[發(fā)明專利]在微波產(chǎn)品機(jī)內(nèi)電路設(shè)置連接器實(shí)現(xiàn)其可測試性的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200810094291.X | 申請(qǐng)日: | 2008-04-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101299056A | 公開(公告)日: | 2008-11-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃金亮 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 黃金亮 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京英特普羅知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 孫麗芳 |
| 地址: | 518000廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微波 產(chǎn)品 電路 設(shè)置 連接器 實(shí)現(xiàn) 測試 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種測試機(jī)內(nèi)電路的方法,尤其是一種測試微波產(chǎn)品機(jī)內(nèi)電路的方法。
背景技術(shù)
微波產(chǎn)品具有非常復(fù)雜的微波電路系統(tǒng),作為微波電路工程師,在設(shè)計(jì)電路中必須十分小心,以解決數(shù)模電路、電磁兼容方面的問題。如何調(diào)試復(fù)雜的微波電路系統(tǒng),對(duì)微波工程師是比較困難的工作。如圖1所示,電路系統(tǒng)中包括功能電路1和連接各功能電路,如功能電路11、功能電路12和功能電路13的微波傳輸線4,一旦某一指標(biāo)不合格或者要對(duì)系統(tǒng)中的某一功能電路,如功能電路12進(jìn)行測試,微波工程師只能將連接功能電路12輸入與輸出端的微波傳輸線4在其41處與42處斷開,以隔離功能電路12,再將功能電路12的前后各焊接一根電纜31進(jìn)行測試。這種方法破壞了原有電路系統(tǒng),只適于在實(shí)驗(yàn)室調(diào)試樣機(jī)時(shí)采用,而不適于在產(chǎn)品的生產(chǎn)制造和維護(hù)時(shí)采用。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是針對(duì)現(xiàn)有微波產(chǎn)品在進(jìn)行測試時(shí)存在的破壞原有電路系統(tǒng)的缺點(diǎn),提供一種測試時(shí)不會(huì)破壞原有電路的測試方法。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:
一種在微波產(chǎn)品機(jī)內(nèi)電路設(shè)置連接器實(shí)現(xiàn)其可測試性的方法,機(jī)內(nèi)各功能電路彼此之間相互連接,形成微波電路系統(tǒng);每相鄰兩個(gè)功能電路之間彼此反向地接入兩個(gè)高頻信號(hào)連接器,分別為第一連接器和第二連接器;其中,第一連接器的第一金屬彈片與前一功能電路的信號(hào)輸出端連接,第一連接器的第二金屬彈片與第二連接器的第二金屬彈片連接;第二連接器的第一金屬彈片與后一功能電路的信號(hào)輸入端連接;而后一功能電路的信號(hào)輸出端與另一第一連接器的第一金屬彈片連接;
當(dāng)對(duì)一功能電路進(jìn)行測試時(shí),將兩根測試電纜的測試探頭分別插入此功能電路兩端的第一連接器與第二連接器內(nèi),兩個(gè)測試探頭分別與第一連接器的第一金屬彈片和第二連接器的第一金屬彈片接觸,并下壓與各自相接觸的第一金屬彈片,使第一連接器的第一金屬彈片和第二連接器的第一金屬彈片分別和與各自相對(duì)應(yīng)的第二金屬彈片分開,此時(shí),對(duì)此功能電路進(jìn)行單獨(dú)測試;
測試完成后,拔出兩根測試電纜的測試探頭,此時(shí)第一連接器和第二連接器的第一金屬彈片均將彈回原位而與各自相對(duì)應(yīng)的第二金屬彈片重新接觸,將此功能電路重新連接至微波電路系統(tǒng)中。
本發(fā)明的有益之處是:通過在各功能電路之間彼此反向地接入兩個(gè)高頻信號(hào)連接器,不僅可以使微波電路系統(tǒng)在非測試情況下正常工作,而且可以在需要對(duì)某個(gè)功能電路進(jìn)行測試時(shí),輕易的將該功能電路從微波電路系統(tǒng)中隔離,進(jìn)行測試,并可以通過簡單的操作恢復(fù)原微波電路系統(tǒng)的工作。
附圖說明
圖1為常規(guī)微波電路系統(tǒng)的測試方法示意圖;
圖2為接入高頻信號(hào)連接器的微波電路系統(tǒng)處于工作狀態(tài)的示意圖;
圖3為接入高頻信號(hào)連接器的微波電路系統(tǒng)處于測試時(shí)的示意圖。
具體實(shí)施方式
一種通過在機(jī)內(nèi)電路設(shè)置連接器實(shí)現(xiàn)其可測試性的方法,如圖2或者圖3所示,機(jī)內(nèi)微波電路系統(tǒng)包括各功能電路1,如功能電路11、功能電路12和功能電路13,各功能電路通過微波傳輸線4連接。
如圖2或者圖3所示,相鄰兩功能電路之間彼此反向地接入兩個(gè)高頻信號(hào)連接器2;連接器2包括第一金屬彈片21和第二金屬彈片22,如圖2所示,第二金屬彈片22和第一金屬彈片21接觸時(shí)導(dǎo)通高頻信號(hào);如圖3所示,第二金屬彈片22和第一金屬彈片21斷開時(shí)關(guān)斷RF信號(hào);其中,如圖2或者圖3所示,在功能電路11和功能電路12之間,兩個(gè)高頻信號(hào)連接器2的連接方式如下:
第一連接器2的第一金屬彈片21與功能電路11的信號(hào)輸出端連接;第一連接器2的第二金屬彈片22與第二連接器2的第二金屬彈片22連接;第二連接器2的第一金屬彈片21與功能電路12的信號(hào)輸入端連接;其它各功能電路之間的兩個(gè)連接器2的連接方式,如圖2或圖3中的功能電路12與功能電路13之間的兩個(gè)連接器2的連接方式與上述相同。
在本實(shí)施例中可以采用專利號(hào)為ZL?200720147786.5的高頻信號(hào)連接器,如圖2所示,常態(tài)時(shí),高頻信號(hào)連接器2的第一金屬彈片21和第二金屬彈片22接觸,高頻信號(hào)導(dǎo)通,機(jī)體可以正常工作。
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R31-00 電性能的測試裝置;電故障的探測裝置;以所進(jìn)行的測試在其他位置未提供為特征的電測試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測試;測試對(duì)象多點(diǎn)通過測試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測試
G01R31-08 .探測電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測試
- 數(shù)據(jù)速率設(shè)置裝置、設(shè)置方法、設(shè)置程序和信息記錄介質(zhì)
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