[發明專利]電子設備用測量夾具、其集合板以及使用了它們的測量裝置

無效

• 申請號: 200810090206.2
• 申請日: 2008-03-28
• 公開（公告）號: CN101275986A
• 公開（公告）日: 2008-10-01
• 發明（設計）人: 石川修
• 申請（專利權）人: TDK株式會社
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/073
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司
• 代理人: 黃劍鋒

1.一種測量夾具，其是包括柔性基板、多個端子和板厚減少部的電子設備用測量夾具，

上述多個端子隔開間隔設置在上述柔性基板的一個面上，上述板厚減少部設置在上述間隔內。

2.如權利要求1所述的測量夾具，上述板厚減少部至少在上述柔性基板的一個面和另一個面中的某一個面上具有開口部，從上述開口部向上述柔性基板的厚度方向凹陷成凹狀。

3.如權利要求2所述的測量夾具，上述板厚減少部為非貫通結構。

4.如權利要求2所述的測量夾具，上述板厚減少部為貫通結構。

5.如權利要求1所述的測量夾具，上述板厚減少部為孔或槽。

6.如權利要求2所述的測量夾具，上述板厚減少部為孔或槽。

7.一種集合板，具有多個測量夾具單元，

上述各測量夾具單元由權利要求1所述的測量夾具構成，共用上述柔性基板，并且能夠從上述柔性基板割離。

8.一種集合板，具有多個測量夾具單元，

上述各測量夾具單元由權利要求2所述的測量夾具構成，共用上述柔性基板，并且能夠從上述柔性基板割離。

9.如權利要求7所述的集合板，上述各測量夾具單元具有互不相同的端子排列。

10.如權利要求8所述的集合板，上述各測量夾具單元具有互不相同的端子排列。

11.一種測量裝置，包括測量基板和測量夾具，

上述測量基板在基板的一個面上具有導體，上述測量夾具為權利要求1所述的測量夾具，上述端子與上述導體電導通。

12.一種測量裝置，包括測量基板和測量夾具，

上述測量基板在基板的一個面上具有導體，上述測量夾具為權利要求2所述的測量夾具，上述端子與上述導體電導通。

13.如權利要求11所述的測量裝置，測量基板還包括多個導體和彈性體；上述多個導體隔開間隔地設置在上述測量基板的一個面上；上述彈性體在上述間隔內設置成向上述測量基板的厚度方向突出的凸狀。

14.如權利要求11所述的測量裝置，上述彈性體配置在上述測量基板的上述一個面上與上述柔性基板的上述板厚減少部相對應的部分上。

15.如權利要求11所述的測量裝置，上述彈性體為球狀體、棒狀體或環狀體中的任何一個。

16.如權利要求11所述的測量裝置，測量基板還包括彈性體設置部；上述彈性體設置部在上述測量基板的上述一個面上具有開口部，從上述開口部向測量基板的厚度方向凹陷成凹狀；上述彈性體配置在上述彈性體設置部的內部，從上述開口部向上述測量基板的厚度方向突出。

17.如權利要求13所述的測量裝置，測量基板還包括彈性體設置部；上述彈性體設置部在上述測量基板的上述一個面上具有開口部，從上述開口部向測量基板的厚度方向凹陷成凹狀；上述彈性體配置在上述彈性體設置部的內部，從上述開口部向上述測量基板的厚度方向突出。

18.如權利要求14所述的測量裝置，測量基板還包括彈性體設置部；上述彈性體設置部在上述測量基板的上述一個面上具有開口部，從上述開口部向測量基板的厚度方向凹陷成凹狀；上述彈性體配置在上述彈性體設置部的內部，從上述開口部向上述測量基板的厚度方向突出。

19.如權利要求15所述的測量裝置，測量基板還包括彈性體設置部；上述彈性體設置部在上述測量基板的上述一個面上具有開口部，從上述開口部向測量基板的厚度方向凹陷成凹狀；上述彈性體配置在上述彈性體設置部的內部，從上述開口部向上述測量基板的厚度方向突出。

20.如權利要求11～19中的任一項所述的測量裝置，還具有成為測量對象的電子設備；上述電子設備具有電極端子，上述電極端子經由上述測量夾具的端子與上述測量基板的上述導體電導通。