[發(fā)明專利]增加非揮發(fā)性存儲(chǔ)器除錯(cuò)能力的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200810083611.1 | 申請(qǐng)日: | 2008-03-12 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101533676A | 公開(kāi)(公告)日: | 2009-09-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳遠(yuǎn)寧;黃界樫;王長(zhǎng)鵬 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 凌陽(yáng)科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G11C29/42 | 分類號(hào): | G11C29/42;G11C16/06 |
| 代理公司: | 北京紀(jì)凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 沙 捷 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)灣新竹*** | 國(guó)省代碼: | 中國(guó)臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 增加 揮發(fā)性 存儲(chǔ)器 除錯(cuò) 能力 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種存儲(chǔ)媒體的除錯(cuò)技術(shù),且特別涉及一種增加非揮 發(fā)性存儲(chǔ)器除錯(cuò)能力的方法。
背景技術(shù)
隨著信息時(shí)代的來(lái)臨,人們經(jīng)常需要使用與處理身邊周遭的相關(guān) 信息。為了順應(yīng)這個(gè)趨勢(shì),在許多電子產(chǎn)品中,都需要配置一定容量 的存儲(chǔ)器,而其中一種可用于長(zhǎng)時(shí)間存儲(chǔ)者為非揮發(fā)性存儲(chǔ)器。
一般來(lái)說(shuō),存儲(chǔ)器是由許多的存儲(chǔ)胞(memory?cell)所建構(gòu)而成。 當(dāng)存儲(chǔ)器的容量越大,也就代表著存儲(chǔ)胞的數(shù)量越多,相對(duì)的存儲(chǔ)器 的成本也隨著增加。因此,為了縮小存儲(chǔ)器所需要的電路面積,于是 提出一種多層存儲(chǔ)胞與非門型閃存(multi?level?cell?NAND?flash? memory)。這種多層存儲(chǔ)胞與非門型閃存的特點(diǎn)是利用不同的電位來(lái)存 儲(chǔ)數(shù)據(jù),因此可以達(dá)到一個(gè)存儲(chǔ)胞存儲(chǔ)多個(gè)數(shù)據(jù)的目的,而借此大幅 節(jié)省電路面積。然而,這種多層存儲(chǔ)胞與非門型閃存的缺點(diǎn)為,經(jīng)過(guò) 多次的存取后,存儲(chǔ)胞所存儲(chǔ)的信息會(huì)被改變,而造成信息的漏失(data? loss)。
為了解決上述的信息漏失的問(wèn)題,通常在多層存儲(chǔ)胞與非門型閃 存上,都會(huì)存儲(chǔ)有除錯(cuò)碼(error?correction?code,ECC)以對(duì)多層存儲(chǔ)胞 與非門型閃存所存儲(chǔ)的信息做除錯(cuò)的動(dòng)作。而這種除錯(cuò)碼的產(chǎn)生有很 多種方法,其中最常被采用的方法為BCH(Bose,Ray-Chaudhuri, Hocquenghem)碼以及RS(Reed-Solomon)碼。
然而,不管使用何種方式來(lái)產(chǎn)生錯(cuò)誤檢查碼,錯(cuò)誤檢查碼的字節(jié) 數(shù)將會(huì)是決定除錯(cuò)能力的因素。以下請(qǐng)參照?qǐng)D1,圖1繪示現(xiàn)有的多層 存儲(chǔ)胞與非門型閃存的一個(gè)分頁(yè)的存儲(chǔ)器配置情形示意圖。分頁(yè) (page)100的存儲(chǔ)器容量為2112字節(jié),并且被區(qū)分為4個(gè)使用者數(shù) 據(jù)存儲(chǔ)區(qū)111~114、4個(gè)系統(tǒng)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)121~124,以及4個(gè)除錯(cuò)碼數(shù) 據(jù)存儲(chǔ)區(qū)131~134。其中,使用者數(shù)據(jù)區(qū)111~114皆為512字節(jié),系統(tǒng) 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)121~124皆為3字節(jié),而除錯(cuò)碼數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)131~134則皆 是13字節(jié)。在此分頁(yè)100中,由于所有的除錯(cuò)碼數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)131~134 皆是13字節(jié),若以BCH碼的方式來(lái)產(chǎn)生除錯(cuò)碼,此時(shí)可以除錯(cuò)的位 數(shù)僅為固定的32位。
發(fā)明內(nèi)容
為了在固定的存儲(chǔ)空間下,有效地增加非揮發(fā)性存儲(chǔ)器的除錯(cuò)能 力,本發(fā)明的增加非揮發(fā)性存儲(chǔ)器除錯(cuò)能力的方法,可藉由增加除錯(cuò) 碼數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)的存儲(chǔ)空間,以增加對(duì)非揮發(fā)性存儲(chǔ)器的除錯(cuò)能力。
本發(fā)明提出一種增加非揮發(fā)性存儲(chǔ)器除錯(cuò)能力的方法,其中非揮 發(fā)性存儲(chǔ)器具有多個(gè)分頁(yè),而每一分頁(yè)具有多個(gè)使用者數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)及 多個(gè)系統(tǒng)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)與多個(gè)除錯(cuò)碼數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū),每一使用者數(shù)據(jù)存儲(chǔ) 區(qū)分別與其各自相應(yīng)的一個(gè)系統(tǒng)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)及一個(gè)除錯(cuò)碼數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū) 相對(duì)應(yīng)。此方法包括下列步驟:首先,保留這些分頁(yè)中一第一分頁(yè)的 一第一系統(tǒng)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)的所有信息;接著,釋放所述第一分頁(yè)的一第 二系統(tǒng)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)中除了部分信息以外的存儲(chǔ)空間或所有的存儲(chǔ)空間 給其相應(yīng)的除錯(cuò)碼數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū),借以增加與第二系統(tǒng)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)相應(yīng) 的除錯(cuò)碼數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)的存儲(chǔ)空間。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,上述的第一系統(tǒng)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)至少存儲(chǔ) 著第一分頁(yè)所隸屬的第一區(qū)塊的邏輯地址(logic?address)對(duì)應(yīng)信息及 第一區(qū)塊是否為損壞區(qū)塊的信息。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,上述的第二系統(tǒng)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)所保留的該 部分信息為第一區(qū)塊是否為損壞區(qū)塊的信息。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,上述的第二系統(tǒng)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)所釋放的存 儲(chǔ)空間為存儲(chǔ)第一區(qū)塊的邏輯地址對(duì)應(yīng)信息所占用的存儲(chǔ)空間。
此外,在本發(fā)明的一實(shí)施例中,上述與第一系統(tǒng)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)相應(yīng) 的除錯(cuò)碼數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)以及與第二系統(tǒng)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)相應(yīng)的除錯(cuò)碼數(shù)據(jù)存 儲(chǔ)區(qū)分別可包含各種錯(cuò)誤更正碼,較佳地包含BCH錯(cuò)誤更正碼或RS 錯(cuò)誤更正碼。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,上述的非揮發(fā)性存儲(chǔ)器為多層存儲(chǔ)胞與 非門型閃存(multi?level?cell?NAND?flash?memory)。
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G11C 靜態(tài)存儲(chǔ)器
G11C29-00 存儲(chǔ)器正確運(yùn)行的校驗(yàn);備用或離線操作期間測(cè)試存儲(chǔ)器
G11C29-02 .損壞的備用電路的檢測(cè)或定位,例如,損壞的刷新計(jì)數(shù)器
G11C29-04 .損壞存儲(chǔ)元件的檢測(cè)或定位
G11C29-52 .存儲(chǔ)器內(nèi)量保護(hù);存儲(chǔ)器內(nèi)量中的錯(cuò)誤檢測(cè)
G11C29-54 .設(shè)計(jì)檢測(cè)電路的裝置,例如,可測(cè)試性設(shè)計(jì)
G11C29-56 .用于靜態(tài)存儲(chǔ)器的外部測(cè)試裝置,例如,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
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