[發(fā)明專利]微機(jī)電激光掃描裝置的單片式fθ鏡片有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200810095516.3 | 申請日: | 2008-04-23 |
| 公開(公告)號: | CN101566725A | 公開(公告)日: | 2009-10-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 施柏源 | 申請(專利權(quán))人: | 一品光學(xué)工業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號: | G02B26/10 | 分類號: | G02B26/10;B41J2/47 |
| 代理公司: | 北京中原華和知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 壽 寧;張華輝 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微機(jī) 激光 掃描 裝置 單片 鏡片 | ||
1.一種微機(jī)電激光掃描裝置的單片式fθ鏡片,適用于微機(jī)電激光掃描裝置,所述微機(jī)電激光掃描裝置至少包含一用以發(fā)射光束的光源、以共振左右擺動將光源發(fā)射的光束反射成為掃描光線的微機(jī)電反射鏡、及一用以感光的目標(biāo)物;其特征在于所述的單片式fθ鏡片由一新月形且凹面在微機(jī)電反射鏡側(cè)的鏡片所構(gòu)成,所述鏡片具有一第一光學(xué)面及一第二光學(xué)面,可將所述微機(jī)電反射鏡反射的角度與時間非線性關(guān)系的掃描光線光點(diǎn)轉(zhuǎn)換成距離與時間為線性關(guān)系的掃描光線光點(diǎn),并可將掃描光線修正聚光于所述目標(biāo)物上;藉由所述單片式fθ鏡片將所述微機(jī)電反射鏡反射的掃描光線在一主掃描方向及一副掃描方向於所述目標(biāo)物上成像;
所述的主掃描方向進(jìn)一步滿足下列條件:
其中,fY為所述單片式fθ鏡片在所述主掃描方向的焦距,d3為θ=0°鏡片目標(biāo)物側(cè)光學(xué)面至所述目標(biāo)物的距離。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微機(jī)電激光掃描裝置的單片式fθ鏡片,其特征在于所述的主掃描方向及所述的副掃描方向進(jìn)一步滿足下列條件:
在所述主掃描方向滿足:
且在所述副掃描方向滿足:
其中,fY為所述單片式fθ鏡片在所述主掃描方向的焦距,fs為所述單片式fθ鏡片的焦距,Rix第i光學(xué)面在X方向的曲率半徑;nd為所述單片式fθ鏡片的折射率。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微機(jī)電激光掃描裝置的單片式fθ鏡片,其特征在于所述目標(biāo)物上最大光點(diǎn)與最小光點(diǎn)大小的比值滿足:
其中,Sa與Sb為所述目標(biāo)物上掃瞄光線形成的任一個光點(diǎn)在所述主掃描方向及所述副掃描方向的長度,δ為所述目標(biāo)物上最小光點(diǎn)與最大光點(diǎn)?的比值。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微機(jī)電激光掃描裝置的單片式fθ鏡片,其特征在于所述的目標(biāo)物上最大光點(diǎn)的比值與在所述目標(biāo)物上最小光點(diǎn)的比值分別滿足:
其中,Sa0與Sb0為所述微機(jī)電反射鏡反射面上掃瞄光線的光點(diǎn)在所述主掃描方向及所述副掃描方向的長度,Sa與Sb為所述目標(biāo)物上掃瞄光線形成的任一個光點(diǎn)在所述主掃描方向及所述副掃描方向的長度,ηmax為所述微機(jī)電反射鏡反射面上掃瞄光線的光點(diǎn)經(jīng)掃描在所述目標(biāo)物上最大光點(diǎn)的比值,ηmin為所述微機(jī)電反射鏡反射面上掃瞄光線的光點(diǎn)經(jīng)掃描在所述目標(biāo)物上最小光點(diǎn)的比值。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一權(quán)利要求所述的微機(jī)電激光掃描裝置的單片式fθ鏡片,其特征在于所述的目標(biāo)物為一感光鼓。?
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