的整合程度;而對(duì)于后者,需要摸索所 述表面前處理的具體操作,均需投入巨大的研發(fā)成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種電鍍方法,可在形成的電鍍層中具有較少的孔 洞。
本發(fā)明提供的一種電鍍方法,包括:
確定電鍍層厚度并提供基底,所述基底表面形成有晶種層;
在所述晶種層上順序執(zhí)行形成至少兩層電鍍分層的操作及置于各形 成所述電鍍分層的操作之后的退火操作,各所述電鍍分層的厚度和等于 所述電鍍層厚度。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,上述技術(shù)方案具有以下優(yōu)點(diǎn):
上述技術(shù)方案提供的電鍍方法,通過(guò)將形成所述電鍍層的步驟分解為 形成至少兩層所述電鍍分層的步驟,并在形成所述電鍍分層的操作之后 執(zhí)行退火操作,可使經(jīng)歷所述退火操作而在各所述電鍍分層中增加的應(yīng) 力在形成各所述電鍍分層的步驟間隔內(nèi)被分步釋放,可通過(guò)減少所述電 鍍層的應(yīng)力,使所述電鍍層具有較少的孔洞;此外,通過(guò)減小連續(xù)形成 的電鍍層(即,各電鍍分層)的厚度,可在經(jīng)由退火操作后,所述電鍍 分層具有的孔洞更易于到達(dá)各電鍍分層表面,從而使所述孔洞有更大的 可能被后續(xù)的電鍍分層材料填充,以進(jìn)一步減少所述孔洞的產(chǎn)生。
附圖說(shuō)明
圖1-圖2為說(shuō)明現(xiàn)有技術(shù)中電鍍操作流程的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3為說(shuō)明現(xiàn)有技術(shù)中存在孔洞的電鍍層的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4為說(shuō)明現(xiàn)有技術(shù)中存在孔洞的電鍍層的結(jié)構(gòu)圖片;
圖5為說(shuō)明本發(fā)明第一實(shí)施例的執(zhí)行電鍍操作的流程示意圖;
圖6-圖7為說(shuō)明本發(fā)明第一實(shí)施例的電鍍操作流程的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖8為說(shuō)明應(yīng)用本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例和應(yīng)用現(xiàn)有技術(shù)后應(yīng)力改善效果 對(duì)比示意圖;
圖9為說(shuō)明應(yīng)用本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例獲得的電鍍層的結(jié)構(gòu)圖片;
圖10為說(shuō)明應(yīng)用本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例和應(yīng)用現(xiàn)有技術(shù)后電性效果對(duì) 比示意圖。
具體實(shí)施方式
盡管下面將參照附圖對(duì)本發(fā)明進(jìn)行更詳細(xì)的描述,其中表示了本發(fā) 明的優(yōu)選實(shí)施例,應(yīng)當(dāng)理解本領(lǐng)域技術(shù)人員可以修改在此描述的本發(fā)明 而仍然實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的有利效果。因此,下列的描述應(yīng)當(dāng)被理解為對(duì)于本 領(lǐng)域技術(shù)人員的廣泛教導(dǎo),而并不作為對(duì)本發(fā)明的限制。
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