[發明專利]光拾波透鏡無效
| 申請號: | 200810215171.0 | 申請日: | 2008-09-10 |
| 公開(公告)號: | CN101419332A | 公開(公告)日: | 2009-04-29 |
| 發明(設計)人: | 伊藤充 | 申請(專利權)人: | 日立麥克賽爾株式會社 |
| 主分類號: | G02B13/24 | 分類號: | G02B13/24;G11B7/135;G02B1/10 |
| 代理公司: | 北京銀龍知識產權代理有限公司 | 代理人: | 張敬強 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光拾波 透鏡 | ||
1.一種光拾波透鏡,具有使記錄、再生用的激光會聚在光盤上的第一面, 以及設置于上述第一面的外側,并反射被照射的透鏡傾斜檢測用的激光的第二 面,其特征在于,
上述第二面是相對該光拾波透鏡的透鏡軸大致垂直的邊緣面;
使上述記錄、再生用的激光通過的反射防止膜連續地形成在上述第一面和 第二面,至少上述第二面的全體覆蓋有上述反射防止膜,
在將使上述透鏡傾斜檢測用的激光均勻地反射的面的半徑設為R,將反射 防止膜的最外周的半徑設為R+R1時,滿足下式:
R/(R+R1)×100<98。
2.根據權利要求1所述的光拾波透鏡,其特征在于,
上述第一面以及第二面是與射出上述記錄、再生用激光的激光光源裝置一 側相反一側的面。
3.根據權利要求1所述的光拾波透鏡,其特征在于,
上述第二面是射出透鏡傾斜檢測用的激光的激光光源裝置側的面。
4.根據權利要求1所述的光拾波透鏡,其特征在于,
上述透鏡傾斜檢測用的激光的波長λ2與上述記錄、再生用的激光的波長 λ1不同。
5.根據權利要求4所述的光拾波透鏡,其特征在于,
上述波長λ1nm和上述波長λ2nm滿足λ2-λ1≥20nm。
6.根據權利要求1所述的光拾波透鏡,其特征在于,
上述第二面進行了鏡面加工。
7.根據權利要求1所述的光拾波透鏡,其特征在于,
在射出上述記錄、再生用的激光的激光光源裝置側的透鏡面和其外側的面 設置反射防止膜。
8.根據權利要求7所述的光拾波透鏡,其特征在于,
透鏡傾斜檢測用的激光穿透設置在射出上述記錄、再生用的激光的激光光 源裝置側的透鏡面和其外側的面上的反射防止膜的穿透率,比穿透設置在上述 光盤一側的透鏡面和其外側的面上的反射防止膜的穿透率高。
9.一種光拾波裝置,其特征在于,
具備:根據權利要求1~8中任一項所述的光拾波透鏡;射出上述透鏡傾 斜檢測用的激光的激光光源裝置;以及檢測從上述激光光源射出來的激光照射 在上述光拾波透鏡的一部分上并被反射后的反射光,并檢測透鏡傾斜量的單 元。
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