[發(fā)明專利]一種確定輻射安全裕度考查頻點(diǎn)的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200810224302.1
• 申請(qǐng)日: 2008-10-16
• 公開（公告）號(hào): CN101373201A
• 公開（公告）日: 2009-02-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蘇東林;戴飛;宋振飛;謝樹果;史德民;高萬(wàn)峰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京航空航天大學(xué)
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00
• 代理公司: 北京永創(chuàng)新實(shí)專利事務(wù)所
• 代理人: 周長(zhǎng)琪

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種根據(jù)被試品自身輻射發(fā)射與背景環(huán)境電平，通過(guò)比較與插值來(lái)確定輻射安全裕度考查頻點(diǎn)的方法，適用于電磁兼容輻射安全裕度測(cè)試。

背景技術(shù)

根據(jù)GJB1389A-2005《系統(tǒng)電磁兼容性要求》規(guī)定，安全裕度是指敏感度門限與環(huán)境中的實(shí)際干擾信號(hào)電平之間的相對(duì)數(shù)值之差，用dB表示。應(yīng)根據(jù)系統(tǒng)工作性能的要求、系統(tǒng)硬件的不一致性以及驗(yàn)證系統(tǒng)設(shè)計(jì)要求時(shí)的不確定因素，確定安全裕度。安全裕度測(cè)試是系統(tǒng)級(jí)電磁兼容測(cè)試中的一個(gè)重要組成部分。

安全裕度測(cè)試包括輻射安全裕度和傳導(dǎo)安全裕度。

輻射安全裕度測(cè)試一般分兩個(gè)步驟：第一步，測(cè)試設(shè)備正常工作狀態(tài)下，按照測(cè)試距離要求使用接收天線測(cè)量被試品自身輻射發(fā)射(參見圖1所示)；第二步，通過(guò)輻射天線對(duì)被試品施加輻射場(chǎng)強(qiáng)干擾(參見圖2所示)，要求在同一位置同一頻點(diǎn)測(cè)得的輻射電場(chǎng)強(qiáng)度比被試品自身輻射發(fā)射強(qiáng)度高出規(guī)定的安全裕度值，此時(shí)被試品未出現(xiàn)敏感現(xiàn)象，則說(shuō)明被試品在該頻點(diǎn)滿足規(guī)定的安全裕度要求，否則稱被試品在該頻點(diǎn)不滿足規(guī)定的安全裕度要求。

在輻射安全裕度測(cè)試中，考查頻點(diǎn)的選擇是一個(gè)關(guān)鍵問(wèn)題。現(xiàn)有的相關(guān)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)沒有對(duì)測(cè)試頻點(diǎn)做嚴(yán)格的規(guī)定，這給電磁兼容安全裕度測(cè)試的實(shí)施帶來(lái)了一定的困難，如果按照輻射發(fā)射測(cè)試中的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的頻率步進(jìn)測(cè)試，測(cè)試結(jié)果正確，但是由于頻點(diǎn)非常多導(dǎo)致整個(gè)測(cè)試時(shí)間的加長(zhǎng)，這一方面使得測(cè)試效率低下，也對(duì)功放等測(cè)試設(shè)備提出了要求；如果任意選擇若干頻點(diǎn)測(cè)試，可能會(huì)漏測(cè)許多關(guān)鍵頻點(diǎn)，而且如果在沒有測(cè)試到的頻點(diǎn)正好不滿足安全裕度的指標(biāo)，測(cè)試的正確性和完整性就難以保證。如何合理選取測(cè)試頻點(diǎn)，提高測(cè)試效率成為安全裕度測(cè)試的一個(gè)難點(diǎn)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提出一種根據(jù)被試品自身輻射發(fā)射與背景環(huán)境電平，通過(guò)比較與插值來(lái)確定輻射安全裕度考查頻點(diǎn)的方法。

本發(fā)明的確定輻射安全裕度考查頻點(diǎn)的方法，其輻射安全裕度考查頻點(diǎn)獲取的步驟如下：

步驟101：被試品處于未工作狀態(tài)下，獲取背景環(huán)境電平N_輻射(f，u_0-E)；

對(duì)于輻射安全裕度，使用接收天線測(cè)量被試品所在測(cè)試區(qū)域的背景環(huán)境電平N_輻射(f，u_0-E)，測(cè)試頻點(diǎn)數(shù)為n；f表示測(cè)試頻率，單位為Hz；u_0-E表示背景環(huán)境電平電場(chǎng)強(qiáng)度，單位為dBμV/m；

步驟102：被試品處于工作狀態(tài)下，獲取被試品自身輻射發(fā)射E_輻射(f，u_1-E)；

對(duì)于輻射安全裕度，按照測(cè)試距離要求使用接收天線測(cè)量被試品自身輻射發(fā)射E_輻射(f，u_1-E)，測(cè)試頻率和測(cè)試頻點(diǎn)數(shù)與步驟101相同；u_1-E表示在輻射安全裕度測(cè)試中的被試品自身輻射發(fā)射強(qiáng)度，單位為dBμV/m；

步驟103：獲取差值Δ_E

依據(jù)步驟102中獲得的u_1-E與步驟101中獲得的u_0-E進(jìn)行差值比較，得到輻射安全裕度測(cè)試中差值Δ_E；該Δ_E是被試品自身輻射發(fā)射強(qiáng)度高出背景環(huán)境電平的值；

步驟104：篩選考查頻點(diǎn)f₁

根據(jù)設(shè)定的閾值α、以及步驟103中的Δ_E采用峰值檢波方式進(jìn)行篩選考查頻點(diǎn)f₁；該f₁是從f中篩選的Δ_E高于α對(duì)應(yīng)的峰值頻點(diǎn)；f₁中的頻率點(diǎn)數(shù)為m，且m≤n；

步驟105：計(jì)算插值頻點(diǎn)f₂

利用步驟101中的n、步驟104中的m、縮比率β、步驟101中的測(cè)試頻率f計(jì)算插值頻點(diǎn)f₂；其中計(jì)算步驟為：

步驟151：計(jì)算步驟101中的n和步驟104中的m的比值r＝n/m，并取比值r的整數(shù)部分[r]；

步驟152：比較獲得r的整數(shù)部分[r]與縮比率β之間的相對(duì)較小值min([r]，β)；

步驟153：依據(jù)min([r]，β)對(duì)f進(jìn)行間隔選取得到插值頻點(diǎn)f₂，頻點(diǎn)間隔數(shù)為min([r]，β)；

步驟106：對(duì)步驟104中的f₁與步驟105中的f₂進(jìn)行并集處理，得到初選頻點(diǎn)f₃；